一种笔迹鉴定的方法技术

本发明专利技术公开了一种笔迹鉴定的方法，包括步骤：1)在样本片材上笔迹中选取待进行笔迹鉴定的区域；2)在所选区域的笔迹中定义测量点与测量方向，其中测量方向垂直于笔画的书写方向；3)将样本片材固定在载物台上；4)利用摄像装置来获取所选区域中各测量点的三维视图；5)利用所述三维视图来计算所述样本片材上各个测量点的参数；6)在检材上选取与所述样本片材的所选区域相对应的区域，并在该区域中定义与上述样本片材相对应的测量点和测量方向；7)重复上述步骤3)、4)、5)，获得所述检材上各个测量点的参数；8)根据公式，将所获得的检材与样本片材的各参数进行计算比对，得到相关性系数ρX，Y，并基于该相关性来鉴定笔迹的真伪。

【技术实现步骤摘要】
一种笔迹鉴定的方法
本专利技术涉及一种笔迹鉴定的方法，属于文件检验的

技术介绍
验证笔迹签名真实性的方法已存在已久。笔迹可定义为由签名人在纸张上留下的笔墨痕迹。当前痕迹检验技术为定性检验，主要通过人眼或微观放大设备观察痕迹客体表面的形态、形状、颜色、材质等属性。由于检材客体表面不平整以及设备测量精度无法满足要求，现有设备或仪器无法精确测量客体痕迹如痕迹深度、角度、形态、颜色等属性特征。通过对已有笔迹的观察和练习，或通过更高级的技术如临模，套模等，笔迹是非常容易被模仿的。当今存在很多验证笔迹是否为模仿笔迹的技术。通常情况下，笔迹存在停顿、拐角、震荡等现象，因此模仿笔迹看上去不连贯，笔迹线条的宽度宽。这种鉴别模仿笔迹方法的缺点在于所需时间较长同时无法实现计算机自动化；为了得到理想和稳定的结果，他们需要大量基础数据，并且由于这种方法是基于图像分析的，系统会出现误差。
技术实现思路
鉴于
技术介绍
中存在的问题，本专利技术的目的在于提供一种笔迹鉴定的方法，其能解决笔迹鉴定过程中无法实现量化的问题。本文提到的笔或书写工具，可以理解为任何如铅笔，钢笔，圆珠笔或签字笔等书写工具，用于在纸张上书写。本文提到的墨迹，可以理解为任何书写工具的颜料，如墨水和任何干燥物质，如蜡笔、墨粉、墨水、石墨或能被书写工具使用的相似物质。根据本专利技术的一个实施方案，提供一种笔迹鉴定的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在样本片材上笔迹中选取待进行笔迹鉴定的区域；2)在所选区域的笔迹中定义测量点与测量方向，其中测量方向垂直于笔画的书写方向；3)将样本片材固定在载物台上；4)利用摄像装置来获取所选区域中各测量点的三维视图；5)利用所述三维视图来计算所述样本片材上各个测量点的参数；6)在检材上选取与所述样本片材的所选区域相对应的区域，并在该区域中定义与上述样本片材相对应的测量点和测量方向；7)重复上述步骤3)、4)、5)，获得所述检材上各个测量点的参数；8)根据如下公式，将所获得的检材与样本片材的各参数进行计算比对，得到相关性系数ρX，Y，并基于该相关性来鉴定笔迹的真伪：其中X是样本片材各个测量点的参数值，Y是检材各个测量点的参数值，μx是样本片材各个测量点的参数值的平均值，μy是检材各个测量点的参数值的平均值，σx是样本片材各个测量点的参数值的标准差，σy是检材各个测量点的参数值的标准差，E为数学期望。根据本专利技术的一个实施方案，其中所述测量点的个数为50-200个。根据本专利技术的一个实施方案，其中所述笔迹签定的区域为整个笔迹的整体或部分。根据本专利技术的一个实施方案，其中所述参数为墨迹压痕深度，墨迹压痕深度为测量点的墨迹最高点与墨迹最低点之间的距离。根据本专利技术的一个实施方案，其中所述参数为纸张压痕深度，纸张压痕深度为测量点的纸张左右边界最高点与墨迹最低点之间的距离。根据本专利技术的一个实施方案，其中所述参数为执笔角度，执笔角度为测量点的墨迹最低点到墨迹左边界或右边界的水平距离与墨迹左右边界之间的水平距离二者的比值。根据本专利技术的一个实施方案，其中所述摄像装置包括摄像头和光学放大镜，所述三维视图是通过调节光学放大镜，以改变摄像头和光学放大镜以及待检测检材或样本的之间的距离得到各个焦平面图像，并进一步融合而成。根据本专利技术的一个实施方案，其中将样本片材或检材固定在载物台上包括利用真空吸附装置或静电吸附装置来固定样本片材或检材。根据本专利技术的一个实施方案，其中当ρX，Y大于等于0.5时，判定笔迹为真，否则判定为假。根据本专利技术的一个实施方案，所述方法还包括检测另一个样本片材，所述样本片材与所述另一个样本片材上的笔迹为同一人书写，计算两个样本片材之间相关系数，并且计算所述检材与所述另一个样本片材之间的相关系数，进行比较，如果所述检材与上述两个样本片材之间的相关系数均大于两个样本片材之间的相关系数，则判定所述检材与所述样本片材上的笔迹为同一人所写，否则判定为假。本专利技术的有益效果：本专利技术通过气动控制、机电控制、光电控制、图像处理、数字层析处理等相关技术，能够自动、精确、连续测量并呈现痕迹表面各种属性特征，并能通过量化计算得到的图片和图表，将检材数据与已知样本数据相互比对，完成定量检验过程。附图说明图1为根据本专利技术一个实施方案的用于笔迹鉴定的设备示意图；图2为根据本专利技术一个实施方案的检材或样本笔迹进行鉴定的区域示意图；图3为根据本专利技术一个实施方案的在所选的区域中定义测量点与测量方向的示意图；图4为根据本专利技术一个实施方案的方法测量得到的某个测量点的三维示意图；图5为基于图4所示的测量点的三维视图所得到的二维视图；图6为根据本专利技术一个实施方案的样本与检材中所有测量点笔迹趋势图，其中检材和样本为同一人书写；图7为根据本专利技术一个实施方案的样本与检材所有点笔迹趋势图，其中检材和样本为不同人书写。图8为根据本专利技术一个实施方案的笔迹鉴定方法的流程示意图。图9为根据实施例的汉字“丁”的示意图，分别标记为1.1、1.2与2.3；图10为根据汉字“丁”定义测量点与测量方向的示意图；图11为根据实施例的1.1与1.2汉字“丁”的所有测量点笔迹趋势图，其中1.1与1.2为同一人书写；图12为根据实施例的1.1与2.3汉字“丁”的所有测量点笔迹趋势图，其中1.1与2.3为不同人书写；图13为根据实施例的1.2与2.3汉字“丁”的所有测量点笔迹趋势图，其中1.2与2.3为不同人书写。具体实施方式参考图1，图1为根据本专利技术的一种笔迹鉴定的装置，包括样品固定装置1、摄像装置、载物台8、中央处理控制模块4、显示模块5、光源9。载物台8包括xy-载物台8b以及z载物台8a。xy-载物台8b能够在平面上移动例如三维坐标体系中的xy方向移动或转动，调节方向和角度，z载物台8a能够在垂直方向上移动，例如垂直于样品纸张表面的方向移动。当然，z轴方向载物台8a也可以为xyz载物台。能够在三维方向上移动和转动，如果是这种情况，xy-载物台8b不是必须的。摄像装置包括摄像头6以及光学放大镜7，并固定于载物台8b上。光学放大镜7可以将待检测的目标物的图像放大，摄像头6用于拍摄放大后的图像。该光学放大镜7也可以称之为光学物镜，类似于显微镜的物镜。在本专利技术中，可以通过旋转来改变该光学物镜与待测样品之间的距离，以及该光学物镜与摄像头6之间的距离。也即，光学物镜中包括了旋转调距部件，类似于相机中的可调焦的镜头。在本专利技术中，旋转调距部件可以实现微米级的调节，旋转调距部件例如为基于螺旋放大的原理的螺旋微调仪，也即类似于螺旋测微器的原理。可以通过手动调节或者与中央处理控制模块4连接，通过计算机来控制。通过计算机软件来控制可以实现更加细微的调节，例如1微米、2微米、3微米，实现光学放大镜7与待测物体和摄像头6之间的距离的定量变化。光源9例如可以是任何的灯泡、激光、日光或任何背景灯，置于光学放大镜7和待检测的目标物之间，对目标物进行照明，以便于观测拍摄。在一个实施例中，光源9例如可以为暗场环形光源。样品固定装置1用来固定待检测的目标物，例如可以是真空吸附装置或静电吸附装置，可以将检材纸张展平，使检材结构保持水平。在一个实施方案中，所述样品固定装置是真空吸附装置，该装置例如可以包括真空吸附泵3与真空吸附台2，纸张片材等置于真空吸附台2上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种笔迹鉴定的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在样本片材上笔迹中选取待进行笔迹鉴定的区域；2)在所选区域的笔迹中定义测量点与测量方向，其中测量方向垂直于笔画的书写方向；3)将样本片材固定在载物台上；4)利用摄像装置来获取所选区域中各测量点的三维视图；5)利用所述三维视图来计算所述样本片材上各个测量点的参数；6)在检材上选取与所述样本片材的所选区域相对应的区域，并在该区域中定义与上述样本片材相对应的测量点和测量方向；7)重复上述步骤3)、4)、5)，获得所述检材上各个测量点的参数；8)根据如下公式，将所获得的检材与样本片材的各参数进行计算比对，得到相关性系数ρX，Y，并基于该相关性来鉴定笔迹的真伪：

【技术特征摘要】
1.一种笔迹鉴定的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在样本片材上笔迹中选取待进行笔迹鉴定的区域；2)在所选区域的笔迹中定义测量点与测量方向，其中测量方向垂直于笔画的书写方向；3)将样本片材固定在载物台上；4)利用摄像装置来获取所选区域中各测量点的三维视图；5)利用所述三维视图来计算所述样本片材上各个测量点的参数；6)在检材上选取与所述样本片材的所选区域相对应的区域，并在该区域中定义与上述样本片材相对应的测量点和测量方向；7)重复上述步骤3)、4)、5)，获得所述检材上各个测量点的参数；8)根据如下公式，将所获得的检材与样本片材的各参数进行计算比对，得到相关性系数ρX，Y，并基于该相关性来鉴定笔迹的真伪：其中X是样本片材各个测量点的参数值，Y是检材各个测量点的参数值，μx是样本片材各个测量点的参数值的平均值，μy是检材各个测量点的参数值的平均值，σx是样本片材各个测量点的参数值的标准差，σy是检材各个测量点的参数值的标准差，E为数学期望。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测量点的个数为50-200个。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述笔迹签定的区域为整个笔迹的整体或部分。4.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘青，曾永涛，彭亦军，
申请(专利权)人：刘青，曾永涛，彭亦军，
类型：发明
国别省市：北京,11