一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪制造技术

本发明专利技术公开了一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪，包括基座底板、基座支架下偏光组件和上偏光组件，所述基座支架竖直设置在所述基座底板的一侧，所述偏光显微镜通过固定装置安装在所述基座底板上，所述下偏光组件安装在所述基座支架的中下部，所述上偏光组件安装在所述基座支架的上部。本发明专利技术偏光显微镜的自动偏光仪通过上偏光组件和下偏光组件的配合实现正交偏振光镜检和单偏振光镜检的自动化操作，同时能够进行精确度量，增加镜检准确度。

Polarizing microscope for mineral identification

The invention discloses a method for polarizer polarizing microscope of the mineral identification, which comprises a base plate, a pedestal bracket under the polarizing component and the upper polarizing component, wherein the base bracket is vertically arranged at one side of the base plate, wherein the polarizing microscope mounted on the base plate through a fixing device, wherein the polarizing component mounted on the base bracket in the lower part, the upper polarizing component mounted on the support. The invention of automatic polarimeter polarizing microscope automated orthogonal polarized light microscopy and polarized light microscopy with single upper polarizing component and a polarization component, at the same time, accurate measurement, increase the examination accuracy.

【技术实现步骤摘要】
一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪
本专利技术涉及偏光显微镜领域，尤其涉及一种用于矿物鉴定偏光显微镜的偏光仪领域。
技术介绍
偏光显微镜是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜，在地质学领域的岩石矿物鉴定中有重要应用，凡具有双折射的物质，在偏光显微镜下就能分辨的清楚，当然这些物质也可用染色法来进行观察，但有些则不可能，而必须利用偏光显微镜。反射偏光显微镜是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器，可供广大用户做单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。目前大部分偏光显微镜的起振片和检振片在使用时均固定角度，不能够转动，而是通过转动载玻片，从而改变载玻片上的物质在偏振光下的角度，再通过计算机或者人眼进行识别，识别度较低，同时不能够进行二次检验。
技术实现思路
本专利技术所要解决的问题是提供一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪，该偏光仪可以实现交偏振光镜检和单偏振光镜检的自动化操作，进行精确度量，增加镜检准确度。本专利技术所采用的技术方案是：一种偏光显微镜的自动偏光仪，包括基座底板、基座支架、下偏光组件和上偏光组件，所述基座支架竖直设置在所述基座底板的一侧，所述偏光显微镜通过固定装置安装在所述基座底板上，所述下偏光组件安装在所述基座支架的中下部，所述上偏光组件安装在所述基座支架的上部。具体地，所述上偏光组件包括上偏光架壳体、上偏光片和上偏光驱动系统，所述上偏光架壳体的第一端设置在所述基座支架内，所述上偏光架壳体的第二端设置有第一透光孔，所述上偏光片通过上偏光片轮安装在所述第一透光孔内，所述上偏光驱动系统设置在所述上偏光架壳体的第一端内部，且与所述上偏光片轮连接，所述上偏光架壳体上设置有上偏光架盖板。具体地，所述上偏光架壳体的第二端插入所述偏光显微镜的检振片插口，所述上偏光驱动系统包括上偏光步进电机、上偏光控制器、上传动轮、第一上同步带和第二上同步带，所述上偏光控制器和所述上偏光步进电机通过控制器支架和电机支架固定在所述上偏光架壳体的上侧面，所述上传动轮的转轴与所述上偏光控制器连接，所述上传动轮的轮体通过第一上同步带与所述上偏光步进电机的转矩输出轴连接，所述上传动轮的轮体通过第二上同步带与所述上偏光片轮连接，所述上偏光控制器的控制信号输出端与所述上偏光步进电机连接。进一步，所述上偏光架壳体的第二端还设置有第二透光孔，所述第二透光孔位于所述第一透光孔的外端，所述第二透光孔内设置有减光片。进一步，所述上偏光架壳体的第二端还设置有第二透光孔，所述第二透光孔位于所述第一透光孔的外端，所述第二透光孔内设置有减光片。具体地，所述上偏光驱动系统还包括单光步进电机、光电开关、电机连接板和直线滑轨，所述直线滑轨设置在所述电机连接板的上表面，所述上偏光架壳体的下表面设置有导轨滑块，所述导轨滑块设置在所述直线滑轨内，所述单光步进电机与所述电机连接板的下表面固定连接，所述上偏光架壳体的底面侧边上设置有齿条，所述单光步进电机的转矩输出轴上设置有齿轮，所述齿轮与所述齿条啮合，所述光电开关设置在所述直线滑轨的外端，所述光电开关的信号输出端与所述上偏光控制器的信号输入端连接，所述单光步进电机的控制信号输入端与所述上偏光控制器的控制信号输出端连接。具体地，所述下偏光组件包括下偏光架壳体、下偏光片和下偏光驱动系统，所述下偏光架壳体的第一端设置在所述基座支架内，所述下偏光架壳体的第二端设置有第二透光孔，所述下偏光片通过下偏光片轮安装在所述第三透光孔内，所述下偏光驱动系统设置在所述上偏光架壳体的第一端内部，且与所述下偏光片轮连接，所述下偏光架壳体上设置有下偏光架盖板。具体地，所述下偏光驱动系统包括下偏光步进电机、下偏光控制器和下传动轮，所述下偏光控制器通过固定套安装在所述下偏光架壳体的上表面上，所述下偏光步进电机安装在所述下偏光架的下表面上，所述下传动轮的转轴分别与所述下偏光步进电机的转矩输出轴和所述下偏光控制器连接，所述下传动轮的转轮通过下同步带与所述下偏光片轮连接，所述下偏光控制器的控制信号输出端与所述下偏光步进电机的控制信号输入端连接。本专利技术的有益效果在于：本专利技术用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪通过上偏光组件和下偏光组件的配合实现正交偏振光镜检和单偏振光镜检的自动化操作，同时能够进行精确度量，增加镜检准确度。附图说明图1是本专利技术所述用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪的使用示意图；图2是本专利技术所述用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪的整体剖视图；图3是本专利技术所述上偏光组件的立体图；图4是本专利技术所述上偏光组件的侧视图；图5是图4的A-A截面图；图6是图4的J-J截面图；图7是本专利技术所述下偏光组件的剖视图。其中：100-偏光显微镜，200-基座底板，300-基座支架，400-下偏光组件，500-上偏光组件，401-下偏光架壳体，402-下偏光步进电机，403-下偏光控制器，404-下偏光片，405-下传动轮，406-下偏光片轮，407-下固定套，408-下偏光架盖板，501-上偏光架壳体，502-上偏光架盖板，503-上传动轮，504-上偏光片轮，505-上偏光控制器，506-上偏光步进电机，507-控制器支架，508-上偏光片，509-单光步进电机，510-直线导轨，511-齿轮，512-电机连接板，513-第一上同步带，514-第二上同步带，515-光电开关，516-减光片，517-电机支架具体实施方式下面结合附图与具体实施例对本专利技术进行详细说明。如图1和图2所示，本专利技术一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪，包括基座底板200、基座支架300、下偏光组件400和上偏光组件500，基座支架300竖直设置在基座底板200的一侧，偏光显微镜100通过固定装置安装在基座底板200上，下偏光组件400安装在基座支架300的中下部，上偏光组件500安装在基座支架300的上部。如图3、图4、图5和图6所示，上偏光组件500包括上偏光架壳体501、上偏光片508和上偏光驱动系统，上偏光架壳体501的第一端设置在基座支架300内，上偏光架壳体501的第二端设置有第一透光孔，上偏光片508通过上偏光片轮504安装在第一透光孔内，上偏光驱动系统设置在上偏光架壳体501的第一端内部，且与上偏光片轮504连接，上偏光架壳体501上设置有上偏光架盖板502，上偏光架壳体501的第二端插入偏光显微镜100的检振片插口，上偏光驱动系统包括上偏光步进电机506、上偏光控制器505、上传动轮503、第一上同步带513、第二上同步带514、单光步进电机509、光电开关515、电机连接板512和直线滑轨，上偏光控制器505和上偏光步进电机506通过控制器支架507和电机支架517固定在上偏光架壳体501的上侧面，上传动轮503的转轴与上偏光控制器505连接，上传动轮503的轮体通过第一上同步带513与上偏光步进电机506的转矩输出轴连接，上传动轮503的轮体通过第二上同步带514与上偏光片轮504连接，上偏光控制器505的控制信号输出端与上偏光步进电机506连接，上偏光架壳体501的第二端还设置有第二透光孔，第二透光孔位于第一透光孔的外端，第二透光孔内设置有减光片516，直线滑轨设置在电机连接板512的上表面，上偏光架壳体501的下表面设置有导轨滑块，导轨滑块设置在直本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪，其特征在于：包括基座底板、基座支架、下偏光组件和上偏光组件，所述基座支架竖直设置在所述基座底板的一侧，所述偏光显微镜通过固定装置安装在所述基座底板上，所述下偏光组件安装在所述基座支架的中下部，所述上偏光组件安装在所述基座支架的上部。

【技术特征摘要】
1.一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪，其特征在于：包括基座底板、基座支架、下偏光组件和上偏光组件，所述基座支架竖直设置在所述基座底板的一侧，所述偏光显微镜通过固定装置安装在所述基座底板上，所述下偏光组件安装在所述基座支架的中下部，所述上偏光组件安装在所述基座支架的上部。2.根据权利要求1所述的一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪，其特征在于：所述上偏光组件包括上偏光架壳体、上偏光片和上偏光驱动系统，所述上偏光架壳体的第一端设置在所述基座支架内，所述上偏光架壳体的第二端设置有第一透光孔，所述上偏光片通过上偏光片轮安装在所述第一透光孔内，所述上偏光驱动系统设置在所述上偏光架壳体的第一端内部，且与所述上偏光片轮连接，所述上偏光架壳体上设置有上偏光架盖板。3.根据权利要求2所述的一种用于矿物鉴定的偏光显微镜的偏光仪，其特征在于：所述上偏光架壳体的第二端插入所述偏光显微镜的检振片插口，所述上偏光驱动系统包括上偏光步进电机、上偏光控制器、上传动轮...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗峰，肖渊甫，祁凌，易小宇，
申请(专利权)人：成都理工大学，
类型：发明
国别省市：四川,51