隔膜卷料及隔膜的制造方法、隔膜卷料卷绕体技术

隔膜的制造方法包含：卷绕工序，将检测出缺陷(D)的隔膜(12a、12b)卷绕于芯(81、53)；以及第一缺陷码施加工序，将包括缺陷(D)在隔膜(12a、12b)的长度方向上的位置信息的缺陷码(DC2)形成在卷绕于芯(81、53)的隔膜(12a、12b)的最外周部(86、86b)、或供隔膜(12a、12b)卷绕的芯(81、53)。

Diaphragm coil material and diaphragm manufacturing method, diaphragm winding body, diaphragm coiling material, winding body, and diaphragm coiling material manufacturing device

The method comprises: a winding process, the diaphragm will detect defects (D) of the diaphragm (12a, 12b) wound on the core (81, 53); and the first defect code applying procedure, will include defects in the diaphragm (D) (12a, 12b) the position information of the length direction of the defect code (DC2) formed in the winding in the core (81, 53) of the diaphragm (12a, 12b) of the peripheral part (86, 86B), or for the diaphragm (12a, 12b) of the winding core (81, 53).

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】隔膜卷料及隔膜的制造方法、隔膜卷绕体、隔膜卷料卷绕体、以及隔膜卷料制造装置
本专利技术涉及锂离子二次电池中使用的隔膜卷料的制造方法、隔膜的制造方法、隔膜卷绕体、隔膜卷料卷绕体、以及隔膜卷料制造装置。
技术介绍
已知具有光学膜的片状产品的缺陷检查装置(专利文献1)。该缺陷检查装置将从保护膜检查部得到的缺陷的信息与其位置信息、制造识别信息一起作为码数据(二维码、QR码(注册商标))而以规定间距形成在PVA膜卷料的一端面。在先技术文献专利文献专利文献1：日本公开专利公报特开2008-116437号公报(2008年5月22日公开)
技术实现思路
专利技术所要解决的课题然而，在锂离子二次电池所使用的隔膜的制造中，在隔膜卷料中产生缺陷，为了确定隔膜卷料中产生的该缺陷的位置而需要投入大量的劳力。专利文献1所记载的形成于一端面的码数据位于由芯以及卷绕于芯的隔膜构成的卷绕体的内侧，因此无法在卷绕体的状态下读取，难以确定卷绕于芯的隔膜的缺陷位置。本专利技术的目的在于提供能够容易地确定卷绕于芯的隔膜的缺陷位置的隔膜卷料的制造方法、隔膜的制造方法、隔膜卷绕体、隔膜卷料卷绕体、以及隔膜卷料制造装置。用于解决课题的方案为了解决上述的课题，本专利技术所涉及的隔膜的制造方法的特征在于，包含：卷绕工序，将检测出缺陷的隔膜卷绕于芯；以及第一缺陷码施加工序，将包括所述缺陷在所述隔膜的长度方向上的位置信息的第一缺陷码施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体。根据该特征，对所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体施加包括缺陷在隔膜的长度方向上的位置信息的第一缺陷码。因此，通过读取能够向卷绕体的外侧露出的第一缺陷码，能够容易地确定卷绕于芯的隔膜的缺陷位置。为了解决上述的课题，本专利技术所涉及的隔膜卷料的制造方法的特征在于，包含：卷绕工序，将检测出缺陷的隔膜卷料卷绕于芯；以及第一缺陷码施加工序，将包括所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置信息的第一缺陷码施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体。根据该特征，对所述芯、被卷绕的所述隔膜卷料的侧面、被卷绕的所述隔膜卷料的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜卷料构成的卷绕体的包装体施加包括缺陷在隔膜卷料的长度方向上的位置信息的第一缺陷码。因此，通过读取能够向卷绕体的外侧露出的第一缺陷码，能够容易地确定卷绕于芯的隔膜卷料的缺陷位置。在本专利技术所涉及的隔膜卷料的制造方法中，优选还包含第二缺陷码施加工序，在该第二缺陷码施加工序中，将包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的第二缺陷码施加于所述隔膜卷料的宽度方向的两端的部位。根据上述结构，只要正常地读取两端的第二缺陷码中的任一方即可，因此第二缺陷码的读取的可靠性提高。例如，即使在隔膜卷料的宽度方向的一方的端部产生褶皱、或所形成的一方的第二缺陷码缺失，也能够读取另一方的第二缺陷码。在本专利技术所涉及的隔膜卷料的制造方法中，优选通过所述第二缺陷码的形成位置来表示所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置。根据上述结构，能够通过第一缺陷码大致确定多孔质且在长度方向上容易拉伸的缺陷在隔膜卷料的长度方向上的位置，并通过第二缺陷码的形成位置精密地确定所述缺陷的位置。为了解决上述的课题，本专利技术所涉及的隔膜的制造方法的特征在于，包含：切断工序，形成将检测出缺陷的隔膜卷料沿着所述隔膜卷料的长度方向切断而成的多个隔膜；卷绕工序，将通过所述切断工序切断而成的多个隔膜中的存在所述缺陷的隔膜卷绕于芯；以及第一缺陷码施加工序，将包括所述缺陷在所述隔膜的长度方向上的位置信息的第一缺陷码施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体。根据该特征，对所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体施加包括缺陷在隔膜的长度方向上的位置信息的第一缺陷码。因此，通过读取能够向被卷绕的卷绕体的外侧露出的第一缺陷码，能够容易地确定卷绕于芯的隔膜的缺陷位置。在本专利技术所涉及的隔膜的制造方法中，优选还包含第二缺陷码施加工序，在该第二缺陷码施加工序中，将包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的第二缺陷码施加于所述隔膜卷料的宽度方向的两端的部位。根据上述结构，只要正常地读取两端的第二缺陷码中的任一方即可，因此第二缺陷码的读取的可靠性提高。例如，即使在隔膜卷料的宽度方向的一方的端部产生褶皱、或所形成的一方的第二缺陷码缺失，也能够读取另一方的第二缺陷码。在本专利技术所涉及的隔膜的制造方法中，优选通过所述第二缺陷码的形成位置来表示所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置。根据上述结构，能够通过第一缺陷码大致确定多孔质且容易在长度方向上拉伸的缺陷在隔膜的长度方向上的位置，基于所述隔膜卷料的宽度方向的两端的第二缺陷码的形成位置，能够对切断后的多个隔膜中的存在所述缺陷的隔膜的缺陷的位置容易地施加用于精密地确定所述缺陷在隔膜的长度方向上的位置。在本专利技术所涉及的隔膜的制造方法中，优选包含：标记施加工序，对存在所述缺陷的隔膜施加用于确定所述缺陷的位置的标记；标记探测工序，一边对通过所述第一缺陷码施加工序施加缺陷码后的隔膜进行重卷，一边探测所述标记；以及缺陷去除工序，根据通过所述标记探测工序进行的标记的探测来停止重卷动作，并将所述缺陷去除。根据上述结构，能够通过第一缺陷码大致确定多孔质且在长度方向上容易拉伸的缺陷在隔膜的长度方向上的位置，并通过标记的形成位置精密地确定所述缺陷的位置。在本专利技术所涉及的隔膜的制造方法中，优选在所述标记探测工序中，读出所述第一缺陷码，根据包括读出的所述第一缺陷码在内的所述缺陷在所述长度方向上的所述位置信息，对所述隔膜进行重卷时，若接近所述缺陷的位置则使重卷动作减速。根据上述结构，能够在对隔膜进行重卷时容易地确定缺陷在隔膜的长度方向上的位置。在本专利技术所涉及的隔膜的制造方法中，优选通过粘贴标签来进行所述标记施加工序。根据上述结构，能够通过所粘贴的标签来容易地确定隔膜的缺陷的位置。为了解决上述的课题，本专利技术所涉及的隔膜卷绕体的特征在于，具备：芯；隔膜，其存在缺陷且卷绕于所述芯；以及第一缺陷码，其施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体，且包括所述缺陷在长度方向上的位置信息。根据该特征，对所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体，施加包括缺陷在长度方向上的位置信息的第一缺陷码。因此，通过读取能够向卷绕体的外侧露出的第一缺陷码，能够容易地确定卷绕于芯的隔膜的缺陷位置。为了解决上述的课题，本专利技术所涉及的隔膜卷料卷绕体的特征在于，具备：芯；隔膜卷料，其存在缺陷且卷绕于所述芯；以及第一缺陷码，其施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜卷料的侧面、被卷绕的所述隔膜卷料的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜卷料构成的卷绕体的包装体，且包括所述缺陷在长度方向上的位置信息。根据本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种隔膜的制造方法，其特征在于，包含：卷绕工序，将检测出缺陷的隔膜卷绕于芯；以及第一缺陷码施加工序，将包括所述缺陷在所述隔膜的长度方向上的位置信息的第一缺陷码施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.10.10 JP 2014-209414;2015.01.30 JP PCT/JP20151.一种隔膜的制造方法，其特征在于，包含：卷绕工序，将检测出缺陷的隔膜卷绕于芯；以及第一缺陷码施加工序，将包括所述缺陷在所述隔膜的长度方向上的位置信息的第一缺陷码施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体。2.一种隔膜卷料的制造方法，其特征在于，包含：卷绕工序，将检测出缺陷的隔膜卷料卷绕于芯；以及第一缺陷码施加工序，将包括所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置信息的第一缺陷码施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体。3.根据权利要求2所述的隔膜卷料的制造方法，其中，所述隔膜卷料的制造方法还包含第二缺陷码施加工序，在该第二缺陷码施加工序中，将包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的第二缺陷码施加于所述隔膜卷料的宽度方向的两端的部位。4.根据权利要求3所述的隔膜卷料的制造方法，其中，通过所述第二缺陷码的形成位置来表示所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置。5.一种隔膜的制造方法，其特征在于，包含：切断工序，形成将检测出缺陷的隔膜卷料沿着所述隔膜卷料的长度方向切断而成的多个隔膜；卷绕工序，将通过所述切断工序切断而成的多个隔膜中的存在所述缺陷的隔膜卷绕于芯；以及第一缺陷码施加工序，将包括所述缺陷在所述隔膜的长度方向上的位置信息的第一缺陷码施加于所述芯、被卷绕的所述隔膜的侧面、被卷绕的所述隔膜的外层、或由所述芯以及被卷绕的所述隔膜构成的卷绕体的包装体。6.根据权利要求5所述的隔膜的制造方法，其中，所述隔膜的制造方法还包含第二缺陷码施加工序，在该第二缺陷码施加工序中，将包括所述缺陷在所述隔膜卷料的宽度方向上的位置信息的第二缺陷码施加于所述隔膜卷料的宽度方向的两端的部位。7.根据权利要求6所述的隔膜的制造方法，其中，通过所述第二缺陷码的形成位置来表示所述缺陷在所述隔膜卷料的长度方向上的位置。8.根据权利要求6或7所述的隔膜的制造方法，其中，所述隔膜的制造方法包含：标记施...

【专利技术属性】
技术研发人员：加集功士，今佑介，坂本达哉，王剑，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP