一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具制造技术

本实用新型专利技术提供的一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，它包括夹持件和推压装置，夹持件由包括夹持端和夹头构成的小钳形工具，推压装置包括位于推压座的滑槽中的推压柱，推压装置的推压座固定于夹持件的夹头处。克服了原由手捏拿试样打磨抛光因捏拿不稳而造成擦伤手指、效率低下、影响打磨抛光效果和打磨精度的问题。该结构可对超小尺寸易碎试样进行夹持打磨抛光，无需手指直接接触试样，具有打磨抛光效率高、效果更好、精度高和不擦伤手指的特点，且不易破坏试样原有的性能。

【技术实现步骤摘要】
一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具
本技术涉及一种试样的打磨抛光夹持工具，特别是适用于用于超小尺寸易碎试样的专用装夹工具。
技术介绍
多数材料在制造加工过程中，需要对产品的质量、性能进行控制及研究，如陶瓷试样在进行扫描电镜测试之前，常常需要经过打磨抛光和腐蚀，对于硬度较高的陶瓷材料可以采用镶样、打磨、腐蚀，之后破碎取样的方法，但有些功能陶瓷的价值在于其电学、光学性能，其本身的强度硬度并不高，所以镶样后破碎容易使陶瓷样品遭到破坏；另外，由于扫描电镜测试对样品的尺寸也有要求，一般都要在几个毫米的范围内，用手指拿捏打磨抛光不方便，时间长了容易疲劳，拿捏不稳而影响打磨抛光效果，影响打磨精度，同时手指容易擦伤。综上所述，对于超小尺寸易碎试样的打磨抛光是扫描电镜试样制备的必要步骤，且打磨抛光质量对扫描电镜测试的质量有直接影响。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，在不镶样的前提下能够夹持超小尺寸易碎试样在磨抛机上打磨抛光，且能降低操作时造成擦伤的几率。为解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是：一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，它包括夹持件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，其特征是：它包括夹持件（1）和推压装置（2），所述的夹持件（1）由包括夹持端（11）和夹头（12）构成的钳形工具，推压装置（2）包括位于推压座（21）的滑槽（211）中的推压柱（22），推压装置（2）的推压座（21）固定于夹持件（1）的夹头（12）处。

【技术特征摘要】
1.一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，其特征是：它包括夹持件（1）和推压装置（2），所述的夹持件（1）由包括夹持端（11）和夹头（12）构成的钳形工具，推压装置（2）包括位于推压座（21）的滑槽（211）中的推压柱（22），推压装置（2）的推压座（21）固定于夹持件（1）的夹头（12）处。2.根据权利要求1所述的一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，其特征是：所述的夹持件（1）的夹头（12）为尖头、平头、弯头或扁头。3.根据权利要求1所述的一种用于超小尺寸易碎试样的打磨夹持工具，其特征是：所述的推压装置（2）的推压座（21）与夹持件（1）的夹头（12）的固定方式为铆接、焊接或粘接。4.根据权利要求1所述的一种用于超小尺寸易碎...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶林龙，孙宜华，李明明，
申请(专利权)人：三峡大学，
类型：新型
国别省市：湖北,42