一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法技术方案

本发明专利技术涉及一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法。该方法：首先，对嵌入式系统中所有模块进行分类或归类，建立完整的模块间交叉关联矩阵；其次，按照第一步交叉测试用例缩减策略，分析并确定参与两两交叉的模块类别及具体模块，得到原始的交叉测试用例集；而后，按照第二步交叉测试用例缩减策略，对原始的交叉测试用例集进行分析和进一步缩减，得到初步的交叉测试用例集；最后，对初步的交叉测试用例集的各交叉测试用例的交叉深度和强度进行分析与选择，得到最终的交叉测试用例集。本发明专利技术良好的系统化的测试设计保障了下一阶段具体测试实现的质量，也减少了最终测试实施的工作量，使得交叉测试的“又快又好”优势得以体现。

【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法
本专利技术涉及一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法。
技术介绍
随着嵌入式软件的规模和复杂性的日益增长，嵌入式软件质量在整个嵌入式系统质量中所占的比重也越来越大，越来越多的行业内厂商对嵌入式软件测试的重要性也是有共识的。但由于嵌入式系统具有实时性强，存储、计算等资源有限，与硬件紧密相关等特点，使得传统软件测试理论直接用于嵌入式软件测试时，效果未必就好。比如，传统测试理论中被证实有效的压力测试等系统测试方法应用于嵌入式软件测试时，往往会出现测试时间周期较长、测试效率较低、测试费用（如，人力成本）高等问题，于是，在嵌入式软件测试业界，一种新的测试方法出现了，它就是“模块交叉测试（也有称为“模块组合测试”的，英文叫cross-test。以下简称为“交叉测试”）”。相比于压力测试，交叉测试具有高测试效率（若存在相关BUG，则交叉测试所运行的次数比压力测试少得多，时间也短得多）、高BUG检出效果（在模块存在资源共享或复用的情况下，单纯的压力测试往往发现不了模块间关联的问题，而交叉测试却可以轻易检出）的特点，非常适合在集成测试（即，单个模块集成到系统的过程）或系统测试阶段使用，可以很有效地发现模块间相互干扰影响等问题。虽然大家都同意“交叉测试方法是一种可以“又快又好”地发现BUG的手段”的观点，但在实际使用中，我们发现实际效果却未必理想。究其根本，主要原因是不良的交叉测试设计限制了这种方法所能发挥的最大威力，效果受限。具体原因有两点：一、不良的交叉测试设计（主要指“过度设计”）不加分析地进行了过多的交叉组合设计，而使得用例数激增，具体测试实施的工作量大，使得交叉测试“快”不起来；二、不良的交叉测试设计（主要指“随意设计”）又很可能遗漏了重要的交叉组合，而使得用例设计得不完整，之后虽投入工作量进行了相应的测试执行，却未能发现本可发现的BUG，使得交叉测试在BUG检出方面看上去，不那么“好”，不那么有效。鉴于现行交叉测试设计存在“过度设计”和“随意设计”而使得交叉测试的最终效果大打折扣的情况，本专利技术方法将给出一种新思路新方法，以一种系统化的科学思维来进行嵌入式模块的交叉测试设计，既不“过度”，也不“随意”，设计方法系统化且有章可循。应用本专利技术的系统化设计方法可以使得交叉测试在检出模块关联问题方面的“快”与“好”的优势得到最充分的体现，交叉测试得到最大的收益。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法，该方法良好的系统化的测试设计保障了下一阶段具体测试实现的质量，也减少了最终测试实施的工作量，使得交叉测试的“又快又好”优势得以体现。为实现上述目的，本专利技术的技术方案是：一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法，包括如下步骤，S1：对嵌入式系统中所有模块进行分类或归类，建立完整的模块间交叉关联矩阵；S2：按照第一步交叉测试用例缩减策略，分析并确定参与两两交叉的模块类别及具体模块，得到原始的交叉测试用例集；S3：按照第二步交叉测试用例缩减策略，对原始的交叉测试用例集进行分析和进一步缩减，得到初步的交叉测试用例集；S4：对初步的交叉测试用例集的各交叉测试用例的交叉深度和强度进行分析与选择，得到最终的交叉测试用例集。在本专利技术一实施例中，所述步骤S1中，是将嵌入式系统中的三个模块以上的复杂的交叉测试分解为若干组两个模块间的交叉测试，从而使得嵌入式系统中所有模块的交叉测试，均分解为两两交叉的交叉测试的组合，而后依据关联矩阵工具，建立完整的模块间交叉关联矩阵。在本专利技术一实施例中，所述步骤S2，具体实现如下，设模块间交叉关联矩阵在横纵方向上分别有n个模块，则需要分析的交叉测试情况有n*n种；根据第一步交叉测试用例缩减策略，考虑模块间交叉关联矩阵对角线及模块间交叉关联矩阵交叉组合依对角线对称的情况，将需要分析的n*n种交叉测试情况缩减为n*(n-1)/2种情况；而后将嵌入式系统中属于纯软件类及基础模块类的模块剔除，对交叉测试情况进一步缩减，得到原始的交叉测试用例集。在本专利技术一实施例中，所述步骤S3，具体实现如下，根据步骤S2得到的原始的交叉测试用例集，按照第二步交叉测试用例缩减策略，剔除嵌入式系统中包括过时的、基本不用的、不可能交叉使用的、存在上下层关系的、对外表现为同一接口的、通过纯软件类及基础模块类功能实现的模块，从而对原始的交叉测试用例集进一步缩减，得到初步的交叉测试用例集。在本专利技术一实施例中，按照第二步交叉测试用例缩减策略，还需考虑包括有外设硬件模块或芯片的软件模块、存在硬件复用或软件复用的模块、硬件上存在包括光、电、磁、温度、射线信号干扰的模块、历史上出现过模块间交叉问题的模块，来对原始的交叉测试用例集进行缩减。相较于现有技术，本专利技术具有以下有益效果：本专利技术设计方法系统化且有章可循：按照科学的思维、工具、法则以及合理的步骤来进行交叉测试的设计；保障了下一阶段具体测试（脚本或用例）实现的质量，也减少了最终测试实施的工作量，使得交叉测试的“又快又好”优势得以体现；保证交叉测试用例集是正确的：既强调了交叉测试的交叉深度要以“深度交叉”优先，也强调了交叉测试要保证一定的交叉强度；保证交叉测试用例集是完备的：系统中全部模块都会被列到关联矩阵中，同时，在借助模块间交叉关联矩阵来找出某个模块与其它模块的交叉组合结果时，会在矩阵的横纵2个方向上把所有相关组合都做一遍YesOrNo的分析判断，确保了不会造成测试设计的遗漏，保证了测试设计的完备性；保证交叉测试用例集是最小化的/最简的；可扩展性：本专利技术方法充分考虑到了当系统扩展、模块新增时的情况，基于已有交叉测试设计（模块关联矩阵）的基础上，可以轻松地分析并设计出相应的交叉测试用例。附图说明图1为本专利技术方法总体框图。图2为以POS机为例的关联矩阵部分图。图3为本专利技术方法在情况一的应用框图。图4为本专利技术情况二中的矩阵图一。图5为本专利技术情况二中的矩阵图二。图6为本专利技术情况二中的矩阵图三。具体实施方式下面结合附图，对本专利技术的技术方案进行具体说明。如图1所示，本专利技术的一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法，包括如下步骤，S1：对嵌入式系统中所有模块进行分类或归类，建立完整的模块间交叉关联矩阵；S2：按照第一步交叉测试用例缩减策略，分析并确定参与两两交叉的模块类别及具体模块，得到原始的交叉测试用例集；S3：按照第二步交叉测试用例缩减策略，对原始的交叉测试用例集进行分析和进一步缩减，得到初步的交叉测试用例集；S4：对初步的交叉测试用例集的各交叉测试用例的交叉深度和强度进行分析与选择，得到最终的交叉测试用例集。所述步骤S1中，是将嵌入式系统中的三个模块以上的复杂的交叉测试分解为若干组两个模块间的交叉测试，从而使得嵌入式系统中所有模块的交叉测试，均分解为两两交叉的交叉测试的组合，而后依据关联矩阵工具，建立完整的模块间交叉关联矩阵。所述步骤S2，具体实现如下，设模块间交叉关联矩阵在横纵方向上分别有n个模块，则需要分析的交叉测试情况有n*n种；根据第一步交叉测试用例缩减策略，考虑模块间交叉关联矩阵对角线及模块间交叉关联矩阵交叉组合依对角线对称的情况，将需要分析的n*n种交叉测试情况缩减为n*(n-1)/2种情况；而后将嵌入式系统中属于纯软件类本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法，其特征在于：包括如下步骤，S1：对嵌入式系统中所有模块进行分类或归类，建立完整的模块间交叉关联矩阵；S2：按照第一步交叉测试用例缩减策略，分析并确定参与两两交叉的模块类别及具体模块，得到原始的交叉测试用例集；S3：按照第二步交叉测试用例缩减策略，对原始的交叉测试用例集进行分析和进一步缩减，得到初步的交叉测试用例集；S4：对初步的交叉测试用例集的各交叉测试用例的交叉深度和强度进行分析与选择，得到最终的交叉测试用例集。

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法，其特征在于：包括如下步骤，S1：对嵌入式系统中所有模块进行分类或归类，建立完整的模块间交叉关联矩阵；S2：按照第一步交叉测试用例缩减策略，分析并确定参与两两交叉的模块类别及具体模块，得到原始的交叉测试用例集；S3：按照第二步交叉测试用例缩减策略，对原始的交叉测试用例集进行分析和进一步缩减，得到初步的交叉测试用例集；S4：对初步的交叉测试用例集的各交叉测试用例的交叉深度和强度进行分析与选择，得到最终的交叉测试用例集。2.根据权利要求1所述的一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法，其特征在于：所述步骤S1中，是将嵌入式系统中的三个模块以上的复杂的交叉测试分解为若干组两个模块间的交叉测试，从而使得嵌入式系统中所有模块的交叉测试，均分解为两两交叉的交叉测试的组合，而后依据关联矩阵工具，建立完整的模块间交叉关联矩阵。3.根据权利要求1所述的一种嵌入式模块交叉测试的系统化设计方法，其特征在于：所述步骤S2，具体实现如下，设模块间交叉关联矩阵在横纵方向上分别有n个模块，则需要分析的交叉测试情况有n*n种；根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：张倪旺，严明，余春霞，
申请(专利权)人：福建瑞之付微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：福建,35