连接接口的测试装置及其测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术揭露一种连接接口的测试装置及其测试方法。其中，该连接接口的测试装置包含：接口模块，包含耦接该连接接口的多个引脚；以及测试电路，包含该多个引脚中第一引脚与第二引脚之间的导通路径、耦接该多个引脚中第三引脚的可视化模块、耦接该多个引脚中第四引脚的阻抗中的至少一个。本发明专利技术提供的连接接口的测试装置及其测试方法可有效检测连接接口的功能。

【技术实现步骤摘要】
连接接口的测试装置及其测试方法交叉引用本专利技术要求如下优先权：编号为62/255,547，申请日为2015年11月16日的美国临时专利申请。上述美国临时专利申请在此一并作为参考。
本专利技术涉及一种测试装置及其测试方法。特别地，本专利技术涉及一种电子装置连接接口的测试装置及其测试方法。
技术介绍
通用串行总线(UniversalSerialBus，USB)是定义计算机与外部电子装置之间的连接器规格以及接口中使用的通信协议的一种工业标准。在2013年7月，最新的USB3.1标准发布，用于替换原来的USB3.0标准。基于USB3.1标准的技术参数，发布了一种新的连接器结构，即，C类型USB(USBtype-C)。不同于A类型与B类型连接器，C类型连接器是双向的，并且包含24个引脚，其中，该24个引脚包括4对超高速USB串行数据引脚、2对差分USB2.0串行数据引脚、2个配置信道引脚、2个边带使用(sidebanduse)引脚以及4对供电及接地引脚。虽然C类型连接器的引脚数量明显增加，但C类型连接器的横截面积接近仅包含5个引脚的微型USB连接器的横截面积。这样增加了制造与集成C类型连接器本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种连接接口的测试装置，其中，该连接接口位于电子装置中，所述测试装置包含：接口模块，包含耦接该连接接口的多个引脚；以及测试电路，包含该多个引脚中第一引脚与第二引脚之间的导通路径、耦接该多个引脚中第三引脚的可视化模块、耦接该多个引脚中第四引脚的阻抗中的至少一个。

【技术特征摘要】
2015.11.16 US 62/255,547;2016.10.21 US 15/299,4841.一种连接接口的测试装置，其中，该连接接口位于电子装置中，所述测试装置包含：接口模块，包含耦接该连接接口的多个引脚；以及测试电路，包含该多个引脚中第一引脚与第二引脚之间的导通路径、耦接该多个引脚中第三引脚的可视化模块、耦接该多个引脚中第四引脚的阻抗中的至少一个。2.如权利要求1所述的连接接口的测试装置，其特征在于，当该测试装置连接于该连接接口时，该第一引脚与该第二引脚耦接该连接接口的传输对。3.如权利要求1所述的连接接口的测试装置，其特征在于，根据该第三引脚提供的第一电压，该可视化模块生成可视化信号。4.如权利要求3所述的连接接口的测试装置，其特征在于，该可视化模块包含发光二极管，其中，该发光二极管的正极耦接该第三引脚，以及该发光二极管的负极耦接参考节点。5.如权利要求3所述的连接接口的测试装置，其特征在于，该可视化模块包含计数电路。6.如权利要求3所述的连接接口的测试装置，其特征在于，该可视化模块包含耦接在该第三引脚与接地端之间的可视化电路。7.如权利要求3所述的连接接口的测试装置，其特征在于，该可视化模块包含：可视化电路，耦接在第一节点与该多个引脚中的第五引脚之间，其中该第五引脚提供第二电压；以及开关，用于根据该第三引脚提供的该第一电压，控制该第一节点与接地端之间的连接。8.如权利要求1所述的连接接口的测试装置，其特征在于，该阻抗耦接在该第四引脚与参考节点之间。9.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：林致群，范均志，
申请(专利权)人：联发科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71