具有测试电路结构的液晶显示面板及液晶显示装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种具有测试电路结构的液晶显示面板，其包括信号驱动芯片、数据线、扫描线、像素单元以及测试电路结构，该测试电路结构包括测试控制线、测试信号线以及测试开关管，测试控制线用于输入测试控制信号，测试信号线用于输入测试信号，测试开关管的控制端与测试控制线连接，测试开关管的输入端与测试信号线连接，测试开关管的输出端与对应的扫描线的输入端连接。本发明专利技术还提供一种液晶显示装置，本发明专利技术的通过测试电路结构的设置，实现了对处于测试状态的液晶显示面板的多个薄膜晶体管进行同时导通或通过断开操作，从而便于对液晶显示面板进行器件稳定性测试。

Liquid crystal display panel with test circuit structure and liquid crystal display device

The invention provides a liquid crystal display panel has a test circuit structure, which comprises a signal driving chip, data lines, scanning lines, a pixel unit and a test circuit, the test circuit structure comprises a testing control line, test signal wire and a test switch, test control line for test input control signal, signal line for testing the test signal input end is connected with the control line, test control switch test, test switch is connected to the input end and output end of the test signal lines, and the corresponding scanning line test switch is connected with the input terminal. The invention also provides a liquid crystal display device of the invention through the test circuit structure, realization of liquid crystal display in the testing state of a plurality of thin film transistors faceplate is simultaneously switched on or off by operation, which is convenient for the liquid crystal display panel device stability test.

【技术实现步骤摘要】
具有测试电路结构的液晶显示面板及液晶显示装置
本专利技术涉及液晶面板领域，特别是涉及一种具有测试电路结构的液晶显示面板及液晶显示装置。
技术介绍
液晶显示面板经历了漫长的基础研究阶段，在实现大生产以及商业化之后，其产品以轻薄、环保以及高性能等优点，享有越来越广泛的应用领域。液晶显示面板的制作工艺包括阵列工艺技术、彩膜工艺技术、成盒工艺技术以及模组工艺技术，每道工艺制程均可能会产生工业生产的良率问题以及可靠性问题。因此，对一些显示不良的解析成为了液晶显示面板行业必备的检讨环节。故，有必要提供一种具有测试电路结构的液晶显示面板及液晶显示装置，以解决现有技术所存在的问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种可对液晶显示面板方便的进行检测的具有测试电路结构的液晶显示面板及液晶显示装置；以解决现有的液晶显示面板及液晶显示装置的良率较低以及可靠性较差的技术问题。本专利技术实施例提供一种具有测试电路结构的液晶显示面板，其包括：信号驱动芯片，用于生成所述数据信号以及所述扫描信号；数据线，用于传输数据信号；扫描线，用于传输扫描信号；像素单元，由所述数据线和所述扫描线交错形成；以及测试电路结构，设置在所述扫描线的一侧，用于向所述扫描线输入测试信号；其中所述测试电路结构包括：测试控制线，用于输入测试控制信号；测试信号线，用于输入测试信号；以及测试开关管，所述测试开关管的控制端与所述测试控制线连接，所述测试开关管的输入端与所述测试信号线连接，所述测试开关管的输出端与对应的扫描线的输入端连接。在本专利技术所述的具有测试电路结构的液晶显示面板中，当所述液晶显示面板处于工作状态时，所述测试控制线输入低电平信号，所述测试开关管处于断开状态；当所述液晶显示面板处于测试状态时，所述测试控制线输入高电平信号，所述测试开关管处于导通状态。在本专利技术所述的具有测试电路结构的液晶显示面板中，当所述液晶显示面板处于工作状态时，所述信号驱动芯片生成所述数据信号以及所述扫描信号；当所述液晶显示面板处于测试状态时，所述信号驱动芯片停止工作。在本专利技术所述的具有测试电路结构的液晶显示面板中，当所述测试开关管处于导通状态时，通过向所述测试信号线输入高电平测试信号，实现所述液晶显示面板对应的薄膜晶体管的导通；通过向所述测试信号线输入低电平测试信号，实现所述液晶显示面板对应的薄膜晶体管的断开。在本专利技术所述的具有测试电路结构的液晶显示面板中，同一所述测试信号线与多个所述测试开关管的输入端连接；同一所述测试控制线与多个所述测试开关管的控制端连接。在本专利技术所述的具有测试电路结构的液晶显示面板中，当多个所述测试开关管处于导通状态时，通过向所述测试信号线输入高电平测试信号，实现所述液晶显示面板对应的多个薄膜晶体管的同时导通；通过向所述测试信号线输入低电平测试信号，实现所述液晶显示面板对应的多个薄膜晶体管的同时断开。在本专利技术所述的具有测试电路结构的液晶显示面板中，同一所述测试信号线对应多条相邻的所述扫描线。本专利技术实施例还提供一种液晶显示装置，其包括背光源以及液晶显示面板，其中所述液晶显示面板包括：信号驱动芯片，用于生成所述数据信号以及所述扫描信号；数据线，用于传输数据信号；扫描线，用于传输扫描信号；像素单元，由所述数据线和所述扫描线交错形成；以及测试电路结构，设置在所述扫描线的一侧，用于向所述扫描线输入测试信号；其中所述测试电路结构包括：测试控制线，用于输入测试控制信号；测试信号线，用于输入测试信号；以及测试开关管，所述测试开关管的控制端与所述测试控制线连接，所述测试开关管的输入端与所述测试信号线连接，所述测试开关管的输出端与对应的扫描线的输入端连接。在本专利技术所述的液晶显示装置中，当所述液晶显示面板处于工作状态时，所述测试控制线输入低电平信号，所述测试开关管处于断开状态；所述信号驱动芯片生成所述数据信号以及所述扫描信号；当所述液晶显示面板处于测试状态时，所述测试控制线输入高电平信号，所述测试开关管处于导通状态；所述信号驱动芯片停止工作。在本专利技术所述的液晶显示装置中，同一所述测试信号线与多个所述测试开关管的输入端连接；同一所述测试控制线与多个所述测试开关管的控制端连接；当多个所述测试开关管处于导通状态时，通过向所述测试信号线输入高电平测试信号，实现所述液晶显示面板对应的多个薄膜晶体管的同时导通；通过向所述测试信号线输入低电平测试信号，实现所述液晶显示面板对应的多个薄膜晶体管的同时断开。相较于现有的液晶显示面板及液晶显示装置，本专利技术的具有测试电路结构的液晶显示面板及液晶显示装置通过测试电路结构的设置，实现了对处于测试状态的液晶显示面板的多个薄膜晶体管进行同时导通或同时断开操作，从而便于对液晶显示面板进行器件稳定性测试；解决了现有的液晶显示面板及液晶显示装置的良率较低以及可靠性较差的技术问题。为让本专利技术的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：附图说明图1为本专利技术的具有测试电路结构的液晶显示面板的优选实施例的结构示意图。具体实施方式以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本专利技术可用以实施的特定实施例。本专利技术所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本专利技术，而非用以限制本专利技术。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。请参照图1，图1为本专利技术的具有测试电路结构的液晶显示面板的优选实施例的结构示意图。本优选实施例的具有测试电路结构的液晶显示面板10包括信号驱动芯片11、数据线12、扫描线13、像素单元14以及测试电路结构15。其中信号驱动芯片11用于生成数据信号以及扫描信号；数据线12用于传输数据信号；扫描线13用于传输扫描信号，如图1中的扫描线g1、扫描线g2、扫描线g3以及扫描线g3等；像素单元14由数据线12和扫描线13交错形成，如图1中的像素单元S11、像素单元S21、像素单元S31以及像素单元S41等；测试电路结构15设置在扫描线的一侧，用于向扫描线13输入测试信号。如图1所示，测试电路结构15包括测试控制线151、测试信号线152以及测试开关管153，测试控制线151用于输入测试控制信号；测试信号线152用于输入测试信号；测试开关管153的控制端与测试控制线151连接，测试开关管153的输入端与测试信号线152连接，测试开关管153的输出端与对应的扫描线13的输入端连接，如图1中的测试开关管q1、测试开关管q2、测试开关管q3以及测试开关管q4等。具体的，这里同一测试信号线152同时与测试开关管q1的输入端、测试开关管q2的输入端、测试开关管q3的输入端以及测试开关管q4的输入端连接，同一测试控制线151同时与测试开关管q1的控制端、测试开关管q2的控制端、测试开关管q3的控制端以及测试开关管q4的控制端连接。这里测试信号线152优选对应的多条相邻的扫描线13，这样可同时对相邻的多行像素单元14的薄膜晶体管进行同时导通或通过断开操作，便于对液晶显示面板10的部分连续的显示区域进行器件稳定性测试。本优选实施例的具有测试电路结构的液晶显示面板10使用时，当该液晶显示面板10处于正常工作状态时，所有的测试控制线151均输入低电平信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有测试电路结构的液晶显示面板，其特征在于，包括：信号驱动芯片，用于生成所述数据信号以及所述扫描信号；数据线，用于传输数据信号；扫描线，用于传输扫描信号；像素单元，由所述数据线和所述扫描线交错形成；以及测试电路结构，设置在所述扫描线的一侧，用于向所述扫描线输入测试信号；其中所述测试电路结构包括：测试控制线，用于输入测试控制信号；测试信号线，用于输入测试信号；以及测试开关管，所述测试开关管的控制端与所述测试控制线连接，所述测试开关管的输入端与所述测试信号线连接，所述测试开关管的输出端与对应的扫描线的输入端连接。

【技术特征摘要】
1.一种具有测试电路结构的液晶显示面板，其特征在于，包括：信号驱动芯片，用于生成所述数据信号以及所述扫描信号；数据线，用于传输数据信号；扫描线，用于传输扫描信号；像素单元，由所述数据线和所述扫描线交错形成；以及测试电路结构，设置在所述扫描线的一侧，用于向所述扫描线输入测试信号；其中所述测试电路结构包括：测试控制线，用于输入测试控制信号；测试信号线，用于输入测试信号；以及测试开关管，所述测试开关管的控制端与所述测试控制线连接，所述测试开关管的输入端与所述测试信号线连接，所述测试开关管的输出端与对应的扫描线的输入端连接。2.根据权利要求1所述的具有测试电路结构的液晶显示面板，其特征在于，当所述液晶显示面板处于工作状态时，所述测试控制线输入低电平信号，所述测试开关管处于断开状态；当所述液晶显示面板处于测试状态时，所述测试控制线输入高电平信号，所述测试开关管处于导通状态。3.根据权利要求2所述的具有测试电路结构的液晶显示面板，其特征在于，当所述液晶显示面板处于工作状态时，所述信号驱动芯片生成所述数据信号以及所述扫描信号；当所述液晶显示面板处于测试状态时，所述信号驱动芯片停止工作。4.根据权利要求2所述的具有测试电路结构的液晶显示面板，其特征在于，当所述测试开关管处于导通状态时，通过向所述测试信号线输入高电平测试信号，实现所述液晶显示面板对应的薄膜晶体管的导通；通过向所述测试信号线输入低电平测试信号，实现所述液晶显示面板对应的薄膜晶体管的断开。5.根据权利要求1所述的具有测试电路结构的液晶显示面板，其特征在于，同一所述测试信号线与多个所述测试开关管的输入端连接；同一所述测试控制线与多个所述测试开关管的控制端连接。6.根据权利要求5所述的具有测试电路结构的液晶显示面板，其特征在于，当多个所述测试开关管处于导通状态时，通...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈帅，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44