用于摄像头模组的污点检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于摄像头模组的污点检测方法及装置，该方法包括：获取摄像头模组拍摄均匀光板得到的图像；对图像进行亮度分阶，得到图像的亮度等高线数据；确定图像的最亮中心点；将图像划分为各图像区域，其中，每一图像区域具有邻近和远离最亮中心点的第一和第二边缘；计算从各图像区域中选出的待检测区域的第一边缘的平均亮度A1和第二边缘的平均亮度A2；计算待检测区域的实际最大亮度差等于平均亮度A1与平均亮度A2的差值的绝对值；根据亮度等高线数据，计算待检测区域的理论最大亮度差；判断实际最大亮度差与所述理论最大亮度差之间的差值是否大于设定的亮度阈值，如是，则确定所述图像在所述待检测区域存在污点。

Method and device for detecting spot mark of camera module

The invention discloses a method and a device for stain detection camera module, the method includes: image acquisition module camera shooting light uniform get; the image brightness in order to get the brightness, the image contour data; determining the light center point of the image; the image is divided into different image regions, wherein each the image area with adjacent and far from the brightest in the first and second edge center; average brightness of A2 to calculate the first edge region to be detected is selected from each image in the area of average brightness A1 and second edges; the absolute value of the actual calculation of the maximum brightness areas to be inspected is equal to the difference between the average brightness and the average luminance of A2 A1; according to the brightness contour data, calculate the detection area of the theoretical maximum brightness difference; judge the actual difference between the maximum brightness and the maximum luminance difference theory If the difference is greater than the set brightness threshold, if so, the image is determined to have a spot in the pending region.

【技术实现步骤摘要】
用于摄像头模组的污点检测方法及装置
本专利技术涉及摄像头模组检测
，更具体地，本专利技术涉及一种用于摄像头模组的污点检测方法、及一种用于摄像头模组的污点检测装置。
技术介绍
摄像头模组在制造过程中，由于环境灰尘，组件碎屑，组件来料等问题会造成脏污，这将导致所成图像上存在污点，因此，摄像头模组在出厂之前需要进行污点检测，以保证摄像头模组的拍摄效果。目前，摄像头模组的污点检测仍主要由人工完成，人工检测不仅效率低下，而且工人在持续检测过程中非常容易产生视觉疲劳，进而导致检测准确率下降，因此，非常有必要提供一种能够自动进行污点检测的技术方案。
技术实现思路
本专利技术实施例的一个目的是提供一种对摄像头模组进行污点检测的新的技术方案。根据本专利技术的第一方面，提供了一种用于摄像头模组的污点检测方法，其包括：获取摄像头模组拍摄均匀光板得到的图像；对所述图像进行亮度分阶，得到所述图像的亮度等高线数据；确定所述图像的最亮中心点；将所述图像划分为各图像区域，其中，每一所述图像区域具有邻近所述最亮中心点的第一边缘和远离所述最高中心点的第二边缘；从所述各图像区域中选取待检测区域；计算所述待检测区域的第一边缘的平均亮度A1和所述待检测区域的的第二边缘的平均亮度A2；计算所述待检测区域的实际最大亮度差等于平均亮度A1与平均亮度A2的差值的绝对值；根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的理论最大亮度差；判断所述实际最大亮度差与所述理论最大亮度差之间的差值是否大于设定的亮度阈值，如是，则：确定所述图像在所述待检测区域存在污点。可选的是，所述对所述图像进行亮度分阶，得到所述图像的亮度等高线数据包括：确定等高线的数量、及每一等高线对应的亮度阶数；分别针对每一等高线对应的亮度阶数，对所述图像进行二值化处理，得到对应每一亮度阶数的二值化图像；识别每一所述二值化图像中的轮廓线为对应亮度阶数的等高线，得到所述等高线数据。可选的是，所述确定所述图像的最亮中心点包括：计算每条等高线的几何中心；计算每条等高线的几何中心的位置坐标的平均值，得到最亮中心点的位置坐标。可选的是，所述将所述图像划分为各图像区域包括：以所述最亮中心点为起始点，在360度范围内绘制均匀射线；对每一所述射线进行设定份数的等分，得到每一所述射线的等分点；以每一射线的每一等分点为圆心绘制半圆弧，其中，所述半圆弧的直径垂直对应射线，且与对应射线的相邻两条射线各有一个交点；通过所述射线和所述半圆弧进行所述图像的划分，得到各图像区域，其中，每一所述图像区域的第一边缘和第二边缘为对应同一射线的相邻两个半圆弧。可选的是，所述根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的理论最大亮度差包括：根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的第一边缘对应的等分点的理论亮度值作为第一理论值；根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的第二边缘对应的等分点的理论亮度值作为第二理论值；计算所述第一理论值与第二理论值之间的差值作为所述待检测区域的理论最大亮度差。根据本专利技术的第二方面，提供了一种用于摄像头模组的污点检测装置，其包括：图像获取模块，用于获取摄像头模组拍摄均匀光板得到的图像；亮度分阶模块，用于对所述图像进行亮度分阶，得到所述图像的亮度等高线数据；亮度中心确定模块，用于确定所述图像的最亮中心点；分区模块，用于将所述图像划分为各图像区域，其中，每一所述图像区域具有邻近所述最亮中心点的第一边缘和远离所述最高中心点的第二边缘；选取模块，用于从所述各图像区域中选取一图像区域作为待检测区域；实际亮度差计算模块，用于计算所述待检测区域的第一边缘的平均亮度A1和所述待检测区域的的第二边缘的平均亮度A2，及计算所述待检测区域的实际最大亮度差等于平均亮度A1与平均亮度A2的差值的绝对值；理论亮度差计算模块，用于根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的理论最大亮度差；以及，判断模块，用于判断所述实际最大亮度差与所述理论最大亮度差之间的差值是否大于设定的亮度阈值，如是，则确定所述图像在所述待检测区域存在污点。可选的是，所述亮度分阶模块进一步包括：阶数确定单元，用于确定等高线的数量、及每一等高线对应的亮度阶数；二值化处理单元，用于分别针对每一等高线对应的亮度阶数，对所述图像进行二值化处理，得到对应每一亮度阶数的二值化图像；以及，等高线识别单元，用于识别每一所述二值化图像中的轮廓线为对应亮度阶数的等高线，得到所述等高线数据。可选的是，所述亮度中心确定模块进一步包括：用于计算每条等高线的几何中心的单元；以及，用于计算每条等高线的几何中心的位置坐标的平均值，得到最亮中心点的位置坐标的单元。可选的是，所述分区模块进一步包括：射线绘制单元，用于以所述最亮中心点为起始点，在360度范围内绘制均匀射线；射线等分单元，用于对每一所述射线进行设定份数的等分，得到每一所述射线的等分点；圆弧绘制单元，用于以每一射线的每一等分点为圆心绘制半圆弧，其中，所述半圆弧的直径垂直对应射线，且与对应射线的相邻两条射线各有一个交点；以及，区域划分单元，用于通过所述射线和所述半圆弧进行所述图像的划分，得到各图像区域，其中，每一所述图像区域的第一边缘和第二边缘为对应同一射线的相邻两个半圆弧。可选的是，所述理论亮度差计算模块进一步包括：第一理论值计算单元，用于根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的第一边缘对应的等分点的理论亮度值作为第一理论值；第二理论值计算单元，用于根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的第二边缘对应的等分点的理论亮度值作为第二理论值；理论亮度差计算单元，用于计算所述第一理论值与第二理论值之间的差值作为所述待检测区域的理论最大亮度差。根据本专利技术的第三方面，提供了一种用于摄像头模组的污点检测装置，包括存储器和处理器，所述存储器用于存储指令，所述指令用于控制所述处理器进行操作以执行根据本专利技术第一方面所述的方法。本专利技术的一个有益效果在于，本专利技术污点检测方法及装置对摄像头模组拍摄均匀光板得到图像进行分区处理，得到各图像区域，且该分区使得各图像区域具有邻近图像的最亮中心点的第一边缘和远离该最高中心点的第二边缘，由于图像正常的亮度变化为从最亮中心点向四周逐渐变暗，因此，通过计算图像区域的第一边缘与第二边缘之间的亮度差将能够获得该图像区域的实际最大亮度差，如果该实际最大亮度差相对该区域所在位置的理论最大亮度差超出设定的阈值，则说明图像在该区域的最大亮度变化明显超出了正常变化范围，进而可以判定图像在该区域存在污点，实现污点的自动检测。本专利技术的方法及装置不仅能够提高检测效率，而且还使得检测结果不依赖于检测人员的熟练程度和疲劳程度，大大提高了检测准确率。通过以下参照附图对本专利技术的示例性实施例的详细描述，本专利技术的其它特征及其优点将会变得清楚。附图说明被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例，并且连同其说明一起用于解释本专利技术的原理。图1为根据本专利技术污点检测方法的一种实施方式的流程示意图；图2为图1中将所述图像划分为各图像区域步骤的一种实施例的流程示意图；图3为根据本专利技术污点检测装置的一种实施方式的方框原理图；图4为根据本专利技术污点检测装置的一种硬件结构的方框原理图。具体实施方式现在将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。应注意到：本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于摄像头模组的污点检测方法，其特征在于，包括：获取摄像头模组拍摄均匀光板得到的图像；对所述图像进行亮度分阶，得到所述图像的亮度等高线数据；确定所述图像的最亮中心点；将所述图像划分为各图像区域，其中，每一所述图像区域具有邻近所述最亮中心点的第一边缘和远离所述最高中心点的第二边缘；从所述各图像区域中选取待检测区域；计算所述待检测区域的第一边缘的平均亮度A1和所述待检测区域的的第二边缘的平均亮度A2；计算所述待检测区域的实际最大亮度差等于平均亮度A1与平均亮度A2的差值的绝对值；根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的理论最大亮度差；判断所述实际最大亮度差与所述理论最大亮度差之间的差值是否大于设定的亮度阈值，如是，则：确定所述图像在所述待检测区域存在污点。

【技术特征摘要】
1.一种用于摄像头模组的污点检测方法，其特征在于，包括：获取摄像头模组拍摄均匀光板得到的图像；对所述图像进行亮度分阶，得到所述图像的亮度等高线数据；确定所述图像的最亮中心点；将所述图像划分为各图像区域，其中，每一所述图像区域具有邻近所述最亮中心点的第一边缘和远离所述最高中心点的第二边缘；从所述各图像区域中选取待检测区域；计算所述待检测区域的第一边缘的平均亮度A1和所述待检测区域的的第二边缘的平均亮度A2；计算所述待检测区域的实际最大亮度差等于平均亮度A1与平均亮度A2的差值的绝对值；根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的理论最大亮度差；判断所述实际最大亮度差与所述理论最大亮度差之间的差值是否大于设定的亮度阈值，如是，则：确定所述图像在所述待检测区域存在污点。2.根据权利要求1所述的污点检测方法，其特征在于，所述对所述图像进行亮度分阶，得到所述图像的亮度等高线数据包括：确定等高线的数量、及每一等高线对应的亮度阶数；分别针对每一等高线对应的亮度阶数，对所述图像进行二值化处理，得到对应每一亮度阶数的二值化图像；识别每一所述二值化图像中的轮廓线为对应亮度阶数的等高线，得到所述等高线数据。3.根据权利要求1所述的污点检测方法，其特征在于，所述确定所述图像的最亮中心点包括：计算每条等高线的几何中心；计算每条等高线的几何中心的位置坐标的平均值，得到最亮中心点的位置坐标。4.根据权利要求1、2或3所述的污点检测方法，其特征在于，所述将所述图像划分为各图像区域包括：以所述最亮中心点为起始点，在360度范围内绘制均匀射线；对每一所述射线进行设定份数的等分，得到每一所述射线的等分点；以每一射线的每一等分点为圆心绘制半圆弧，其中，所述半圆弧的直径垂直对应射线，且与对应射线的相邻两条射线各有一个交点；通过所述射线和所述半圆弧进行所述图像的划分，得到各图像区域，其中，每一所述图像区域的第一边缘和第二边缘为对应同一射线的相邻两个半圆弧。5.根据权利要求4所述的污点检测方法，其特征在于，所述根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的理论最大亮度差包括：根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的第一边缘对应的等分点的理论亮度值作为第一理论值；根据所述亮度等高线数据，计算所述待检测区域的第二边缘对应的等分点的理论亮度值作为第二理论值；计算所述第一理论值与第二理论值之间的差值作为所述待检测区域的理论最大亮度差。6.一种用于摄像头模组的污点检测装置，其特征在于，包括：图像获取模块，用于获取摄像头模组拍摄均匀光板得到的图像；亮度分阶模块，用于对所述图像进行亮度分阶，得到所述图像的亮度等高线数据；亮度中心确定模块，用于确定所述图像的最亮中心点；分区模块，用...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋林东，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东,37