一种测试头制造技术
A test head
The utility model provides a test head. On the one hand, the test head provided by the utility model comprises first to n to be defined and a test probe, N signal, n is an integer of 2 or more; n n 1 N 1 switch, each switch comprises a control terminal, a conduction terminal and N strobe terminal section; I to be defined in the i n probe is connected with 1 switch terminal, n strobe end of each n 1 switch are respectively connected to the n test signal, I = 1, 2,... And N; the control unit is connected to the control terminal of each n selecting 1 switch, and the control unit is used to generate a strobe control signal for each n to select the 1 switch. Therefore, the technical proposal provided by the utility model can solve the problems of poor compatibility of the test head caused by the electrical definition of the test head and the fixed arrangement of the contact points in the prior art.
【技术实现步骤摘要】
一种测试头
本专利技术涉及图像处理
，尤其涉及一种测试头。
技术介绍
目前，耗材芯片与测试头连接时，耗材芯片中的各个触点与测试头中的各个待定义探针相连接，只有每个触点的电气定义和与该触点连接的待定义探针的电气定义一致时，才能实现耗材芯片与测试头之间的通信。在实现本技术的过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在如下问题：现有技术中，不同的耗材芯片中各触点的电气定义和各触点的排列次序都是不同的，因此，一个具有固定的电气定义和触点的排列次序的测试头难以兼容多个具有不同的电气定义和触点的排列次序的耗材芯片，兼容性较差，为此，需要针对不同的耗材芯片分别配置一个测试头，管理起来麻烦，还占用库存空间。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供了一种测试头，用以解决现有技术中测试头的电气定义和触点的排列次序固定导致的测试头兼容性差的问题。一方面，本技术提供了一种测试头，所述测试头用于对耗材芯片进行读写操作，所述测试头包括：第1至n个待定义探针，和n个测试信号端，n为大于等于2的整数；n个n选1开关，每个n选1开关包括控制端、一个导通端和n个选通端；第i个待定义探针连接于第i个...
【技术保护点】
一种测试头，其特征在于，所述测试头用于对耗材芯片进行读写操作，包括：第1至n个待定义探针，和n个测试信号端，n为大于等于2的整数；n个n选1开关，每个n选1开关包括控制端、一个导通端和n个选通端；第i个待定义探针连接于第i个n选1开关的导通端，每个n选1开关的n个选通端分别连接于n个测试信号端，i＝1、2、…、n；控制单元，连接于每个n选1开关的控制端，所述控制单元用于产生每个n选1开关的选通控制信号。
【技术特征摘要】
1.一种测试头，其特征在于，所述测试头用于对耗材芯片进行读写操作，包括：第1至n个待定义探针，和n个测试信号端，n为大于等于2的整数；n个n选1开关，每个n选1开关包括控制端、一个导通端和n个选通端；第i个待定义探针连接于第i个n选1开关的导通端，每个n选1开关的n个选通端分别连接于n个测试信号端，i＝1、2、…、n；控制单元，连接于每个n选1开关的控制端，所述控制单元用于产生每个n选1开关的选通控制信号。2.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈竞豪，
申请(专利权)人：珠海艾派克微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44
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