一种屏蔽罩平面度检测机构制造技术

本实用新型专利技术公开一种屏蔽罩平面度检测机构，包括底座、支架、治具及若干个光纤组，所述支架设置在底座上，所述治具设置在支架上，所述治具上设有屏蔽罩安装槽，所述若干个光纤组围绕着屏蔽罩安装槽分布，治具上设有若干条沿着治具的径向方向间隔设置的光纤安装槽，所述光纤安装槽是由光纤内环槽和光纤外环槽所组成，光纤内环槽位于屏蔽罩安装槽的内侧，光纤外环槽位于屏蔽罩安装槽的外侧，所述光纤组包括第一水平光纤线和第二水平光纤线，所述第一水平光纤线设置在光纤内环槽上，所述第二水平光纤线设置在光纤外环槽上。本实用新型专利技术结构简单，其检测精度靠工件的精度保证，容易实现，并且，其检测所需要的光纤组较少，大大降低了生产成本。

【技术实现步骤摘要】
一种屏蔽罩平面度检测机构
本技术涉及屏蔽罩平面度检测领域，具体涉及一种屏蔽罩平面度检测机构。
技术介绍
为了避免电路板上电子元件受干扰，通常在电子元件外设一个屏蔽罩。为达到更好地屏蔽效果，对屏蔽罩的侧壁底面平整度要求较高，因此，屏蔽罩在出厂前必须进行底面平整度检测，分拣出合格品与不合格品。如图1、图2所示，为现有的屏蔽罩平面度检测机构，其包括底座10、支架20、治具30及若干个光纤组40，支架20设置在底座10上，治具30设置在支架20上，治具30上设有屏蔽罩安装槽50，所述若干个光纤组40围绕着屏蔽罩安装槽50分布，其中，所述光纤组40包括两条沿着竖直方向设置的光纤线41，所述光纤线41为反射型光纤。采用此方式排布光纤，需调节光纤上下高度位置至合适的位置。同时光纤需排布满整个产品折弯边沿，所需的光纤组较多，成本高。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单，成本低，可保证加工精度的屏蔽罩平面度检测机构。本技术的技术方案如下：一种屏蔽罩平面度检测机构，包括底座、支架、治具及若干个光纤组，所述支架设置在所述底座上，所述治具设置在所述支架上，所述治具上设有屏蔽罩安装槽，所述若干个光纤组围绕着所述屏蔽罩安装槽分布，所述治具上设有若干条沿着该治具的径向方向间隔设置的光纤安装槽，所述光纤安装槽是由光纤内环槽和光纤外环槽所组成，所述光纤内环槽位于所述屏蔽罩安装槽的内侧，所述光纤外环槽位于所述屏蔽罩安装槽的外侧，所述光纤组包括第一水平光纤线和第二水平光纤线，所述第一水平光纤线设置在所述光纤内环槽上，所述第二水平光纤线设置在所述光纤外环槽上。在上述技术方案中，所述第一水平光纤线和第二水平光纤线，其中一条为发光光纤线，另一条为接收光纤线。在上述技术方案中，所述第一水平光纤线、第二水平光纤线通过镶入的方式固定在所述光纤内环槽和光纤外环槽内。在上述技术方案中，所述第一水平光纤线和第二水平光纤线的伸出端向下弯折。在上述技术方案中，所述治具的正面形状为正方形。与现有技术相比，本技术的有益效果在于：本技术在原有的基础上进行了改进，其采用了水平光纤线排布的方式，每条光纤线镶入治具上，内外围对应位置两条光纤为一组，同组光纤上，一条为发光，另一条为接收，折弯边沿的高度变化即可转化为放大器的数值变化，通过检测光纤数值的变化即可检测屏蔽罩折弯处平面度的变化。此方式，光纤的上下高度固定，靠治具的加工精度保证，无需调整，容易保证。同时所需要的光纤组数较少，成本低。附图说明图1为现有的屏蔽罩平面度检测机构的结构示意图；图2为现有的屏蔽罩平面度检测机构的安装效果图；图3为本技术实施例提供的一种屏蔽罩平面度检测机构的结构示意图；图4为本技术实施例提供的一种屏蔽罩平面度检测机构的安装效果图。具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，而不能以此来限制本技术的保护范围。如图3、图4所示，本技术提供的一种屏蔽罩平面度检测机构，包括底座1、支架2、治具3及若干个光纤组4，所述支架2设置在所述底座1上，所述治具3的正面形状为正方形，其设置在所述支架2上，所述治具3上设有屏蔽罩安装槽5，所述若干个光纤组4围绕着所述屏蔽罩安装槽5分布，检测时，将屏蔽罩放置在所述屏蔽罩安装槽5上。本技术在现有的屏蔽罩平面度检测机构上进行了改进，改进后的屏蔽罩平面度检测机构采用了水平光纤线排布的方式，具体地，在所述治具3上设有若干条沿着该治具3的径向方向间隔设置的光纤安装槽6，其中，所述光纤安装槽6是由光纤内环槽61和光纤外环槽62所组成，所述光纤内环槽61位于所述屏蔽罩安装槽5的内侧，所述光纤外环槽62位于所述屏蔽罩安装槽5的外侧，所述光纤组4包括第一水平光纤线41和第二水平光纤线42两条光纤线，所述第一水平光纤线41镶入所述光纤内环槽61上，所述第二水平光纤线42镶入所述光纤外环槽62上，所述第一水平光纤线41和第二水平光纤线42的伸出端向下弯折。通过将内外围对应位置两条光纤为一组，同组光纤中，一条为发光，另一条为接收。因此，所述第一水平光纤线41可作为发光或接收，所述第二水平光纤线42可作为接收或发光，当所述第一水平光纤线41作为发光光纤线时，所述第二水平光纤线42则为接收光纤线；当所述第二水平光纤线42作为接收光纤线时，所述第一水平光纤41线则为发光光纤线。通过该方式，折弯边沿的高度变化即可转化为放大器的数值变化，通过检测光纤数值的变化即可检测屏蔽罩折弯处平面度的变化。此方式，光纤的上下高度固定，靠治具的加工精度保证，无需调整，容易保证。同时所需要的光纤组数较少，成本低。综上所述，本技术提供的一种屏蔽罩平面度检测机构结构简单，其检测精度靠工件的精度保证，容易实现，并且，通过采用水平光纤线排布的方式，检测所需要的光纤组较少，大大降低了生产成本。以上所述仅是本技术优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种屏蔽罩平面度检测机构，包括底座、支架、治具及若干个光纤组，所述支架设置在所述底座上，所述治具设置在所述支架上，所述治具上设有屏蔽罩安装槽，所述若干个光纤组围绕着所述屏蔽罩安装槽分布，其特征在于：所述治具上设有若干条沿着该治具的径向方向间隔设置的光纤安装槽，所述光纤安装槽是由光纤内环槽和光纤外环槽所组成，所述光纤内环槽位于所述屏蔽罩安装槽的内侧，所述光纤外环槽位于所述屏蔽罩安装槽的外侧，所述光纤组包括第一水平光纤线和第二水平光纤线，所述第一水平光纤线设置在所述光纤内环槽上，所述第二水平光纤线设置在所述光纤外环槽上。

【技术特征摘要】
1.一种屏蔽罩平面度检测机构，包括底座、支架、治具及若干个光纤组，所述支架设置在所述底座上，所述治具设置在所述支架上，所述治具上设有屏蔽罩安装槽，所述若干个光纤组围绕着所述屏蔽罩安装槽分布，其特征在于：所述治具上设有若干条沿着该治具的径向方向间隔设置的光纤安装槽，所述光纤安装槽是由光纤内环槽和光纤外环槽所组成，所述光纤内环槽位于所述屏蔽罩安装槽的内侧，所述光纤外环槽位于所述屏蔽罩安装槽的外侧，所述光纤组包括第一水平光纤线和第二水平光纤线，所述第一水平光纤线设置在所述光纤内环槽上，所述第二水平光纤线设置在...

【专利技术属性】
技术研发人员：万园，钟波，
申请(专利权)人：深圳市铭恒达精密五金有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44