一种宇航用镍电极瓷介电容器可靠度确定方法技术

本发明专利技术一种宇航用镍电极瓷介电容器可靠度确定方法，在不改变原有晶粒状态条件下，对电容器介质层晶粒尺寸进行精确测量，在此基础上对电容器可靠度进行计算。首先采用低应力磨抛技术进行剖面制备，获得无应力残留的样品表面；然后采用电子背散射衍射分析EBSD技术对样品进行分析，确定陶瓷介质晶粒相的类别，并采集样品表面晶粒分布图，从而对陶瓷介质晶粒尺寸进行精确测量；最后，结合介质层数、介质层厚度、工作电压系数等参数，对电容器可靠度进行计算，得到电容器可靠度。

【技术实现步骤摘要】
一种宇航用镍电极瓷介电容器可靠度确定方法
本专利技术涉及一种宇航用镍电极瓷介电容器可靠度确定方法，属于元件器可靠性领域。
技术介绍
镍电极瓷介电容器具有小体积大容量、电化学稳定性好、高频特性优良、机械性及耐蚀耐热性好等优点，在民品中广受青睐。但由于其固有结构特性以及独特生产工艺引入的薄弱点使得其长期可靠性存在一定的劣势，因而在航天器等有长寿命高可靠要求的单机系统中一直未得到广泛应用。随着镍电极电容技术的更新发展以及航天器轻小型化的迫切需求，镍电极瓷介电容器的应用需求日益强烈，因此如何获得具有高可靠性的镍电极瓷介电容器成为解决该问题的关键。目前宇航用高可靠钯银电极瓷介电容器寿命可靠性的评价方法是采用2倍额定电压、125℃、4000h的高温寿命试验。镍电极瓷介电容器与钯银电极瓷介电容器结构相同，均为独石结构，由陶瓷介质薄膜和内电极互相交替重叠而成，形成多个电容并联。对于相同体积的电容器，镍电极电容器的电容量可达到钯银电极电容器的1000倍，因此镍电极电容器特有的材料、工艺特点导致镍电极电容器具有较低的可靠性。如果采用与钯银电极电容器相同的寿命可靠性评价方法，不仅花费样品数量多、时间长，而本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种宇航用镍电极瓷介电容器可靠度确定方法，其特征在于步骤如下：1)采用金刚石切割机对样品进行切割，切割至样品的待观察区域；2)使用环氧树脂对样品进行封片，将样品全部包裹，制作成环氧树脂圆柱体；3)使用砂纸对样品进行研磨，研磨至暴露出完整的内电极和端电极，之去除产生的划痕和应力层；4)对样品进行抛光并充分清洗；5)采用振动抛光台对样品进行表面处理，抛光液选用0.02μm二氧化硅悬浮液，功率为12％，配重为2kg，抛光2小时；6)对样品进行10s以下的喷金处理，并采用导电胶带将电容器内电极与样品台相连；7)采用电子背散射衍射分析EBSD技术对样品进行分析，获得样品表面晶粒分布图，然后计算得出样品的...

【技术特征摘要】
1.一种宇航用镍电极瓷介电容器可靠度确定方法，其特征在于步骤如下：1)采用金刚石切割机对样品进行切割，切割至样品的待观察区域；2)使用环氧树脂对样品进行封片，将样品全部包裹，制作成环氧树脂圆柱体；3)使用砂纸对样品进行研磨，研磨至暴露出完整的内电极和端电极，之去除产生的划痕和应力层；4)对样品进行抛光并充分清洗；5)采用振动抛光台对样品进行表面处理，抛光液选用0.02μm二氧化硅悬浮液，功率为12％，配重为2kg，抛光2小时；6)对样品进行10s以下的喷金处理，并采用导电胶带将电容器内电极与样品台相连；7)采用电子背散射衍射分析EBSD技术对样品进行分析，获得样品表面晶粒分布图，然后计算得出样品的平均晶粒尺寸8)采用扫描电子显微镜SEM对电容的剖面进行观察和测量，得到电容器介质层数N，介质厚度d和电压系数α；9)基于采集到的数据，计算获得镍电极电容器可靠度2.根据权利要求1所述的一种基于内部结构参数的宇航用...

【专利技术属性】
技术研发人员：孟猛，陈雁，吴照玺，段超，王旭，王智彬，李婷，
申请(专利权)人：中国空间技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11