一种基于纵向偏振后的矢量光场的距离测量系统及其应用技术方案

本发明专利技术公开了一种基于纵向偏振后的矢量光场的距离测量系统及其应用，包括矢量光源、反光镜、双透镜、双缝、凸透镜、偏振片、光电探测器和信号处理系统；将双缝设置在初始点位置，将光电探测器设置在待测点位置，所述矢量光源向反光镜发射矢量光，矢量光经反光镜反射后，经双透镜调整光路宽度后，射入双缝，干涉光经过偏振片滤波后，投射在光电探测器上，根据光电探测器测得的光信息获得所述待测物体的距离。该系统具有测量精度高，且结构简单，安装方便，价格低廉，适用范围广的特点。

A distance measurement system based on vector light field and its application

The invention discloses a method based on the longitudinal partial after the vectorial distance measurement system and its application, including vector light, reflective mirror, double lens, double slit, convex lens, polarizing plate, photoelectric detector and signal processing system; the double slit is arranged in the initial position, the photoelectric detector is arranged at point the position to be measured, the light source emits light to the vector vector vector of light reflected from the mirror, the mirror, the double lens to adjust the optical path width, into the double slit light through the polarizer, interference filter, projected on the photoelectric detector, according to the optical information detector measured for the tested the distance of objects. The system has the characteristics of high measuring accuracy, simple structure, convenient installation, low price and wide application range.

【技术实现步骤摘要】
一种基于纵向偏正后的矢量光场的距离测量系统及其应用
本专利技术涉及矢量光测位移领域，尤其涉及一种基于纵向偏正后的矢量光场的距离测量系统及其应用。
技术介绍
激光干涉法测位移。这是一种相对测量，它无法测得一个物体离仪器的绝对距离，但可以测得两被测物体的相对距离。它的原理是一台迈克尔逊干涉仪，利用反射镜距离变化时干涉条纹的变化来测量，反射镜从物体A运动到物体B，干涉条纹变化的数量反映了其距离。这种测量要求条件较高，但是可以精确测量，它也是目前所有测量手段中最精确的一种。而矢量光场测位移，是对光学测位移的一项技术革新，使得原来的干涉条纹由一维变为二维，极大的提高了系统灵敏度，使得位移测量更加的精确。
技术实现思路
本专利技术的目的是在于提供一种基于纵向偏正后的矢量光场的距离测量系统及其应用。本专利技术通过以下技术方案来实现：一种基于纵向偏正后的矢量光场的距离测量系统，包括矢量光源、反光镜、双透镜、双缝、凸透镜、纵向偏振片、光电探测器和信号处理系统；将双缝设置在初始点位置，将光电探测器设置在待测点位置，所述矢量光源向反光镜发射矢量光，矢量光经反光镜反射后，经双透镜调整光路宽度后，形成半径为ε的光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于纵向偏正后的矢量光场的距离测量系统，其特征在于，包括矢量光源(1)、反光镜(2)、双透镜(3)、双缝(4)、凸透镜(5)、纵向偏振片、光电探测器(7)和信号处理系统(8)；将双缝(4)设置在初始点位置，将光电探测器(7)设置在待测点位置，所述矢量光源(1)向反光镜(2)发射矢量光，矢量光经反光镜(2)反射后，经双透镜(3)调整光路宽度后，形成半径为ε的光束，然后射入双缝(4)，产生干涉；干涉光经凸透镜(5)聚焦后，射入纵向偏振片进行滤波，然后投射在光电探测器(7)上，光电探测器(7)测得经过偏振片滤波后的干涉图样中任一点P的光强I，并输入到信号处理系统(8)，信号处理系统(8)通过计算...

【技术特征摘要】
1.一种基于纵向偏正后的矢量光场的距离测量系统，其特征在于，包括矢量光源(1)、反光镜(2)、双透镜(3)、双缝(4)、凸透镜(5)、纵向偏振片、光电探测器(7)和信号处理系统(8)；将双缝(4)设置在初始点位置，将光电探测器(7)设置在待测点位置，所述矢量光源(1)向反光镜(2)发射矢量光，矢量光经反光镜(2)反射后，经双透镜(3)调整光路宽度后，形成半径为ε的光束，然后射入双缝(4)，产生干涉；干涉光经凸透镜(5)聚焦后，射入纵向偏振片进行滤波，然后投射在光电探测器(7)上，光电探测器(7)测得经过偏振片滤波后的干涉图样中任一点P的光强I，并输入到信号处理系统(8)，信号处理系统(8)通过计算获得初始点到待测点之间的距离d...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈瑞品，高腾跃，钱朝阳，张晓雨，
申请(专利权)人：浙江理工大学，
类型：发明
国别省市：浙江,33