The present invention relates to a surface (11) is coated with a thin layer in the stack and / or with infrared reflection properties in solar radiation in (14) of the substrate (10), the stack contains at least one metal layer (140), especially based on silver or silver alloy metal based on the metal function the layer, and at least two anti reflective coating (120160), wherein each coating includes at least one dielectric layer (122164), the functional layer (140) is arranged on the two anti reflective coating (120160), the stack also includes terminal layer (168), the terminal layer from the surface of the stack (11) farthest layer, characterized in that the terminal layer (168) is a metallic layer composed of tin and zinc, which is composed of Sn
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】被提供有具有热性质和金属末端层的堆叠体的基材本专利技术涉及一种在一个面上涂覆有在红外中和/或在太阳辐射中具有反射性质的薄层堆叠体的基材,该堆叠体包含至少一个金属功能层,特别是基于银或基于含银金属合金的功能层,以及至少两个抗反射涂层,所述涂层每个包含至少一个电介质层,所述功能层被设置于两个抗反射涂层之间,所述堆叠体还包含末端层,该末端层是该堆叠体的离所述面最远的层。在这种类型的堆叠体中,功能层因此被设置在两个抗反射涂层之间,每个抗反射涂层通常包括多个层,所述层中的每个由氮化物类型的电介质材料,特别是氮化硅或氮化铝,或者氧化物制成。从光学角度来看,这些围绕所述一个或多个金属功能层的涂层的目的是使该金属功能层“抗反射”。然而,阻挡涂层有时被插入在一个或每个抗反射涂层和金属功能层之间;设置于功能层下方(在基材的方向上)的阻挡涂层在任选的弯曲和/或淬火类型的高温热处理期间保护功能层,和设置于功能层上方(在与基材相反的一侧上)的阻挡涂层在上抗反射涂层的沉积期间以及在任选的弯曲和/或淬火类型的高温热处理期间保护该功能层免受任何降解。本专利技术更特别地涉及在堆叠体的末端层(最远离该基材的面(在该面上沉积了堆叠体)的层)的用途,以及借助于产生辐射,特别地红外辐射的源来实施对整个薄层堆叠体的处理。特别是从国际专利申请WO2010/142926已知,提供吸收层作为堆叠体的末端层,并且在沉积堆叠体之后施加处理以便降低发射率或改善低发射性堆叠体的光学性能。金属末端层的使用允许提高吸收并降低处理所需的功率。当末端层在处理期间氧化并变得透明时,处理之后的堆叠体的光学特性是有利的(特别地可 ...
【技术保护点】
在一个面(11)上涂覆有在红外中和/或在太阳辐射中具有反射性质的薄层堆叠体(14)的基材(10),这种堆叠体包含至少一个金属功能层(140),特别地基于银或基于含银金属合金的金属功能层,和至少两个抗反射涂层(120,160),所述涂层每个包括至少一个电介质层(122,164),所述功能层(140)被设置于两个抗反射涂层(120,160)之间,所述堆叠体还包含末端层(168),所述末端层是所述堆叠体的离所述面(11)最远的层,特征在于所述末端层(168)是由锌和锡构成的金属层,其由Sn
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.09.30 FR 14592581.在一个面(11)上涂覆有在红外中和/或在太阳辐射中具有反射性质的薄层堆叠体(14)的基材(10),这种堆叠体包含至少一个金属功能层(140),特别地基于银或基于含银金属合金的金属功能层,和至少两个抗反射涂层(120,160),所述涂层每个包括至少一个电介质层(122,164),所述功能层(140)被设置于两个抗反射涂层(120,160)之间,所述堆叠体还包含末端层(168),所述末端层是所述堆叠体的离所述面(11)最远的层,特征在于所述末端层(168)是由锌和锡构成的金属层,其由SnxZny制成,其中具有为0.1≤x/y≤2.4的比率,并具有在0.5nm至5.0nm之间的物理厚度,排除端值,甚至在0.6nm至2.7nm之间的物理厚度,排除端值。2.根据权利要求1所述的基材(10),其特征在于,所述金属末端层(168)由SnxZny制成,具有为0.55≤x/y≤0.83的比率。3.根据权利要求1或2所述的基材(10),其特征在于,所述末端层(168)直接位于基于氮化硅并且不包含氧的电介质层的上方。4.根据权利要求3所述的基材(10),其特征在于,所述基于氮化硅的电介质层具有在10至50nm之间的物理厚度。5.根据权利要求3或4所述的基材(10),其特征在于,位于与所述面(11)相反的一侧上在所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:S布罗萨尔,N梅卡迪耶,R伊里比,B库恩,L卡诺瓦,
申请(专利权)人:法国圣戈班玻璃厂,
类型:发明
国别省市:法国,FR
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