一种光谱测试调整方法及测试调整装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光谱测试调整方法和测试调整装置。测试调整方法包括(1)采集被检测的光谱并形成光谱图；(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域；(3)根将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域；(4)分别计算S

【技术实现步骤摘要】
一种光谱测试调整方法及测试调整装置
本专利技术涉及光谱的测试调整方法和测试调整装置。
技术介绍
对于用芯片激发荧光粉的光源或用多种颜色芯片混合形成的光源来说，即使采用同一批芯片和同一批荧光粉，由于同一批芯片可能存在着不一致性，或荧光粉的影响，用同一批芯片和荧光粉或同一批芯片制造出来的光源对应的光谱也会有不同，而光谱的不同会对用户的使用产生不良的影响，因此，在产品出厂前对光谱的测试是非常必要的。另外，现在LED光源一般都采用蓝光芯片激发荧光粉混合形成白光。质量不好的LED照明产品，LED光谱图中会在蓝光区域内光谱比较强。蓝光过多会对人眼造成影响——主要是蓝光危害，即蓝光对人眼的光化学作用，灼伤视网膜，导致视网膜炎症。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种对光谱的测试调整方法及测试调整装置。利用本专利技术的技术方案，测试的精度高。为达到上述目的，一种光谱测试调整方法，包括如下步骤：(1)采集被检测的光谱并形成光谱图；(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域；(3)根据光谱图的分段区域将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域；(4)分别计算标准光谱图分段后每段区域的面积本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱测试调整方法，其特征在于包括如下步骤：(1)采集被检测的光谱并形成光谱图；(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域；(3)根据光谱图的分段区域将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域；(4)分别计算标准光谱图分段后每段区域的面积S

【技术特征摘要】
1.一种光谱测试调整方法，其特征在于包括如下步骤：(1)采集被检测的光谱并形成光谱图；(2)在X轴方向上将光谱图划分成二段以上的区域；(3)根据光谱图的分段区域将标准光谱图在X轴对应的位置分成与光谱图相等的段数区域；(4)分别计算标准光谱图分段后每段区域的面积Si和采集的光谱图分段后每段区域的面积Si’；(5)计算光谱图与标准光谱图在X轴上对应段的面积比值Ai＝Si’/Si；(6)计算X值，其中，(7)判断X值是否落入到B值范围内，其中1-m＜B＜1+m，m为预先设定被检测光谱图与标准光谱图之间的偏差值，若X落入到B值范围内，则判断被检测的光谱图与标准光谱图接近，符合使用要求，若X未落入到B值范围内，则判断被检测的光谱图与标准光谱图差别大。2.根据权利要求1所述的光谱测试调整方法，其特征在于：若测试到被检测的光谱图与标准光谱图差别大时，将被检测的光谱图对应的选定区域调整为标准光谱对应的选定区域。3.根据权利要求2所述的光谱测试调整方法，其特征在于：将被检测的光谱图对应的选定区域调整为标准光谱对应的选定区域的步骤包括：若选定区域为蓝光区域，选定X轴坐标上蓝光区域，然后比较标准光谱与被检测的光谱在该区域上Y轴上的最大值，在该区域内，若标准光谱在Y轴上的最大值小于被检测光谱在Y轴的最大值，则将被检测光谱的Y值乘以预设的I值得到调整后的光谱图，其中I＝标准光谱在该区域内Y值的平均值/被检测光谱在该区域内Y值的平均值。4.根据权利要求1所述的光谱测试调整方法，其特征在于：在划分光谱图区域时，按照不同的颜色对应的波长进行划分。5.根据权利要求4所述的光谱测试调整方法，其特征在于：在同一种颜色对应的波长中划分成二段以上的区域。6.一种光谱测试调整装置，其特征在于包括：光谱图采集形成单元，用...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕天刚，王跃飞，杜友珍，杨永发，
申请(专利权)人：鸿利智汇集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44