一种液晶面板光程差的测量方法技术

本发明专利技术公开了一种液晶面板光程差的测量方法，该测量方法包括在相同的预设条件下，获取至少两个不同光程差对应的亮度；根据所述不同光程差对应的亮度，拟合得到以第一参考液晶面板的参考光程差为基准光程差时的光程差与亮度比之间的关系；在该预设条件下，计算待测液晶面板与第一参考液晶面板的亮度比；根据该亮度比和光程差与亮度比之间的关系得到待测液晶面板的光程差。通过上述方式，利用光程差与亮度比之间的关系得到待测液晶面板的光程差，简化了液晶面板光程差的测量过程，降低测量成本。

Method for measuring optical path difference of liquid crystal panel

The invention discloses a method for measuring the LCD panel optical path difference, the measurement method is included in the same preset conditions, obtain brightness of at least two different optical path difference corresponding; according to the brightness of the different optical path difference corresponding to the fitting to the first reference liquid crystal panel reference optical path difference between the reference optical path when the difference between the brightness ratio; when the preset conditions, the measured brightness calculation of the liquid crystal panel and liquid crystal panel than the first reference; according to the relationship between the brightness ratio and optical path difference and the ratio of the measured brightness of the LCD panel optical path difference. By using the method, the optical path difference of the liquid crystal panel to be measured is obtained by using the relation between the optical path difference and the brightness ratio, and the measurement process of the optical path difference of the liquid crystal panel is simplified, and the measuring cost is lowered.

【技术实现步骤摘要】
一种液晶面板光程差的测量方法
本专利技术涉及光学
，具体而言涉及一种液晶面板光程差的测量方法。
技术介绍
目前，液晶面板逐渐成为消费电子产品的重要角色，其广泛应用于具有高分辨率彩色屏幕的移动终端等设备的显示器中。液晶面板包括不通光的暗态和能够通关的亮态，液晶显示器在暗态和亮态之间的切换以及整个显示过程中，液晶起到电压控制的光阀作用。液晶面板的穿透率为液晶显示其在暗态时，透过的光通量与入射的总光通量之间的比率，即液晶面板的穿透率表征了液晶面板在暗态下的漏光程度；穿透率越高，液晶面板暗态的漏光程度越小；而液晶面板暗态的漏光程度是液晶显示器的一个重要指标。根据液晶面板的穿透率公式Tr＝0.5sin2(2θ)sin2(πΔND/λ)(θ表示液晶面板的偏光片吸收轴与液晶分子长轴之间的方位角)可知，当θ＝45°时，穿透率Tr最高，此时穿透率公式化简为Tr＝0.5sin2(πΔND/λ)，其中，ΔN为液晶面板的光程差，D为液晶盒厚，由此可以看出液晶显示器的穿透率与其光程差和液晶盒厚密切相关，因此在液晶面板的制备中对光程差进行监测非常重要。现有技术中，常采用专用的设备对液晶面板的光程差进行测量，在测量过程中需要将液晶面板的偏光片去掉，测量过程复杂，且对液晶面板会造成破坏，此外，这些专用的设备通常体积较大，占地面积大，且费用高，导致液晶显示器的穿透率的测量需要耗费较高的成本。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种液晶面板光程差的测量方法，本专利技术的测量方法能够简化了液晶面板光程差的测量过程，降低测量成本。为解决上述技术问题，本专利技术提出的一个技术方案是：提供一种液晶面板光程差的测量方法，该测量方法包括：在相同的预设条件下，获取至少两个不同光程差对应的亮度；根据所述不同光程差对应的亮度，拟合得到以第一参考液晶面板的参考光程差为基准光程差时的光程差与亮度比之间的关系；在所述预设条件下，计算待测液晶面板与所述第一参考液晶面板的亮度比；根据所述亮度比和所述光程差与亮度比之间的关系得到所述待测液晶面板的光程差。其中，所述在相同的预设条件下，获取至少两个不同光程差对应的亮度，包括：令光程差不同的至少两个第二参考液晶面板分别搭配相同的相位补偿机构，在相同方位角和相同侧视角下，获取所述至少两个第二参考液晶面板对应的亮度；将所述至少两个第二参考液晶面板对应的亮度分别作为至少两个不同光程差对应的亮度。其中，所述在所述预设条件下，计算待测液晶面板与所述第一参考液晶面板的亮度比，包括：令待测液晶面板与所述第一参考液晶面板分别搭配所述相位补偿机构；在所述方位角和所述侧视角下，分别获取所述待测液晶面板与所述第一参考液晶面板的亮度；将所述待测液晶面板亮度除以所述第一参考液晶面板的亮度得到两者的亮度比。其中，所述相位补偿机构包括分别设置于液晶面板两侧的第一相位补偿部分和第二相位补偿部分，所述第一相位补偿部分和所述第二相位补偿部分均包括三醋酸纤维素TAC层和聚乙烯PVA层；所述第一相位补偿部分和/或所述第二相位补偿部分还包括COP层。其中，所述COP层的慢轴与所述聚乙烯PVA层的吸收轴的夹角为90°。其中，所述在相同方位角和相同侧视角下，获取所述至少两个第二参考液晶面板的亮度，包括：获取所述至少两个第二参考液晶面板的暗态全视角亮度分布；从所述暗态全视角亮度分布中，提取出所述至少两个第二参考液晶面板分别在相同方位角下，不同侧视角对应的亮度分布；从所述不同侧视角对应的亮度分布中，提取所述至少两个第二参考液晶面板在相同侧视角下的亮度。其中，所述根据所述不同光程差对应的亮度，拟合得到以第一参考液晶面板的参考光程差为基准光程差时的光程差与亮度比之间的关系，包括：将所述不同光程差中的每个光程差依次作为基准光程差，并根据所述不同光程差对应的亮度，拟合得到每个所述基准光程差对应的多个光程差与亮度比之间的关系；从拟合得到的多个基准光程差对应的光程差与亮度比之间的关系中，提取所述多个基准光程差中与所述参考光程差的差值最小的基准光程差对应的光程差与亮度比之间的关系；将提取的所述光程差与亮度比之间的关系作为以所述参考光程差为基准光程差时，对应的光程差与亮度比之间的关系。其中，所述根据所述不同光程差对应的亮度，拟合得到以第一参考液晶面板的参考光程差为基准光程差时的光程差与亮度比之间的关系，包括：将所述不同光程差中与所述参考光程差的差值最小的一光程差作为基准光程差；根据所述基准光程差和所述不同光程差对应的亮度拟合得到相应的光程差与亮度比之间的关系；将所述光程差与亮度比之间的关系作为以所述参考光程差为基准光程差时，对应的光程差与亮度比之间的关系。其中，根据所述亮度比和所述光程差与亮度比之间的关系得到所述待测液晶面板的光程差之后，还包括：根据光程差公式和所述待测液晶面板的光程差计算得到所述待测液晶面板的液晶盒厚；其中，所述光程差公式为：光程差＝ΔN×D，ΔN为液晶材料的正常光折射率和非常光折射率的差值，D为液晶盒厚。有益效果：区别于现有技术，本专利技术提供的液晶面板光程差的测量方法通过在相同的预设条件下，获取至少两个不同光程差对应的亮度；根据所述不同光程差对应的亮度，拟合得到以第一参考液晶面板的参考光程差为基准光程差时的光程差与亮度比之间的关系；在该预设条件下，计算待测液晶面板与第一参考液晶面板的亮度比；根据该亮度比和光程差与亮度比之间的关系得到待测液晶面板的光程差。整个测量方法中不需要对待测液晶面板进行破坏，也不需要专用的测量设备，即可测量出待测液晶面板的光程差，简化了液晶面板光程差的测量过程，降低测量成本。附图说明图1是本专利技术液晶面板光程差测量方法第一实施例的流程示意图；图2是图1所示的测量方法第一实施例中步骤S11的流程示意图；图3是图2中步骤S111中采用的相位补偿机构的结构示意图；图4是图2中步骤S111的流程示意图；图5a-图5g是图4中S111的应用例中获取的暗态全视角亮度分布图；图6是图5a-图5g中，在相同方位角下，不同光程差在不同侧视角对应的亮度分布图；图7是图1中步骤S12的一实施例的流程示意图；图8a至图8g是分别以317nm至377nm的7个光程差作为基准光程差进行拟合的曲线图；图9是图1中步骤S12的另一实施例的流程示意图；图10是图1中步骤S13的流程示意图；图11是本专利技术液晶面板光程差测量方法第二实施例的流程示意图。具体实施例下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。参阅图1，图1是本专利技术液晶面板光程差的测量方法第一实施例的流程示意图。如图1所示，本实施例的测量方法包括如下步骤：S11、在相同的预设条件下，获取至少两个不同光程差对应的亮度。首先，值得注意的是，由于液晶面板的透过率表征的是液晶面板处于暗态时的亮度，因此本专利技术中说提及亮度均指液晶面板处于暗态时的亮度；且本专利技术中的光程差至液晶层的光程差，即液晶的光程差。在相同条件下，不同光程差的液晶面板的亮度不同，且同一液晶面板在不同的相位角以及不同侧视角下的亮度也是不同，也就是说，液晶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶面板光程差的测量方法，其特征在于，包括：在相同的预设条件下，获取至少两个不同光程差对应的亮度；根据所述不同光程差对应的亮度，拟合得到以第一参考液晶面板的参考光程差为基准光程差时的光程差与亮度比之间的关系；在所述预设条件下，计算待测液晶面板与所述第一参考液晶面板的亮度比；根据所述亮度比和所述光程差与亮度比之间的关系得到所述待测液晶面板的光程差。

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板光程差的测量方法，其特征在于，包括：在相同的预设条件下，获取至少两个不同光程差对应的亮度；根据所述不同光程差对应的亮度，拟合得到以第一参考液晶面板的参考光程差为基准光程差时的光程差与亮度比之间的关系；在所述预设条件下，计算待测液晶面板与所述第一参考液晶面板的亮度比；根据所述亮度比和所述光程差与亮度比之间的关系得到所述待测液晶面板的光程差。2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述在相同的预设条件下，获取至少两个不同光程差对应的亮度，包括：令光程差不同的至少两个第二参考液晶面板分别搭配相同的相位补偿机构，在相同方位角和相同侧视角下，获取所述至少两个第二参考液晶面板对应的亮度；将所述至少两个第二参考液晶面板对应的亮度分别作为至少两个不同光程差对应的亮度。3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述在所述预设条件下，计算待测液晶面板与所述第一参考液晶面板的亮度比，包括：令待测液晶面板与所述第一参考液晶面板分别搭配所述相位补偿机构；在所述方位角和所述侧视角下，分别获取所述待测液晶面板与所述第一参考液晶面板的亮度；将所述待测液晶面板亮度除以所述第一参考液晶面板的亮度得到两者的亮度比。4.根据权利要求2或3所述的测量方法，其特征在于，所述相位补偿机构包括分别设置于液晶面板两侧的第一相位补偿部分和第二相位补偿部分，所述第一相位补偿部分和所述第二相位补偿部分均包括三醋酸纤维素TAC层和聚乙烯PVA层；所述第一相位补偿部分和/或所述第二相位补偿部分还包括COP层。5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于，所述COP层的慢轴与所述聚乙烯PVA层的吸收轴的夹角为90°。6.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述在相同方位角和相同侧视角下，获取所述至少两个第二参考液晶面板的亮度，包括：获取所述至...

【专利技术属性】
技术研发人员：海博，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44