Includes a method of making a film: defect information acquisition process, including access to the diaphragm material (12b) defects (D) defect information of position information; the cutting process, the diaphragm material (12b) cut from a number of diaphragm (12a); and determining the process, according to a defect (D) the defect information, will actually contain defects (D) of the diaphragm and the diaphragm (12a) and (12a) other adjacent diaphragm (12a) failed to determine the diaphragm.
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体
本专利技术涉及膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体。
技术介绍
已知具有光学膜的片状产品的缺陷检查装置(专利文献1)。该缺陷检查装置将从保护膜检查部得到的缺陷的信息与其位置信息、制造识别信息一起作为码数据(二维码、QR码(注册商标))而以规定间距形成在PVA膜卷料的一端面。由此,在取得片状产品的缺陷的位置信息后,能够确定通过在分切工序中将片状产品沿长度方向切断而得到的多个膜中的哪个膜含有缺陷。由此,通过对具有缺陷的膜实施将具有缺陷的位置切除等适当的处置,能够制造不具有缺陷的膜。在先技术文献专利文献专利文献1:日本公开专利公报特开2008-116437号公报(2008年5月22日公开)
技术实现思路
专利技术所要解决的课题然而,在即使取得作为膜卷料的片状产品的缺陷的位置信息也无法在分切工序中在所希望的分切位置将膜卷料切断的情况下,无法准确地确定多个膜中的哪个膜含有缺陷,从而尽管是具有缺陷的不合格膜也判定为合格膜。其结果是,无法对不合格膜实施适当的处置,不合格膜有时会作为合格膜而流出。本专利技术的目的在于,提供在通过将膜卷料切断而得到膜的情况下降低将具有缺陷的膜判定为合格膜的风险的膜制造方法、膜制造装置、膜以及膜卷绕体。用于解决课题的方案为了解决上述的课题,本专利技术所涉及的膜制造方法的特征在于,包括:缺陷信息取得工序,取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息;分切工序,将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜;以及判定工序,根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定,从而将实际含有所述缺 ...
【技术保护点】
一种膜制造方法,其特征在于,包括:缺陷信息取得工序,取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息;分切工序,将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜;以及判定工序,根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定,从而将实际含有所述缺陷的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.10.10 JP 2014-209414;2015.01.30 JP PCT/JP20151.一种膜制造方法,其特征在于,包括:缺陷信息取得工序,取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息;分切工序,将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜;以及判定工序,根据一个与所述缺陷相关的所述缺陷信息来进行分切后的膜的不合格判定,从而将实际含有所述缺陷的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。2.根据权利要求1所述的膜制造方法,其特征在于,在所述缺陷信息取得工序中,取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息,在所述判定工序中,根据与具有所述缺陷的一个所述分割区域相关的所述缺陷信息,将包括具有所述缺陷的所述分割区域而得到的膜以及与该膜邻接的其他膜判定为不合格膜。3.根据权利要求2所述的膜制造方法,其特征在于,在所述分切工序中,在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切,在所述判定工序中,将所述其他膜判定为不合格膜,所述其他膜包括隔着具有所述缺陷的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到。4.根据权利要求3所述的膜制造方法,其特征在于,在所述分切工序中,以与多个分割区域对应地得到各所述膜的方式,在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切,在所述判定工序中,将所述其他膜判定为不合格膜,所述其他膜包括隔着所述多个分割区域中的位于端部的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到,所述多个分割区域具有所述缺陷并且与各所述膜对应。5.根据权利要求4所述的膜制造方法,其特征在于,在所述分切工序中,以与三个分割区域对应地得到各所述膜的方式,在沿着所述分割区域的边界线的分切线处将所述膜卷料分切,在所述判定工序中,将所述其他膜判定为不合格膜,所述其他膜包括隔着所述三个分割区域中的位于端部的所述分割区域的边界线而与该分割区域邻接的分割区域而得到,所述三个分割区域具有所述缺陷并且与各所述膜对应。6.根据权利要求2所述的膜制造方法,其特征在于,在所述分切工序中,在将所述分割区域裁开的分切线处将所述膜卷料分切,在所述判定工序中,将包括具有所述缺陷的所述分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜。7.根据权利要求6所述的膜制造方法,其特征在于,在所述缺陷信息取得工序中,取得相互交替排列的第一分割区域和宽度比所述第一分割区域的宽度宽的第二分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息,在所述分切工序中,在将所述第一分割区域裁开的分切线处将所述膜卷料分切,在所述判定工序中,将包括具有所述缺陷的所述第一分割区域被裁开而成的区域而得到的两个膜判定为不合格膜。8.一种膜制造方法,其特征在于,包括:缺陷信息取得工序,取得包括膜卷料的缺陷的位置信息的缺陷信息;分切工序,将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜;以及判定工序,根据所述缺陷信息而进行分切后的膜的不合格判定,在所述缺陷信息取得工序中,取得将所述膜卷料的表面的区域划分为沿宽度方向排列的多个区域而成的各个分割区域的有无缺陷的信息来作为所述缺陷信息,在所述判定工序中,在存在缺陷的所述分割区域与所述分切线不重叠的情况下,将包括该分割区域而得到的一个膜判定为不合格膜,在存在缺陷的所述分割区域或者其...
【专利技术属性】
技术研发人员:加集功士,今佑介,坂本达哉,王剑,
申请(专利权)人:住友化学株式会社,
类型:发明
国别省市:日本,JP
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