一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法技术

本发明专利技术提供了一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法，根据金属微粒在真空环境匀强电场中的受力分析及通过观测金属微粒在电极间的运动过程，考虑了金属微粒在电极附近的放电过程，得到金属微粒在该电场中运动过程中的带电量，与实际状况更接近。解决微粒运动过程中的带电量难以通过静电检测装置等直接测量的困难。

【技术实现步骤摘要】
一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法
本专利技术涉及一种金属微粒带电量测量方法，具体涉及一种金属微粒运动过程中带电量测量方法。
技术介绍
气体绝缘金属封闭开关设备(Gas-insulatedmetal-enclosedswitchgear，简称GIS)及气体绝缘金属封闭输电线路(Gasinsulatedmetalenclosedtransmissionline，简称GIL)在生产、装配、运行过程中，不可避免的会产生金属微粒，带电金属微粒会浮起并运动，且在电极附近发生放电，当金属微粒附着到绝缘子表面时，其绝缘特性会降低，绝缘距离的减少引发闪络。针对电极间金属微粒带电量分析与测量，已有技术开展了电极表面金属微粒感应带电计算与测量。通常假设其带电量与其在电极表面感应带电量相同，但运动过程及与电极表面碰撞时，微粒会放电及电荷转移，实际的带电量与其在电极表面的感应带电间有一定的差异。现有的测量方法得到的金属微粒带电量是金属微粒在电极表面时的带电量，不能反映金属微粒在电极附近的放电，难以准确的描述金属微粒运动过程放电前后所带电荷量；微粒运动过程中的带电量难以通过静电检测装置等直接测量的方法测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法，其特征在于：所述方法步骤如下：(1)测量极板间距(H)；(2)测量极板间施加的电压(U)；(3)测量金属微粒的质量(m)；(4)确定微粒运动拍摄的帧频率(f

【技术特征摘要】
1.一种对金属微粒运动过程中带电量的测量方法，其特征在于：所述方法步骤如下：(1)测量极板间距(H)；(2)测量极板间施加的电压(U)；(3)测量金属微粒的质量(m)；(4)确定微粒运动拍摄的帧频率(fc)；(5)测量金属微粒向上运动过程中竖直向上连续的位移y11，y12，y13，……，y1i，……，y1n；(6)测量金属微粒向下运动过程中竖直向上连续的位移y21，y22，y23，……，y2i，……，y2n。2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于：根据下式计算金属微粒向上运动过程中的带电量q-：其中，n>5，n>i>1，g为重力加速度。3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于：根据下式计算金属微粒向下运动过程中的带电量q-...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙继星，陈维江，李志兵，颜湘莲，刘北阳，王浩，傅中，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院，国家电网公司，国网安徽省电力公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11