OCT装置用光检测模块及OCT装置制造方法及图纸

一种OCT装置用光检测模块(1)，在OCT装置(100)中检测从光纤(F)的射出端面(FS)射出的干涉光(LC)，其中，具备：球透镜(7A)，其具有入射从射出端面(FS)射出的干涉光(LC)的入射面(71)和射出入射到入射面(71)的干涉光(LC)的射出面(72)；光电二极管(8)，其具有入射从射出面(72)射出的干涉光(LC)的检测面(81)，入射面(71)相对于干涉光(LC)的入射位置(74)上的垂线(75)倾斜入射干涉光(LC)，射出面(72)相对于干涉光(LC)的射出位置(76)上的垂线(77)倾斜射出干涉光(LC)，检测面(81)相对于干涉光(LC)的入射位置(82)上的垂线(83)倾斜入射干涉光(LC)。

Optical detection module for OCT device and OCT device

\u4e00\u79cdOCT\u88c5\u7f6e\u7528\u5149\u68c0\u6d4b\u6a21\u5757(1)\uff0c\u5728OCT\u88c5\u7f6e(100)\u4e2d\u68c0\u6d4b\u4ece\u5149\u7ea4(F)\u7684\u5c04\u51fa\u7aef\u9762(FS)\u5c04\u51fa\u7684\u5e72\u6d89\u5149(LC)\uff0c\u5176\u4e2d\uff0c\u5177\u5907\uff1a\u7403\u900f\u955c(7A)\uff0c\u5176\u5177\u6709\u5165\u5c04\u4ece\u5c04\u51fa\u7aef\u9762(FS)\u5c04\u51fa\u7684\u5e72\u6d89\u5149(LC)\u7684\u5165\u5c04\u9762(71)\u548c\u5c04\u51fa\u5165\u5c04\u5230\u5165\u5c04\u9762(71)\u7684\u5e72\u6d89\u5149(LC)\u7684\u5c04\u51fa\u9762(72)\uff1b\u5149\u7535\u4e8c\u6781\u7ba1(8)\uff0c\u5176\u5177\u6709\u5165\u5c04\u4ece\u5c04\u51fa\u9762(72)\u5c04\u51fa\u7684\u5e72\u6d89\u5149(LC)\u7684\u68c0\u6d4b\u9762(81)\uff0c\u5165\u5c04\u9762(71)\u76f8\u5bf9\u4e8e\u5e72\u6d89\u5149(LC)\u7684\u5165\u5c04\u4f4d\u7f6e(74)\u4e0a\u7684\u5782\u7ebf(75)\u503e\u659c\u5165\u5c04\u5e72\u6d89\u5149(LC)\uff0c\u5c04\u51fa\u9762(72)\u76f8\u5bf9\u4e8e\u5e72\u6d89\u5149(LC)\u7684\u5c04\u51fa\u4f4d\u7f6e(76)\u4e0a\u7684\u5782\u7ebf(77)\u503e\u659c\u5c04\u51fa\u5e72\u6d89\u5149(LC)\uff0c\u68c0\u6d4b\u9762(81)\u76f8\u5bf9\u4e8e\u5e72\u6d89\u5149(LC)\u7684\u5165\u5c04\u4f4d\u7f6e(82)\u4e0a\u7684\u5782\u7ebf(83)\u503e\u659c\u5165\u5c04\u5e72\u6d89\u5149(LC)\u3002

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】OCT装置用光检测模块及OCT装置
本专利技术涉及OCT装置用光检测模块及OCT装置。
技术介绍
已知有通过使用光的干涉测定对象物的深度方向的反射量分布，取得对象物的断层图像的OCT(OpticalCoherenceTomography)装置(例如，专利文献1及2)。OCT装置可以以高的空间分辨率将对象物的内部构造图象化，因此，被用于眼球或牙齿等生物体诊断。专利文献1及2所记载的OCT装置中，将光分离成测定光和参照光，将被分离的测定光向测定对象照射。由测定对象反射的测定光通过与参照光合成而产生干涉光。通过由光检测器检测该干涉光，解析检测结果，将对象物的深度方向的反射光的强度分布作为一维的断层图像进行测定。进而，通过扫描对象物上的测定光的照射位置，取得二维或三维的断层图像。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2001－264246号公报专利文献2：日本特开2004－223269号公报专利技术所要解决的课题专利文献1及2中记载的OCT装置在对测定光进行导波的探针中，通过抑制返回光而实现噪声的除去。进而，专利文献2中记载的OCT装置在参照光的延时线中也能够抑制返回光。但是，这种现有的OCT装置不能充分降低固定图形噪声(FixedPatternNoise、FPN)。固定图形噪声作为实际上不存在的图象在断层图像的深度方向的特定的位置出现。
技术实现思路
因此，在本
中，期望充分降低固定图形噪声。用于解决课题的技术方案本专利技术者等对OCT装置进行了调查研究。其结果，本专利技术者等发现在通过现有的OCT装置取得的断层图像中出现固定图形噪声的位置与光检测模块中使用的光学透镜中的干涉光的光路长度相对应的事实。即，可知，通过在光学透镜内多重反射干涉光，在断层图像的深度方向的特定的位置出现固定图形噪声。本专利技术者等着眼于自身发现的这些事实。本专利技术者等对充分降低固定图形噪声的光检测模块的结构进行了更深入研究，直至想到本专利技术。本专利技术一方面的OCT装置用光检测模块为在OCT装置中检测从光纤的射出端面射出的干涉光的光检测模块。OCT装置用光检测模块具备光学透镜和光检测器。光学透镜具有入射面和射出面。向入射面入射从射出端面射出的干涉光。从射出面射出入射到入射面的干涉光。光检测器具有检测面。向检测面入射从射出面射出的干涉光。入射面以相对于干涉光的入射位置上的垂线倾斜入射干涉光的方式配置。射出面以相对于干涉光的射出位置上的垂线倾斜射出干涉光的方式配置。检测面以相对于干涉光的入射位置上的垂线倾斜入射干涉光的方式配置。本方式中，在光纤的射出端面和光检测器的检测面之间的光路上防止干涉光的多重反射。因此，可以充分降低固定图形噪声。本专利技术一方面的OCT装置用光检测模块还可以具备罩部。罩部形成有干涉光通过的开口，且覆盖光学透镜。该情况下，能够防止干涉光以外的光被光检测器检测。其结果，起因于干涉光以外的光的噪声不易出现在断层图像上。本专利技术一方面的OCT装置用光检测模块还可以具备定位部。定位部规定光纤的位置，且相对于开口定位射出端面。该情况下，因为规定光纤的位置，所以容易设定光学透镜及光检测器的位置。光学透镜也可以是球透镜。光学透镜也可以是熔接型透镜。光学透镜也可以为相互空间上分开配置的多个透镜。光学透镜也可以具有在入射面及射出面之间的光路上折射率不同的多个区域、和在多个所述区域间入射干涉光的界面。界面以相对于干涉光的入射位置上的垂线倾斜入射干涉光的方式配置。该情况下，在多个区域之间的界面防止干涉光的多重反射。因此，可以充分降低固定图形噪声。本专利技术一方式的OCT装置具备上述任一项的OCT装置用光检测模块。本方式中，如上述，可以充分降低固定图形噪声。专利技术效果根据本专利技术的上述一方式，可以提供可充分降低固定图形噪声的OCT装置用光检测模块及OCT装置。附图说明图1是本实施方式的OCT装置的结构图。图2是表示图1的OCT装置用光检测模块的结构的剖视图。图3是说明图2的CAN器件的结构的图。图4是图2的OCT装置用光检测模块的局部剖视图。图5(a)是表示由实施例的OCT装置测定的反射光的强度分布的曲线图，图5(b)是表示由比较例的OCT装置测定的反射光的强度分布的曲线图。图6是变形例的OCT装置用光检测模块的局部剖视图。图7是其它变形例的OCT装置用光检测模块的局部剖视图。符号说明1…OCT装置用光检测模块(光检测模块)、31…第一插入部(定位部)、32…第二插入部(罩部)、33…开口、7A…球透镜(光学透镜)、7B…熔接型透镜(光学透镜)、7C…分割透镜(光学透镜)、71…入射面、72…射出面、74…入射位置、75…垂线、76…射出位置、77…垂线、8…光电二极管(光检测器)、78、79…半球透镜(透镜)、81…检测面、82…入射位置、83…垂线、91…第一区域、92…第二区域、93…第三区域、94…平面(界面)、95…平面(界面)、100…OCT装置、F…光纤、FS…射出端面、LC…干涉光。具体实施方式以下，参照附图详细说明本专利技术的实施方式。此外，说明中，对于同一要素或具有同一功能的要素使用同一符号，省略重复的说明。参照图1，对OCT装置100的结构进行说明。图1是本实施方式的OCT装置的结构图。OCT装置100例如构成为通过SS－OCT(Swept-sourceOCT)方式得到对象物OB的断层图像。SS－OCT方式中，一边使从光源101射出的低干涉性光的波长时间性变化，一边检测干涉光光谱。基于该干涉光光谱的傅立叶变换的结果得到作为试样的对象物OB的断层图像。OCT装置100具备光源101、干涉部102、检测部103、运算部104、监视器105、函数发生器106。光源101是波长扫描光源。光源101例如由KTN结晶构成。KTN结晶是指由钾(K)、钽(Ta)、铌(Nb)及氧构成的透明的光学结晶。光源101射出频率在一定的范围内变化的激光L0。从光源101射出的激光L0向设置于干涉部102的耦合器111入射。耦合器111将入射的激光L0分支成测定光LS和参照光LR。耦合器111以例如分支比90：10将激光L0分支成测定光LS和参照光LR。参照光LR通过环形器112向准直透镜113入射。准直透镜113使参照光LR成为平行光。通过准直透镜113形成平行光并射出的参照光LR向基准反射镜114照射。由基准反射镜114反射来的参照光LR通过准直透镜113及环形器112向偏振控制器115入射。偏振控制器115调整通过的参照光LR的偏振。从偏振控制器115射出的参照光LR向耦合器116入射。测定光LS通过环形器117向偏振控制器118入射。偏振控制器118调整通过的测定光LS的偏振。从偏振控制器118射出的测定光LS向准直透镜119入射。准直透镜119使测定光LS成为平行光。从准直透镜119射出的测定光LS向检流计反射镜120入射。检流计反射镜120具有两个反射镜。检流计反射镜120控制测定光LS的光路。通过检流计反射镜120反射的测定光LS通过聚焦透镜121聚光。通过聚焦透镜121聚光的测定光LS向对象物OB照射。通过对象物OB反射的测定光LS通过聚焦透镜121、检流计反射镜120、准直透镜119、偏振控制器118、环形器117、及偏振控制器122向耦合器116入射。耦本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种OCT装置用光检测模块，其特征在于，是在OCT装置中检测从光纤的射出端面射出的干涉光的光检测模块，所述光检测模块具备：光学透镜，其具有入射从所述射出端面射出的所述干涉光的入射面和射出入射到所述入射面的所述干涉光的射出面；光检测器，其具有入射从所述射出面射出的所述干涉光的检测面，所述入射面以相对于所述干涉光的入射位置上的垂线倾斜入射所述干涉光的方式配置，所述射出面以相对于所述干涉光的射出位置上的垂线倾斜射出所述干涉光的方式配置，所述检测面以相对于所述干涉光的入射位置上的垂线倾斜入射所述干涉光的方式配置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.10.09 JP 2014-2082971.一种OCT装置用光检测模块，其特征在于，是在OCT装置中检测从光纤的射出端面射出的干涉光的光检测模块，所述光检测模块具备：光学透镜，其具有入射从所述射出端面射出的所述干涉光的入射面和射出入射到所述入射面的所述干涉光的射出面；光检测器，其具有入射从所述射出面射出的所述干涉光的检测面，所述入射面以相对于所述干涉光的入射位置上的垂线倾斜入射所述干涉光的方式配置，所述射出面以相对于所述干涉光的射出位置上的垂线倾斜射出所述干涉光的方式配置，所述检测面以相对于所述干涉光的入射位置上的垂线倾斜入射所述干涉光的方式配置。2.根据权利要求1所述的OCT装置用光检测模块，其特征在于，还具备罩部，其形成有所述干涉光通过的开口，且覆盖所述光学透镜。3.根据权利要求2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：牧野健二，稻垣正人，田畑桂，
申请(专利权)人：浜松光子学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP