一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法及装置，其中该方法包括：沿晶体的长度方向，将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面；在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器；将点放射源依次放置到所述晶体沿长度方向的一侧且与所述网状横截面对齐的位置处，进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量。由此，通过对晶体实现的上述处理，能够使得点放射源对晶体侧面的均匀照射程度较高，从而达到测得的相互作用深度相关数据准确性较高的目的。

Method and device for measuring interaction depth between PET detector and crystal

The invention discloses a method and device for measuring PET crystal detector and the depth of interaction, wherein the method comprises: along the length direction of the crystal and process into mesh cross section will be crystal location of every preset distance; the two ends of the crystal along the length direction are respectively coupled to a PET detector; point source will be placed to the side of the crystal along the length direction and position and the mesh cross section alignment, measurement of the PET detector and the crystal depth of interaction. Thus, by the above processing of the crystal, the radiation of the point source can be uniformly irradiated on the side of the crystal, so as to achieve the purpose that the measured data of the interaction depth is relatively accurate.

【技术实现步骤摘要】
一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法及装置
本专利技术涉及电子发射断层显像成像
，更具体地说，涉及一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法及装置。
技术介绍
随着近年来PET探测器整体的发展，PET探测器已经成为诊断各种脑疾病的主要工具，对作为脑部扫描工具的PET探测器的分辨率以及灵敏度的要求非常高。一般来说在PET探测器使用长而窄的晶体来保证PET探测器的探测效率的同时保证其具有很高的分辨率和灵敏度。而这种形状的晶体容易导致点源的射线发生偏移进而导致对应空间分辨率变差，这种现象通常可以通过确定PET探测器与晶体相互作用深度位置来解决。具体来说，现有技术中通常是将晶体两端分别与探测器耦合，然后将点放射源放置到晶体侧面的不同位置进行照射，对应的第三个探测器与点放射源的位置相对应，从而通过第三个探测器与晶体两端的探测器的信号综合计算出PET探测器与晶体相互作用不同位置处的作用深度曲线。其中如果点放射源能够实现对晶体侧面的均匀照射，则能够保证测量所得信号的准确性高，但是通过上述方式能够达到的对晶体侧面的均匀照射的程度较低，因此导致测量得到的信号准确性较低，进而导致计算得出的作用深度曲线的准确性较低。综上所述，现有技术中用于实现测量PET探测器与晶体相互作用深度相关数据的技术方案存在准确性较低的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法及装置，以解决现有技术中用于实现测量PET探测器与晶体相互作用深度相关数据的技术方案存在的准确性较低的问题。为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法，包括：沿晶体的长度方向，将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面；在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器；将点放射源依次放置到所述晶体沿长度方向的一侧且与所述网状横截面对齐的位置处，进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量。优选的，在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器之前，还包括：将所述晶体沿长度方向的侧面采用ESR反射层包裹。优选的，进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量之后，还包括：获取进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量得到的作用数据，并基于所述作用数据生成对应的作用深度曲线及能谱曲线。优选的，基于所述作用数据生成对应的作用深度曲线及能谱曲线之后，还包括：将所述作用深度曲线及所述能谱曲线发送至指定终端。一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量装置，包括：处理模块，用于：沿晶体的长度方向，将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面；耦合模块，用于：在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器；测量模块，用于：将点放射源依次放置到所述晶体沿长度方向的一侧且与所述网状横截面对齐的位置处，进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量。优选的，还包括：包裹模块，用于：在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器之前，将所述晶体沿长度方向的侧面采用ESR反射层包裹。优选的，还包括：生成模块，用于：进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量之后，获取进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量得到的作用数据，并基于所述作用数据生成对应的作用深度曲线及能谱曲线。优选的，还包括：发送模块，用于：基于所述作用数据生成对应的作用深度曲线及能谱曲线之后，将所述作用深度曲线及所述能谱曲线发送至指定终端。本专利技术提供了一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法及装置，其中该方法包括：沿晶体的长度方向，将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面；在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器；将点放射源依次放置到所述晶体沿长度方向的一侧且与所述网状横截面对齐的位置处，进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量。本申请公开的技术特征中，将晶体沿长度方向每隔预设距离的位置处的横截面处理为网状横截面，然后在晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器，最后通过点放射源依次放置到晶体沿长度方向的一侧且与网状横截面对齐的位置处实现PET探测器与晶体相互作用深度的测量。由此，通过对晶体实现的上述处理，能够使得点放射源对晶体侧面的均匀照射程度较高，从而达到测得的相互作用深度相关数据准确性较高的目的。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法中晶体示意图；图3为本专利技术实施例提供的一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法中晶体与PET探测器的耦合示意图；图4为本专利技术实施例提供的一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法中作用深度曲线的示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法中能谱曲线的示意图；图6为本专利技术实施例提供的一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1，其示出了本专利技术实施例提供的一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法的流程图，可以包括：S11：沿晶体的长度方向，将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面。在
技术介绍
中已经提到，用于实现与PET探测器相互作用深度测量的晶体是长而窄的，本申请中使用的晶体与
技术介绍
中使用的晶体形态相同，在此不做赘述。本申请中采用激光对晶体进行工艺处理，具体可以如图2所示，其中预设距离可以根据实际需要进行设定，图2所示预设距离的取值为5mm，当然网状横截面的网状具体形态也可以根据实际需要进行设定，图2所示为其中一种方式。通过上述对晶体的处理能够提高晶体内光的传输能力，而希望点放射源能够对晶体均匀照射的目的也即使得光能够在晶体内传输能力提高，因此通过上述方式提高晶体内光的传输能力也即使得点放射源达到对晶体近乎均匀照射的效果。S12：在晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器。以图2所示的晶体为例，本申请中在晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器得到的结构可以如图3所示，以与现有技术中相同的实现原理使得两个PET探测器能够在实现测量时进行双端读出。S13：将点放射源依次放置到晶体沿长度方向的一侧且与网状横截面对齐的位置处，进行PET探测器与晶体相互作用深度的测量。其中，点放射源放置在每个网状横截面时与网状横截面对齐的方式具体可以是：为点放射源向侧面做投影得到对应的投影点，该投影点包含于此次放置的网状横截面与侧面的相交点中。当然也可以与现有技术中将点放射源放置到晶体本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法，其特征在于，包括：沿晶体的长度方向，将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面；在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器；将点放射源依次放置到所述晶体沿长度方向的一侧且与所述网状横截面对齐的位置处，进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量。

【技术特征摘要】
1.一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量方法，其特征在于，包括：沿晶体的长度方向，将晶体上每隔预设距离的位置处的横截面进行工艺处理成网状横截面；在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器；将点放射源依次放置到所述晶体沿长度方向的一侧且与所述网状横截面对齐的位置处，进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述晶体沿长度方向的两端分别耦合一个PET探测器之前，还包括：将所述晶体沿长度方向的侧面采用ESR反射层包裹。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量之后，还包括：获取进行所述PET探测器与所述晶体相互作用深度的测量得到的作用数据，并基于所述作用数据生成对应的作用深度曲线及能谱曲线。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，基于所述作用数据生成对应的作用深度曲线及能谱曲线之后，还包括：将所述作用深度曲线及所述能谱曲线发送至指定终端。5.一种PET探测器与晶体相互作用深度的测量装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯凯，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：广东,44