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位移检测装置和角速度检测装置制造方法及图纸

技术编号:16099425 阅读:49 留言:0更新日期:2017-08-29 21:29
本发明专利技术的位移检测装置具备:第一传感器;第二传感器;物体,包含周期排列在第一方向上的第一区域和第二区域,并且在第一方向上相对于第一传感器和第二传感器位移;以及运算单元。第一传感器检测伴随物体的位移的第一磁场变化,并且将检测出的第一磁场变化作为第一信号输出;第二传感器检测伴随物体的位移的第二磁场变化,并且将检测出的第二磁场变化作为第二信号输出,第二信号与第一信号相位不同;运算单元根据第一信号和第二信号,在将物体发生相当于连续的第一区域与第二区域的合计的物体的位移量的位移所需的时间作为1周期时,在每个该1周期中多次算出物体在第一方向上的位移量。

【技术实现步骤摘要】
位移检测装置和角速度检测装置
本专利技术涉及一种通过检测伴随物体的位移(或旋转)的磁场变化来检测该物体的位移(或旋转)的位移检测装置和角速度检测装置。
技术介绍
一般来说,作为在编码器、电位计等中检测旋转体的旋转动作的装置,例如使用具备与该旋转体一起旋转的齿轮等磁性体、以与该磁性体的附近离间的方式配置的磁场检测元件、和发生偏置磁场的偏置磁体的旋转检测装置(例如参照专利文献1、2)。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平8-114411号公报专利文献2:日本特开2006-113015号公报
技术实现思路
但是,在以往的旋转检测装置中,当旋转速度过分慢时,检测旋转体有无旋转需要花费很多时间。这是因为缩小旋转体的齿轮间距有限度。因此,期望提供一种即使物体的位移(或旋转)为低速、也可以正确地进行该物体的位移(或旋转)的检测的位移检测装置和角速度检测装置。作为本专利技术的一种实施方式的位移检测装置具备:第一传感器;第二传感器;物体,包含周期排列在第一方向上的第一区域和第二区域,并且在第一方向上相对于第一传感器和第二传感器位移;以及运算单元。在这里,第一传感器检测伴随物体的位移的第一磁场变化,并本文档来自技高网...
位移检测装置和角速度检测装置

【技术保护点】
一种位移检测装置,其中,具备:第一传感器;第二传感器;物体,包含周期排列在第一方向上的第一区域和第二区域,并且在所述第一方向上相对于所述第一传感器和所述第二传感器位移;以及运算单元,所述第一传感器检测伴随所述物体的所述位移的第一磁场变化,并且将检测出的所述第一磁场变化作为第一信号输出,所述第二传感器检测伴随所述物体的所述位移的第二磁场变化,并且将检测出的所述第二磁场变化作为第二信号输出,所述第二信号与所述第一信号相位不同,所述运算单元根据所述第一信号和所述第二信号,在将物体发生相当于连续的所述第一区域与所述第二区域的合计的物体的位移量的位移所需的时间作为1周期时,在每个该1周期中多次算出所述物...

【技术特征摘要】
2016.02.02 JP 2016-0178531.一种位移检测装置,其中,具备:第一传感器;第二传感器;物体,包含周期排列在第一方向上的第一区域和第二区域,并且在所述第一方向上相对于所述第一传感器和所述第二传感器位移;以及运算单元,所述第一传感器检测伴随所述物体的所述位移的第一磁场变化,并且将检测出的所述第一磁场变化作为第一信号输出,所述第二传感器检测伴随所述物体的所述位移的第二磁场变化,并且将检测出的所述第二磁场变化作为第二信号输出,所述第二信号与所述第一信号相位不同,所述运算单元根据所述第一信号和所述第二信号,在将物体发生相当于连续的所述第一区域与所述第二区域的合计的物体的位移量的位移所需的时间作为1周期时,在每个该1周期中多次算出所述物体在所述第一方向上的位移量。2.根据权利要求1所述的位移检测装置,其中,所述物体具有:多个作为所述第一区域的凸部与多个作为所述第二区域的凹部交替配置而成的齿轮齿部、或多个作为所述第一区域的N极区域与多个作为所述第二区域的S极区域交替配置而成的强磁性体部。3.根据权利要求1或权利要求2所述的位移检测装置,其中,进一步具备包含脉冲发生单元的脉冲输出单元,所述脉冲发生单元在每次算出所述物体在所述第一方向上...

【专利技术属性】
技术研发人员:梅原刚平林启上田国博内田圭祐
申请(专利权)人:TDK株式会社
类型:发明
国别省市:日本,JP

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