内存单元数组中筛除离群位及检测位线短路的方法技术

本发明专利技术提供一种内存单元数组中筛除离群位及检测位线短路的方法。内存单元数组中筛除离群位的方法包括：提供一内存单元数组。内存单元数组包括多个内存单元、多条字符线、多条位线以及多条源极线，且各内存单元连接至一条位线、一条字符线以及一条源极线。输入一第一电压给由这些位线选择出来的一条选择位线，输入一第二电压给未选择位线，并且量测内存单元的临界电压。筛除临界电压离群的内存单元的位。本发明专利技术的内存单元数组中筛除离群位的方法可以有效筛除离群且不符规范的位，内存单元数组的位线短路的检测方法可以提升检测效率。

【技术实现步骤摘要】
内存单元数组中筛除离群位及检测位线短路的方法
本专利技术涉及一种半导体装置的检测方法，尤其涉及一种内存单元数组中筛除离群位及检测位线短路的方法。
技术介绍
内存是一种用来储存信息或数据的半导体组件。随着计算机微处理器的功能越来越强大，藉由软件执行的程序与操作也随之增加。因此，对于具有高储存容量内存的需求也逐渐增加。在各种内存产品中，非易失性内存(non-volatile内存)允许多次的数据程序化(programming)、读取(reading)以及抹除(erasing)操作，且甚至在内存的电源中断之后还能够保存储存于其中的数据。由于这些优点，非易失性内存已成为个人计算机与电子设备中广泛使用的内存。
技术实现思路
本专利技术提供一种内存单元数组中筛除离群位及检测位线短路的方法，内存单元数组中筛除离群位的方法可以有效筛除离群且不符规范的位；内存单元数组的位线短路的检测方法可以提升检测效率。本专利技术的内存单元数组中筛除离群位的方法包括：对一内存单元数组上的多个内存单元进行一深度强抹除步骤。接续深度强抹除步骤后，对内存单元数组上的多个内存单元进行一离群位筛除。对内存单元数组上的多个内存单元反复本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，包括：提供一内存单元数组，所述内存单元数组包括多个内存单元、多条字符线、多条位线以及多条源极线，各所述内存单元连接至一条位线、一条字符线以及一条源极线；输入一第一电压给由所述多条位线选择出来的一条选择位线，输入一第二电压给未选择位线，并且量测所述多个内存单元的临界电压；以及筛除临界电压被扰动的内存单元的位。

【技术特征摘要】
1.一种内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，包括：提供一内存单元数组，所述内存单元数组包括多个内存单元、多条字符线、多条位线以及多条源极线，各所述内存单元连接至一条位线、一条字符线以及一条源极线；输入一第一电压给由所述多条位线选择出来的一条选择位线，输入一第二电压给未选择位线，并且量测所述多个内存单元的临界电压；以及筛除临界电压被扰动的内存单元的位。2.根据权利要求1所述的内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，在量测所述多个内存单元的临界电压时，浮置所述多条字符线以及所述多条源极线。3.根据权利要求1所述的内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，在量测所述多个内存单元的临界电压时，施加接地电压给所述多条字符线以及所述多条源极线。4.根据权利要求1所述的内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，所述第一电压大于所述第二电压。5.根据权利要求1所述的内存单元数组的位线短路的检测方法，其特征在于，对应的内存单元的临界电压落在一基准电压的第一侧而其他内存单元的临界电压落在所述基准电压的第二侧，且所述第一侧与所述第二侧相对时，判断为离群并筛除所述对应的内存单元的位。6.一种内存单元数组中筛除离群位的方法，其特征在于，包括：对一内存单元数组上的多个内存单元进行一深度强抹除步骤；接续所述深度强抹除步骤后，对所述内存单元数组上的所述多个内存单元进行一离群位筛除；以及对所述内存单元数组上的所述多个内存单元反复进行强程序化以及一般抹除...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建廷，蔡耀庭，廖修汉，连世璋，
申请(专利权)人：华邦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71