一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法技术

本发明专利技术提出了一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法，包括以下步骤：步骤1，进行反射校准，确定源匹配误差ESi、方向性误差EDi和反射跟踪误差ERi；步骤2，进行额外的一次反射校准；步骤3，在端口i和其他N‑1个端口间进行(N‑1)次零直通校准，确定除端口i外的其他(N‑1)个端口间的(N‑1)(N‑2)项传输跟踪误差和(N‑1)个端口的(N‑1)

【技术实现步骤摘要】
一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法
本专利技术涉及测试
，特别涉及一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法。
技术介绍
随着人们对电子设备性能、体积和功耗等方面要求的不断提高，设计人员必须不断提高射频微波部分电路的集成度，将各种不同的分立功能模块集成到一个多功能模块中。这种多功能模块通常具有多个相同类型连接器的输入输出端口。使用矢量网络分析仪对这些多端口多功能射频微波模块的性能指标进行测量前，必须对矢量网络分析仪进行校准，以确定测量系统本身存在的各种矢量系统误差大小，然后在测量时通过采用误差修正算法去除这些系统误差对测量精度的影响，才能得到被测件真实的性能指标。矢量网络分析仪的校准就是通过对一组特性已知的校准标准进行测量，通过比较测量值和已知值，确定测量系统本身各种系统误差的过程。目前，使用比较广泛的校准方法是SOLT校准，校准标准包括短路器(S)、开路器(O)和负载(L)三个反射标准和一个直通标准(T)，校准标准数据模型和实际特性之间的符合性是决定校准精度的重要因素，二者之间的差异是校准误差的重要来源。默认情况下直通标准是通过将两个测量端口直接连接到一起实现本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法，其特征在于，每个测量端口都有一个独立的测量接收机，所有端口共用一个参考接收机，校准方法包括以下步骤：步骤(1)，进行反射校准，确定源匹配误差ESi、方向性误差EDi和反射跟踪误差ERi共3N项误差项；步骤(2)，进行额外的一次反射校准；步骤(3)，在端口i和其他N‑1个端口间进行(N‑1)次零直通校准，确定除端口i外的其他(N‑1)个端口间的(N‑1)(N‑2)项传输跟踪误差和(N‑1)个端口的(N‑1)

【技术特征摘要】
1.一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法，其特征在于，每个测量端口都有一个独立的测量接收机，所有端口共用一个参考接收机，校准方法包括以下步骤：步骤(1)，进行反射校准，确定源匹配误差ESi、方向性误差EDi和反射跟踪误差ERi共3N项误差项；步骤(2)，进行额外的一次反射校准；步骤(3)，在端口i和其他N-1个端口间进行(N-1)次零直通校准，确定除端口i外的其他(N-1)个端口间的(N-1)(N-2)项传输跟踪误差和(N-1)个端口的(N-1)2项负载匹配误差；步骤(4)，再进行额外一次反射校准和两次直通校准，确定端口i处于接收状态时和其他的(N-1)个端口间的(N-1)项负载匹配误差，及端口i和其他N-1个端口间2(N-1)项传输跟踪误差。2.如权利要求1所述的一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法，其特征在于，所述步骤(1)具体过程如下：在每个测量端口分别连接开路器、短路器和负载三个反射标准，连接的开路器、短路器和负载的已知反射系数分别为：Γo、Γs、Γ1＝0，校准过程中某一端口i连接反射标准后对应的反射测量值分别为：Γmoi、Γmsi、Γmli，确定端口i反射误差项分别为：EDi＝Γmli(11)其中，EDi为源端口i的方向性误差，ERi为源端口i的反射跟踪误差，ESi为源端口i的源匹配误差；通过N次反射校准，确定全部的3N项反射误差。3.如权利要求2所述的一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法，其特征在于，所述步骤(2)的具体步骤如下：在校准端口i连接直通适配器改变校准端口i的连接器阴阳类型，在端口i上进行反射校准，根据等式(11)、等式(12)和等式(13)，确定EISi、EIDi和EIRi三项反射误差的中间误差项。4.如权利要求3所述的一种基于理想零直通的多端口非插入式精确校准方法，其特征在于，所述步骤(3)具体包括：端口i和端口k间进行直通校准，求解出如下4项系统误差：EITik＝Sikm(1-EILikESk)(16)EITki＝Skim(1-EILkiEISi)(17)等式(14)～等式(17)中，ESk、EDk和ERk在步骤(1)时确定，EISi、EIDi和EIRi在步骤(2)时...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏连成，袁国平，姜信诚，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东,37