显示设备制造技术

本发明专利技术涉及一种显示设备。所述显示设备包括：包括被电连接到反馈线的像素的显示面板；被电连接到反馈线的感测器，感测器被配置为响应于第一控制信号而测量像素的阻抗并响应于第二控制信号而测量流经像素的驱动电流；以及被配置为基于显示面板的老化时间选择性地产生第一控制信号和第二控制信号的时序控制器。

【技术实现步骤摘要】
显示设备
本专利技术构思的方面涉及显示设备。
技术介绍
有机发光显示设备使用有机发光二极管显示图像。有机发光二极管和/或将电流传送到有机发光二极管的驱动晶体管可能随着有机发光二极管和/或驱动晶体管操作而劣化。有机发光显示设备可能由于有机发光二极管的劣化和/或驱动晶体管的劣化(这种劣化也被称为“像素劣化”)而无法显示具有期望亮度的图像。常规的有机发光显示设备向像素提供基准电压，响应于基准电压而测量流经像素中的每个的电流(或驱动电流)，并且基于电流的变化计算像素劣化量。然而，电流的变化特性在被施加到像素的压力相对低的初始状态下(例如，显示设备的老化时间在几百小时内)不稳定。也就是说，像素劣化的量或程度不与电流的变化成线性关系，因此，常规的有机发光显示设备可能无法基于电流的变化精确地计算像素劣化的量。因此，可能不准确地补偿像素劣化。
技术实现思路
本专利技术构思的实施例的方面涉及一种显示设备，其能够在被施加到显示设备的压力相对低的初始状态下精确地补偿像素劣化。本专利技术构思的实施例的方面涉及一种由显示设备执行的补偿劣化的方法。根据本专利技术构思的示例实施例，提供了一种显示设备，包括：包括被电连本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示设备，包括：包括被电连接到反馈线的像素的显示面板；被电连接到所述反馈线的感测器，所述感测器被配置为响应于第一控制信号而测量所述像素的阻抗并响应于第二控制信号而测量流经所述像素的驱动电流；和被配置为基于所述显示面板的老化时间选择性地产生所述第一控制信号和所述第二控制信号的时序控制器。

【技术特征摘要】
2016.02.29 KR 10-2016-00246211.一种显示设备，包括：包括被电连接到反馈线的像素的显示面板；被电连接到所述反馈线的感测器，所述感测器被配置为响应于第一控制信号而测量所述像素的阻抗并响应于第二控制信号而测量流经所述像素的驱动电流；和被配置为基于所述显示面板的老化时间选择性地产生所述第一控制信号和所述第二控制信号的时序控制器。2.根据权利要求1所述的显示设备，其中所述感测器被进一步配置为响应于所述第一控制信号而将第一基准电压提供到所述反馈线，并且通过对根据所述第一基准电压通过所述反馈线反馈的第一电流进行积分来测量所述像素的所述阻抗，并且其中所述第一基准电压低于或等于所述像素的有机发光二极管的阈值电压。3.根据权利要求2所述的显示设备，其中所述感测器被进一步配置为通过在所述第一基准电压被提供到所述反馈线之前将低电源电压提供到所述反馈线使所述有机发光二极管的寄生电容器放电。4.根据权利要求1所述的显示设备，其中所述感测器被进一步配置为响应于所述第二控制信号而将第二基准电压提供到所述反馈线，并且通过对根据所述第二基准电压通过所述反馈线反馈的第二电流进行积分来测量所述驱动电流，并且其中所述第二基准电压大于或等于所述像素的有机发光二极管的阈值电压。5.根据权利要求1所述的显示设备，其中所述时序控制器进一步用于确定所述老化时间何时超过基准时间，用于在所述老化时间小于所述基准时间时产生所述第一控制信号，以及用于在所述老化时间大于所述基准时间时产生所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李旭，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR