一种传感器特征曲线的确定方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术适用于传感器技术领域，提供了一种传感器特征曲线的确定方法及其装置，方法包括：获取待测样本的测量数据信息；通过预设的测量数据筛选算法，提取测量数据信息中包含的有效测量数据；根据有效测量数据以及预设的特征曲线确定算法，确定待测样本对应的特征曲线信息；将特征曲线信息存储于特征曲线寄存器内。通过对突变的采集点进行滤出，当进行线性拟合的时候，将不会考虑突变的采集点，从而去除环境噪声或通道异常对采集数据的影响，解决了现有的传感器特征曲线确定技术根据所有的采集信息确定特征曲线，而当某一传感元件异常或某一个位置噪声影响较大，则会引入较大误差至特征曲线，使得特征曲线无法反映测量物体的真实情况的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种传感器特征曲线的确定方法及其装置
本专利技术属于传感器
，尤其涉及一种传感器特征曲线的确定方法及其装置。
技术介绍
随着信息获取的需求愈来愈大，传感器技术也在快速发展。用户不仅需要大量的传感器进行信息获取，还需获取的信息的正确率较高，即采集数据更为真实。现有的传感器技术，由于是通过传感元件进行信息获取，因为获得的信息也将是离散的，此时，需要传感器内的特征曲线对离散的数据进行补偿修正。然而现有的传感器特征曲线的确定方法，主要根据所有的采集信息确定特征曲线，而当传感器中的某一传感元件异常或某一个位置噪声影响较大，则会引入较大误差至特征曲线，使得特征曲线无法反映测量物体的真实情况。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种传感器特征曲线的确定方法及其装置，旨在解决现有的传感器特征曲线确定技术根据所有的采集点信息确定特征曲线，而当某一传感元件异常或某一个位置噪声影响较大，则会引入较大误差至特征曲线，使得特征曲线无法反映测量物体的真实情况的问题。第一方面，本专利技术实施例提供一种传感器特征曲线的确定方法，所述传感器特征曲线的确定方法包括：获取待测样本的测量数据信息；通过预设的测量本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种传感器特征曲线的确定方法，其特征在于，所述传感器的特征曲线确定方法包括：获取待测样本的测量数据信息；通过预设的测量数据筛选算法，提取所述测量数据信息中包含的有效测量数据；根据所述有效测量数据以及预设的特征曲线确定算法，确定所述待测样本对应的特征曲线信息，将所述特征曲线信息存储于特征曲线寄存器内。

【技术特征摘要】
1.一种传感器特征曲线的确定方法，其特征在于，所述传感器的特征曲线确定方法包括：获取待测样本的测量数据信息；通过预设的测量数据筛选算法，提取所述测量数据信息中包含的有效测量数据；根据所述有效测量数据以及预设的特征曲线确定算法，确定所述待测样本对应的特征曲线信息，将所述特征曲线信息存储于特征曲线寄存器内。2.根据权利要求1所述的传感器特征曲线的确定方法，其特征在于，所述通过预设的测量数据筛选算法，提取所述测量数据信息中包含的有效测量数据具体为：根据所述测量数据信息以及预设的数据统计算法，确定所述测量数据信息中各测量数据的分布概率情况；提取所述分布概率大于预设阈值对应的测量数据作为有效测量数据。3.根据权利要求1或2所述的传感器特征曲线的确定方法，其特征在于，所述获取待测样本的测量数据信息具体为：获取多个通道检测到的待测样本的测量数据，以及所述测量数据对应的编号；根据所述测量数据对应的编号，依次对所述测量数据进行存储，得到所述测量数据信息。4.根据权利要求3所述的传感器特征曲线的确定方法，其特征在于，所述根据所述有效测量数据以及预设的特征曲线确定算法，确定传感器对应的特征曲线信息具体为：根据所述有效测量数据以及获取所述有效测量数据时的序号，在预设的坐标图中依次标示出每个所述有效测量数据；根据标示后的所述坐标图以及预设的线性拟合算法，确定传感器对应的特征曲线信息。5.根据权利要求1所述的传感器特征曲线的确定方法，其特征在于，所述待测样本至少为两个；所述将所述特征曲线信息存储与特征曲线寄存器之后还包括：根据测量物体的测量曲线信息，确定所述测量物体对应的待测样本。6.一种传感器特征曲线的确定装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈骏，张新宇，
申请(专利权)人：深圳怡化电脑股份有限公司，深圳市怡化时代科技有限公司，深圳市怡化金融智能研究院，
类型：发明
国别省市：广东,44