一种用于红外触摸屏精度分析的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于红外触摸屏精度分析的方法及系统，所述方法包括：设定目标区域，获取所述目标区域中的真实物理光路图；根据所述真实物理光路图获取理论物理光路图；对所述目标区域内的目标触摸点进行索引标记；获取所述目标触摸点的真实物理坐标，获取与所述真实物理坐标相对应的理论物理坐标；获取所述真实物理坐标与所述理论物理坐标之间的物理偏差；根据所述物理偏差对所述红外触摸屏的精度进行分析。本发明专利技术的精度分析结果能够有效指导红外触摸屏的设计，缩短设计周期，从而提升红外触摸屏成品制作的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于红外触摸屏精度分析的方法及系统
本专利技术涉及触摸屏相关
，尤其涉及一种用于红外触摸屏精度分析的方法及系统。
技术介绍
红外触摸技术是用红外不可见光进行定位触摸，红外触摸屏是利用X，Y方向上密布的红外线矩阵来检测并定位用户的触摸。其中，红外触摸屏的单点精度一直是衡量一个红外触摸屏质量重要的参数。在研发实验过程中，通过设计对应的光路和尺寸信息后，进一步加工焊接，最终完成红外触摸屏的生产。目前对红外触摸屏精度分析，一般是专业的测试人员采用大型的精度测试设备或者通过测试工具进行精度验证，得到最终的分析结果；但是此种方法得到的测试结果不够准确，不具有前瞻性；且如果红外触摸屏的精度差，也不能立即做出针对性的修改，不利于对精度等各方面的改进。若提供一种用于红外触摸屏精度分析的方法，能够准确地完成红外触摸屏精度的分析和验证，从而缩短设计的周期，进一步降低制作成本。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提出了一种用于红外触摸屏精度分析的方法及系统。第一方面，提出了一种用于红外触摸屏精度分析的方法，所述方法包括：设定目标区域，获取所述目标区域中的真实物理光路图，所述真实物理光路图中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于红外触摸屏精度分析的方法，其特征在于，所述方法包括：设定目标区域，获取所述目标区域中的真实物理光路图，所述真实物理光路图包括多个真实物理坐标；根据所述真实物理光路图获取理论物理光路图，所述理论物理光路图包括多个理论物理坐标；对所述目标区域内的目标触摸点进行索引标记；获取所述目标触摸点的真实物理坐标，获取与所述真实物理坐标相对应的理论物理坐标；获取所述真实物理坐标与所述理论物理坐标之间的物理偏差；根据所述物理偏差对所述红外触摸屏的精度进行分析。

【技术特征摘要】
1.一种用于红外触摸屏精度分析的方法，其特征在于，所述方法包括：设定目标区域，获取所述目标区域中的真实物理光路图，所述真实物理光路图包括多个真实物理坐标；根据所述真实物理光路图获取理论物理光路图，所述理论物理光路图包括多个理论物理坐标；对所述目标区域内的目标触摸点进行索引标记；获取所述目标触摸点的真实物理坐标，获取与所述真实物理坐标相对应的理论物理坐标；获取所述真实物理坐标与所述理论物理坐标之间的物理偏差；根据所述物理偏差对所述红外触摸屏的精度进行分析。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述真实物理光路图获取理论物理光路图，包括：根据参数配置表中记载的物理尺寸和结构参数确定所述真实物理光路中各光路的理论位置；按照所述参数配置表中的比例生成与所述各光路的理论位置相对应的理论物理光路。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述目标区域内的目标触摸点进行索引标记，之前包括判断触摸点是否位于所述目标区域内，若是，则所述触摸点为目标触摸点，对所述目标触摸点进行索引标记。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对所述目标触摸点的索引标记，按照水平方向的自左向右、垂直方向的自上向下进行依次索引。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述目标触摸点的真实物理坐标，包括：选定所述目标区域中目标触摸点，所述目标触摸点为当前目标触摸点，获取所述当前目标触摸点的索引坐标，所述当前目标触摸点为所述目标区域中的第一行第一个目标触摸点；根据所述当前目标触摸点的索引坐标和物理位置获取对应的真实物理坐标。6.根据权利要求5所述的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：满庆奎，
申请(专利权)人：北京汇冠触摸技术有限公司，北京汇冠新技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11