用于监视光学传感器的光源的器件制造技术

本发明专利技术涉及用于监视光学传感器的光源的器件，该光学传感器被设计用于确定在介质中的过程自动化技术中的被测量参数的被测量值，包括：用于发送透射光的至少一个光源，其中光源与用于接收接收光的接收器相关联，其中光路从光源穿过可填充有介质的测量腔室延伸到接收器，其中透射光，借助于相互作用能够取决于被测量参数，沿着光路被转换成接收光，其中接收器信号能够由被转换的接收光产生，并且其中被测量值能够由接收器信号确定；以及与光源相关联的至少一个监视单元，具有用于监视光源的敏感元件，其中监视单元接收透射光。该器件的特征在于监视单元的敏感元件指向光路的方向并且接收来自与光路相反的方向的光。还涉及在分析器中使用这样的器件。

【技术实现步骤摘要】
用于监视光学传感器的光源的器件
本专利技术涉及一种用于监视光学传感器的光源的器件，该光学传感器布置在介质中，用于在过程自动化技术中确定被测量参数的被测量值。本专利技术还涉及在分析器中使用该器件。本专利技术不限于在过程自动化技术中应用，还包括至少相邻的
，诸如实验室技术。
技术介绍
在各种光学传感器中，来自光源的光与介质例如气体或者液体形成接触，因此，借助于光与介质之间的相互作用改变光的特性。例如，在光度计中，光通过介质中的吸收被衰减。在发光(luminescence)传感器中，介质由入射光被带入激发状态，并且随后在向基态转变的过程中，可能甚至在与入射光的波长不同的波长处发射光辐射。在散射光传感器中，光在介质中被未溶解的颗粒散射。所有这些效应现在都被用于测量介质的特定目标参数。在吸收或者发光测量中，这个目标参数是例如介质中的物质的浓度，并且在散射光测量中，这是例如介质的浊度。目标参数是通过监视在与介质相互作用之后的光的特性并且通过将由此所测量的、变化的光的特性与该目标参数相关联来确定的。然而，在光学传感器中，入射光的未知的变化、例如强度或者光谱分布的变化因此导致不期望的被测量值变本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于监视光学传感器(3)的光源(1)的器件(20)，所述光学传感器(3)被设计用于在介质(15)中确定过程自动化技术中的被测量参数的被测量值，包括：‑用于发送透射光的至少一个光源(1)，其中所述光源(1)与用于接收接收光的接收器(2)相关联，其中光路(4)从所述光源(1)穿过可填充有介质(15)的测量腔室(5)延伸到所述接收器(2)，其中所述透射光，借助于相互作用一具体地，吸收、散射、以及荧光一能够取决于所述被测量参数，沿着所述光路(4)被转换成所述接收光，其中接收器信号能够由被转换的所述接收光产生，并且其中所述被测量值能够由所述接收器信号确定；以及‑与所述光源(1)相关联的至少一个监视单元(...

【技术特征摘要】
2015.10.09 DE 102015117265.81.用于监视光学传感器(3)的光源(1)的器件(20)，所述光学传感器(3)被设计用于在介质(15)中确定过程自动化技术中的被测量参数的被测量值，包括：-用于发送透射光的至少一个光源(1)，其中所述光源(1)与用于接收接收光的接收器(2)相关联，其中光路(4)从所述光源(1)穿过可填充有介质(15)的测量腔室(5)延伸到所述接收器(2)，其中所述透射光，借助于相互作用一具体地，吸收、散射、以及荧光一能够取决于所述被测量参数，沿着所述光路(4)被转换成所述接收光，其中接收器信号能够由被转换的所述接收光产生，并且其中所述被测量值能够由所述接收器信号确定；以及-与所述光源(1)相关联的至少一个监视单元(6)，具有用于监视所述光源(1)的敏感元件(8)，其中所述监视单元(6)接收所述透射光，其特征在于：所述监视单元(6)的所述敏感元件(8)指向所述光路(4)的方向并且接收来自与所述光路(4)相反的方向的光。2.根据权利要求1所述的器件(20)，其中所述光源(1)和所述监视单元(6)是SMD部件...

【专利技术属性】
技术研发人员：本杰明·贝尔奇，蒂洛·克拉齐穆尔，拉尔夫·伯恩哈特，
申请(专利权)人：恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE