处理未对准块传送操作制造技术

本发明专利技术描述用于处理未对准块传送BLT命令的技术。本发明专利技术的所述技术可涉及将未对准BLT命令转换为多个对准BLT命令，其中所述多个对准BLT命令可集体地产生与所述未对准BLT命令本应产生的存储器状态相同的所得存储器状态。本发明专利技术的所述技术可允许在不需要CPU预处理和/或后处理基础未对准表面的情况下可实现针对未对准BLT命令的相对低功率的GPU加速BLT处理的益处。以此方式，可改善在基于对准约束GPU的系统中与处理未对准BLT命令相关联的性能和/或功率消耗。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】处理未对准块传送操作
本专利技术涉及图形处理，且更确切地说，涉及用于利用图形处理器执行块传送(BLT)操作的技术。
技术介绍
图形处理单元(GPU)通常执行BLT操作以将源表面区域复制到目的地表面区域，或将多个源表面的对应区域合成到目的地表面的单个对应区域中。GPU可包含用于将表面写入到存储器和从存储器读取表面作为BLT操作的部分的专用硬件。用于写入和读取的GPU硬件可能具有需要满足的各种对准约束条件，以便成功地服务BLT命令。如果BLT命令不满足此类对准约束条件，则所述GPU硬件可能不能够服务所述BLT命令。
技术实现思路
本专利技术描述用于处理未对准BLT命令的技术。未对准BLT命令可指不满足对准约束GPU的对准约束条件且因此可能不能够被GPU处理的BLT命令。本专利技术的技术可涉及将未对准BLT命令转换为多个对准BLT命令，其中所述多个对准BLT命令可集体地产生与未对准BLT命令本应产生的存储器状态相同的所得存储器状态。然而，不同于未对准BLT命令，多个对准BLT命令可满足GPU的对准约束条件，并且因此能够被GPU处理。相对于使用中央处理单元(CPU)，使用GPU来处理BLT命令可本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，其包括：通过一或多个处理器将未对准块传送BLT命令转换为多个对准BLT命令。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.12.10 US 14/566,4231.一种方法，其包括：通过一或多个处理器将未对准块传送BLT命令转换为多个对准BLT命令。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述未对准BLT命令指定与所述未对准BLT命令相关联的表面中的至少一者的第一表面宽度，且其中转换所述未对准BLT命令包括：基于所述第一表面宽度确定第二表面宽度，其中所述第二表面宽度是所述第一表面宽度的N倍，其中N是大于或等于二的整数；以及产生所述多个对准BLT命令，使得所述多个对准BLT命令中的每一者指定与所述多个对准BLT命令中的每一者相关联的所述表面中的至少一者的所述第二表面宽度。3.根据权利要求2所述的方法，其中确定所述第二表面宽度包括基于所述第一表面宽度和与执行所述多个对准BLT命令的处理器相关联的预定对准宽度约束条件来确定所述第二表面宽度。4.根据权利要求3所述的方法，其中所述第一表面宽度并非是所述预定对准宽度约束条件的整数倍数，且其中基于所述第一表面宽度和所述预定对准宽度约束条件确定所述第二表面宽度包括确定所述第二表面宽度以使得所述第二表面宽度是所述预定对准宽度约束条件的整数倍数。5.根据权利要求2所述的方法，其中N等于2。6.根据权利要求2所述的方法，其中所述多个对准BLT命令包括第一对准BLT命令和第二对准BLT命令，其中所述未对准BLT命令指定第一BLT区域，且其中产生所述多个对准BLT命令包括：基于所述第一BLT区域确定第二BLT区域和第三BLT区域，所述第二BLT区域不同于所述第三BLT区域；产生所述第一对准BLT命令，使得所述第一对准BLT命令指定所述第二BLT区域；以及产生所述第二对准BLT命令，使得所述第二对准BLT命令指定所述第三BLT区域。7.根据权利要求6所述的方法，其中所述第二BLT区域包含所述第一BLT区域的偶数行，且所述第三BLT区域包含所述第一BLT区域的奇数行。8.根据权利要求2所述的方法，其中所述未对准BLT命令指定与所述未对准BLT命令相关联的第一表面的第一表面指针值，且其中产生所述多个对准BLT命令包括：产生所述多个对准BLT命令，使得所述多个对准BLT命令中的每一者指定与所述多个对准BLT命令中的每一者相关联的所述表面中的一者的所述第一表面指针值。9.根据权利要求8所述的方法，其中所述多个对准BLT命令包括第一对准BLT命令和第二对准BLT命令，其中所述未对准BLT命令指定第一BLT区域，且其中产生所述多个对准BLT命令包括：基于所述第一BLT区域确定第二BLT区域和第三BLT区域，所述第二BLT区域不同于所述第三BLT区域；产生所述第一对准BLT命令，使得所述第一对准BLT命令指定所述第二表面宽度、所述第一表面指针值和所述第二BLT区域；以及产生所述第二对准BLT命令，使得所述第二对准BLT命令指定所述第二表面宽度、所述第一表面指针值和所述第三BLT区域。10.根据权利要求9所述的方法，其中所述第二BLT区域包含所述第一BLT区域的偶数行，且所述第三BLT区域包含所述第一BLT区域的奇数行。11.根据权利要求2所述的方法，其中所述未对准BLT命令指定与所述未对准BLT命令相关联的第一表面的第一表面指针值，其中所述第一表面指针值并非是与执行所述多个对准BLT命令的处理器相关联的预定对准宽度约束条件的整数倍数，其中所述多个对准BLT命令包括第一对准BLT命令和第二对准BLT命令，且其中产生所述多个对准BLT命令包括：基于所述第一表面指针值和所述预定对准宽度约束条件确定第二表面指针值和第三表面指针值，使得所述第二和第三表面指针值是所述预定对准宽度约束条件的不同整数倍数；产生所述第一对准BLT命令，使得所述第一对准BLT命令指定与所述第一对准BLT命令相关联的所述表面中的一者的所述第二表面指针值；以及产生所述第二对准BLT命令，使得所述第二对准BLT命令指定与所述第二对准BLT命令相关联的所述表面中的一者的所述第三表面指针值。12.根据权利要求11所述的方法，其中所述第二表面指针值小于所述第一表面指针值，且所述第三表面指针值大于所述第一表面指针值。13.根据权利要求11所述的方法，其中所述未对准BLT命令指定第一BLT区域，其中产生所述多个对准BLT命令包括基于所述第一BLT区域确定第二BLT区域和第三BLT区域，所述第二BLT区域不同于所述第三BLT区域，其中产生所述第一对准BLT命令包括产生所述第一对准BLT命令，使得所述第一对准BLT命令指定所述第二表面宽度、所述第二表面指针值和所述第二BLT区域；且其中产生所述第二对准BLT命令包括产生所述第二对准BLT命令，使得所述第二对准BLT命令指定所述第二表面宽度、所述第三表面指针值和所述第三BLT区域。14.根据权利要求13所述的方法，其中所述第二BLT区域包含所述第一BLT区域的偶数行，且所述第三BLT区域包含所述第一BLT区域的奇数行。15.一种包括一或多个处理器的装置，所述一或多...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·E·格鲁贝尔，
申请(专利权)人：高通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国,US