测试用连接装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种测试用连接装置，用于将检测装置上的输入接口与待测装置上的探针连接，所述测试用连接装置包括连接板及连接座，所述连接座上设有连接柱，所述输入接口与所述连接柱的一端插接，所述连接柱的另一端设有收容孔且插接在所述连接板上，所述探针穿过所述连接板插接在所述收容孔内，以使所述探针与所述输入接口电性连接。本实用新型专利技术中的测试用连接装置，当对所述待测装置进行检测时，只需将所述待测装置上的所述探针穿过所述连接板插接在所述连接柱一端的所述收容孔内，并将所述连接柱的另一端插接在所述输入接口上，从而使得所述探针与所述输入接口电性连接，即可使得所述待测装置与所述检测装置实现数据传输，以完成检测动作。

Connecting device for testing

The utility model provides a connecting device for testing, for the input interface on the detection device and a test probe device connected to the test connecting device comprises a connecting plate and a connecting seat, the connecting seat is provided with a connecting column, one end of the input interface is connected with the column plug, the the connecting column and the other end is provided with a containing hole plug connection on the board, the probe through the connecting plate is inserted into the accommodating hole, so that the probe and the input interface is electrically connected. Connecting device of the utility model is used for the test, when the device under test were detected when only the housing hole will be the the probe on the device through the connecting plate is inserted into the connecting end of the column, and the other end is inserted in the connecting column. The input interface, so that the probe and the input interface is electrically connected to the measuring device and the detection device to achieve data transmission, to complete the detection of action.

【技术实现步骤摘要】
测试用连接装置
本技术涉及一种测试用连接装置。
技术介绍
随着电子技术的不断发展，为了减小电子设备的体积，往往将电子设备当中的电子元件尽可能的集成在印刷电路板上，从而达到减小电子设备体积的目的，因此印刷电路板广泛运用于我们生活当中。目前在生成印刷电路板的过程当中，需要通过检测设备对印刷电路板的参数进行检测，判断是否与预设的参数一致，现有技术中，目前在检测过程当中，需要将印刷电路板上的待检测部位所对应的探针焊接在连接接口的线路上，以实现通过连接接口与检测设备进行数据通信，从而到达参数检测的目的。上述检测方法，在焊接探针的过程当中，通常是通过人工焊接，一方面焊接过程繁琐且焊接时间长，影响印刷电路板的生产效率，另一方面同时容易焊接错误，一旦焊接错误，需要投入大量的精力对焊接线路进行排查和维护，因此目前印刷电路板在检测参数时，由于没有连接方便的测试用连接装置，从而导致只能通过人工焊线的方式来与检测设备连接，严重影响了印刷电路板的检测和生产效率。
技术实现思路
基于此，本技术的目的是提供一种连接方便的测试用连接装置。一种测试用连接装置，用于将检测装置上的输入接口与待测装置上的探针连接，所述测试用连接装置包括连接板及连接座，所述连接座上设有连接柱，所述输入接口与所述连接柱的一端插接，所述连接柱的另一端设有收容孔且插接在所述连接板上，所述探针穿过所述连接板插接在所述收容孔内，以使所述探针与所述输入接口电性连接。上述测试用连接装置，通过设置的所述连接板和所述连接座，当需要对所述待测装置进行检测时，只需将所述待测装置上的所述探针穿过所述连接板插接在所述连接柱一端的所述收容孔内，并将所述连接柱的另一端插接在所述输入接口上，从而使得所述探针与所述输入接口电性连接，进而使得所述待测装置与所述检测装置实现数据传输，以完成检测动作。因此所述测试用连接装置，结构简单且连接及拆卸方便，大大提高所述待测装置的检测效率。进一步地，所述连接座的一侧表面上设有卡接槽，所述输入接口与所述连接柱插接时，所述输入接口卡接在所述卡接槽内。进一步地，所述连接柱呈条状，所述连接柱包括第一段柱体及第二段柱体，所述第一段柱体设于所述卡接槽的底部且与所述输入接口插接。进一步地，所述第二段柱体设于所述连接座的另一侧表面上，且与所述第一段柱体处于同一直线上。进一步地，所述收容孔设于所述第二段柱体上，且延伸至所述第一段柱体内。进一步地，所述第二段柱体设于一个第一凹槽的底部，所述第一凹槽的深度小于所述第二段柱体的长度。进一步地，所述连接板上设有通孔，所述第二段柱体插接在所述通孔上，所述探针穿过所述通孔插接在所述收容孔内。进一步地，所述卡接槽包括第一槽壁，所述第一槽壁远离所述卡接槽的底部的一侧设有第一缺口。进一步地，所述第一槽壁的外侧表面上设有与所述卡接槽连通的两个第二凹槽，所述两个第二凹槽分别设于所述第一缺口的两侧的相应位置上，且与所述连接座位于所述第二段柱体的一侧表面连通。进一步地，所述卡接槽包括与所述一槽壁相邻的两个第二槽壁，所述两个第二槽壁的相应位置上均设有第二缺口，所述第二缺口位于所述第二槽壁远离所述卡接槽的底部的一侧，所述第二缺口的宽度小于所述第一缺口的宽度。附图说明图1为本技术第一实施例中的测试用连接装置与待测装置和检测装置连接的立体结构分解图。图2为本技术第一实施例中的测试用连接装置与待测装置和检测装置连接的立体结构图。图3为本技术第一实施例中的测试用连接装置的立体结构图。图4为连接座的结构示意图。图5为图4中I处的放大图。主要元件符号说明测试用连接装置100检测装置200输入接口210待测装置300探针310连接板10连接座20通孔11卡接槽21连接柱22收容孔23第一槽壁211第二槽壁212第一缺口2111第二凹槽2112第二缺口2121第一段柱体221第二段柱体222第一凹槽24如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。具体实施方式为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的若干实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参阅图1至图2，所示为本技术第一实施例中的测试用连接装置与待测装置和检测装置连接的结构示意图，所述测试用连接装置100用于将检测装置200上的输入接口210与待测装置300上的探针310连接，所述测试用连接装置100包括连接板10及与所述连接板10连接的连接座20。请参阅图3至图5，所示为本技术第一实施例中的测试用连接装置100，所述连接板10上设有通孔11，所述连接板10用于与所述待测装300连接，且当所述待测装置300与所述连接板10连接时，所述待测装置300上的所述探针310穿过所述通孔11与所述连接座20连接。在本实施例当中，所述连接板10上设有多个所述通孔11，并且所有的所述通孔11相互平行且间隔设置，所述待测装置300上设有与所述通孔11的数量和位置对应的多个所述探针310，所述连接板10与所述待测装置300连接时，所有的所述探针310均穿过对应位置上的所述通孔11与所述连接座20连接。所述连接座20用于与所述检测装置200上的所述输入接口210连接，所述连接座20上设有卡接槽21及连接柱22，所述输入接口210与所述连接柱22的一端插接，所述连接柱22的另一端设有收容孔23且插接在所述通孔11上，所述探针310穿过所述通孔11插接在所述收容孔23内，以实现将所述探针310与所述输入接口210电性连接，进而将所述待测装置300与所述检测装置200电性连接，以实现数据传输。其中，所述卡接槽21设于所述连接座20的一侧表面上，当所述输入接口210与所述连接柱22插接时，所述输入接口210卡接在所述卡接槽21内。具体的，所述卡接槽21包括第一槽壁211及与所述一槽壁211相邻的两个第二槽壁212。所述第一槽壁211远离所述卡接槽21的底部的一侧设有第一缺口2111，所述第一槽壁211的外侧表面上设有分别与所述卡接槽21连通的两个第二凹槽2112，所述两个第二凹槽2112分别设于所述第一缺口2111的两侧的相应位置上。所述两个第二槽壁212的相应位置上均设有第二缺口2121，所述第二缺口2121位于所述第二槽壁212远离所述卡接槽21的底部的一侧，所述第二缺口2121的宽度小于所述第一缺口2111的宽度。具体的，所述连接柱22呈条状，所述连接柱22包括第一段柱体221及第二段本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试用连接装置，用于将检测装置上的输入接口与待测装置上的探针连接，其特征在于：所述测试用连接装置包括连接板及连接座，所述连接座上设有连接柱，所述输入接口与所述连接柱的一端插接，所述连接柱的另一端设有收容孔且插接在所述连接板上，所述探针穿过所述连接板插接在所述收容孔内，以使所述探针与所述输入接口电性连接。

【技术特征摘要】
1.一种测试用连接装置，用于将检测装置上的输入接口与待测装置上的探针连接，其特征在于：所述测试用连接装置包括连接板及连接座，所述连接座上设有连接柱，所述输入接口与所述连接柱的一端插接，所述连接柱的另一端设有收容孔且插接在所述连接板上，所述探针穿过所述连接板插接在所述收容孔内，以使所述探针与所述输入接口电性连接。2.根据权利要求1所述的测试用连接装置，其特征在于：所述连接座的一侧表面上设有卡接槽，所述输入接口与所述连接柱插接时，所述输入接口卡接在所述卡接槽内。3.根据权利要求2所述的测试用连接装置，其特征在于：所述连接柱呈条状，所述连接柱包括第一段柱体及第二段柱体，所述第一段柱体设于所述卡接槽的底部且与所述输入接口插接。4.根据权利要求3所述的测试用连接装置，其特征在于：所述第二段柱体设于所述连接座的另一侧表面上，且与所述第一段柱体处于同一直线上。5.根据权利要求4所述的测试用连接装置，其特征在于：所述收容孔设于所述第二段柱体上，且延伸至所述第一段柱体内。...

【专利技术属性】
技术研发人员：谯修理，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44