一种基于零偏微波反射和超导氮化铌测辐射热计的检测器制造技术

本发明专利技术公开了一种基于零偏微波反射和超导氮化铌测辐射热计的检测器，包括低温杜瓦、超导氮化铌测辐射热计芯片、聚焦透镜、环形器、微波源和信号放大器。低温杜瓦设有透明窗。超导氮化铌测辐射热计芯片设置于低温杜瓦内。聚焦透镜用于将进入低温杜瓦内的太赫兹波聚焦于超导氮化铌测辐射热计芯片上。环形器的三个端口分别连接微波源、超导氮化铌测辐射热计芯片和信号放大器的输入端口。信号放大器的输出端口连接信号检测接口。超导氮化铌测辐射热计芯片不连接偏置源。

【技术实现步骤摘要】
一种基于零偏微波反射和超导氮化铌测辐射热计的检测器
本专利技术涉及基于超导氮化铌测辐射热计的太赫兹波信号检测。
技术介绍
2017年4月16日公开的专利文献CN106595878A公开了一种基于信号偏置和超导氮化铌测辐射热计的检测器。该检测器的直流电源和偏置器组成偏置源。该检测器通过将偏置源所产生的偏置电流和偏置信号发生器产生的微波信号输入至超导氮化铌测辐射热计芯片，然后对超导氮化铌测辐射热计反射回来的信号经信号放大器放大后进行检测，从而实现对太赫兹波的检测。该检测器存在以下两个问题：第一个问题是直流电源容易将外部信号耦合到超导氮化铌测辐射热计芯片上，而产生检测不准确的问题。第二个问题是超导氮化铌测辐射热计芯片非常脆弱容易被偏置源所产生的偏置电流所损坏。超导氮化铌测辐射热计芯片的有效工作部分是一个很小的氮化铌薄膜微桥，特别容易被电流脉冲坏，而偏置源输入偏置电流中非常容易产生高强度的脉冲电流将超导氮化铌测辐射热计芯片损坏。
技术实现思路
本专利技术所要解决的问题是现有技术中基于偏置源和超导氮化铌测辐射热计的太赫兹检测器的所存在的缺陷。为解决上述问题，本专利技术采用的方案如下：一种基于零偏微本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于零偏微波反射和超导氮化铌测辐射热计的检测器，其特征在于，包括低温杜瓦、超导氮化铌测辐射热计芯片、聚焦透镜、环形器、微波源和信号放大器；所述低温杜瓦设有透明窗，使得光波或电磁波能够通过所述透明窗进入所述低温杜瓦的内部；所述超导氮化铌测辐射热计芯片设置于低温杜瓦内；所述聚焦透镜用于将进入所述低温杜瓦内的太赫兹波聚焦于所述超导氮化铌测辐射热计芯片上；所述环形器为三端口环形器；所述环形器的三个端口分别为第一端口、第二端口和第三端口，并且信号只能按第一端口至第二端口至第三端口至第一端口进行单向传输；所述环形器的第一端口连接所述微波源；所述环形器的第二端口连接所述超导氮化铌测辐射热计芯片；所述环形...

【技术特征摘要】
1.一种基于零偏微波反射和超导氮化铌测辐射热计的检测器，其特征在于，包括低温杜瓦、超导氮化铌测辐射热计芯片、聚焦透镜、环形器、微波源和信号放大器；所述低温杜瓦设有透明窗，使得光波或电磁波能够通过所述透明窗进入所述低温杜瓦的内部；所述超导氮化铌测辐射热计芯片设置于低温杜瓦内；所述聚焦透镜用于将进入所述低温杜瓦内的太赫兹波聚焦于所述超导氮化铌测辐射热计芯片上；所述环形器为三端口环形器；所述环形器的三个端口分别为第一端口、第二端口和第三端口，并且信号只能按第一端口至第二端口至第三端口至第一端口进行单向传输；所述环形器的第一端口连接所述微波源；所述环形器的第二端口连接所述超导氮化铌测辐射热计芯片；所述环形器的第三端口连接所述信号放大器的输入端口；所述信号放大器的输出端口连接信号检测接口；所述微波源用于生成注入的微波信号；所述检测接口用于连接信号分析仪；所述信号放大器用于放大从所述超导氮化铌测辐射热计芯片反射回来的微弱微波信号。2.如权利要求1所述的基于零偏微波反射和超导氮化铌测辐射热计的检测器，...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜寿禄，陈健，贾小氢，康琳，金飚兵，许伟伟，吴培亨，
申请(专利权)人：南京大学，
类型：发明
国别省市：江苏,32