The invention discloses a method and a device for accurate detection of the projection of the object plane, when the parallel light exposure to the object through the transparent conductive layer, the light through the transparent conductive layer to the light resistance layer, photosensitive resistance layer after the light resistance decreases sharply, the light at the transparent conductive layer and the conductive layer is conducted, the level the transparent conductive layer on the corresponding spot position is the level of the corresponding spot position corresponding conductive layer. In order to control the conductive layer the electrode level, one electrode is set level, the other electrode as the reset level, the level of each spot transparent conductive layer location of the collection, judgment, data storage. The processor processes the information of the contour, the structure, the size and the area of the object according to the position of the stored light spot, and sends the information to the host computer. The invention has the advantages of simple structure and simple structure, easy maintenance, low cost, large area and the like, and can be used in various fields such as quality inspection, process monitoring, mechanical production automation, research and development, etc..
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像检测装置
,特别是涉及一种精确检测物体平面投影的装置和方法。
技术介绍
物体的图像检测装置广泛应用于质量检验、流程监控、机械生产自动化以及研发等各个领域,如进行皮革及纸张等尺寸、面积及形状的测量,产品孔洞、缺陷的监测,以及产品轮廓的获取等。本专利技术提出一种精确检测物体平面投影的装置和方法,对自动化生产、质量监控、计算机辅助设计等众多领域有着重要意义。目前的物体图像测量一般通过CCD工业相机获取物体图像,再经由计算机图像处理得到其投影信息。但此类装置结构较复杂,可测量面积有限,难以进行等比例测量以得到精确的信息,且成本较高,所采用的方法和原理较复杂,容易出故障,对应用产生不便。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,提供一种精确检测物体平面投影的装置和方法,该装置结构简单,成本低廉,能够精确检测出物体的轮廓、结构、尺寸、面积、位置等信息。为了达到上述目的,本专利技术采用的技术方案是:一种精确检测物体平面投影的装置,包括光源、透明导电层、光敏电阻层、薄膜二极管层、导电层、复用电路、扫描电路、处理器和电源;所述的透明导电层、光敏电阻层、薄膜二极管层、导电层依次层叠设置;所述的透明导电层由均匀排列的条形透明电极组成,导电层由均匀排列的条形电极组成,且透明导电层的条形透明电极和导电层的条形电极的排列方向相互垂直;所述的光敏电阻层由光敏电阻阵列组成,薄膜二极管层由薄膜二极管阵列组成,对应的光敏电阻阵列和薄膜二极管阵列上下重叠组成阵列单元,且每个阵列单元位置均位于一组条形透明电极及条形电极的交点对应的位置;所述的复用电 ...
【技术保护点】
一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,包括光源(1)、透明导电层(2)、光敏电阻层(3)、薄膜二极管层(4)、导电层(5)、复用电路(6)、扫描电路(7)、处理器(8)和电源(9);所述的透明导电层(2)、光敏电阻层(3)、薄膜二极管层(4)、导电层(5)依次层叠设置;所述的透明导电层(2)由均匀排列的条形透明电极组成,导电层(5)由均匀排列的条形电极组成,且透明导电层(2)的条形透明电极和导电层(5)的条形电极的排列方向相互垂直;所述的光敏电阻层(3)由光敏电阻阵列组成,薄膜二极管层(4)由薄膜二极管阵列组成,对应的光敏电阻阵列和薄膜二极管阵列上下重叠组成阵列单元,且每个阵列单元均位于一组条形透明电极及条形电极的交点对应的位置;所述的复用电路(6)连接透明导电层(2)的各个条形透明电极,用于对条形透明电极的电平进行复位和读取;所述的扫描电路(7)连接导电层(5)各个条形电极,用于驱动各个条形电极;所述的处理器(8)分别连接并控制复用电路(6)及扫描电路(7);所述的电源(9)与复用电路(6)、扫描电路(7)及处理器(8)连接并提供电能;所述的光源(1)与透明导电层(2)相对设置 ...
【技术特征摘要】
1.一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,包括光源(1)、透明导电层(2)、光敏电阻层(3)、薄膜二极管层(4)、导电层(5)、复用电路(6)、扫描电路(7)、处理器(8)和电源(9);所述的透明导电层(2)、光敏电阻层(3)、薄膜二极管层(4)、导电层(5)依次层叠设置;所述的透明导电层(2)由均匀排列的条形透明电极组成,导电层(5)由均匀排列的条形电极组成,且透明导电层(2)的条形透明电极和导电层(5)的条形电极的排列方向相互垂直;所述的光敏电阻层(3)由光敏电阻阵列组成,薄膜二极管层(4)由薄膜二极管阵列组成,对应的光敏电阻阵列和薄膜二极管阵列上下重叠组成阵列单元,且每个阵列单元均位于一组条形透明电极及条形电极的交点对应的位置;所述的复用电路(6)连接透明导电层(2)的各个条形透明电极,用于对条形透明电极的电平进行复位和读取;所述的扫描电路(7)连接导电层(5)各个条形电极,用于驱动各个条形电极;所述的处理器(8)分别连接并控制复用电路(6)及扫描电路(7);所述的电源(9)与复用电路(6)、扫描电路(7)及处理器(8)连接并提供电能;所述的光源(1)与透明导电层(2)相对设置,被测物体设置在光源(1)与透明导电层(2)之间。2.根据权利要求1所述的一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,所述的光源(1)发出的光为平行的可见光、平行的紫外光或红外光。3.根据权利要求1所述的一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,所述的透明导电层(2)由透明且导电的材料制成。4.根据权利要求1所述的一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,所述的光敏电阻层(3)由化合物半导体或元素半导体类光敏电阻材料制成。5.根据权利要求1所述的一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,所述的导电层(5)由导电材料制成。6.根据权利要求1所述的一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,所述的薄膜二极管层(4)单向导通,其正极连接导电层(5)的条形电极,负极连接光敏电阻层(3)的光敏电阻。7.根据权利要求1所述的一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,所述的复用电路(6)包括数字接口、电平转换电路和电平保持电路;数字接口与处理器(8)连接,同时数字接口连接多个并联设置的电平转换电路,每个电平转换电路连接一个电平保持电路;每个电平保持电路连接透明导电层(2)的一个条形透明电极,用于对条形透明电极电平的复位和读取。8.根据权利要求1所述的一种精确检测物体平面投影的装置,其特征在于,所述的处理器(8)为微控制器、微处理器、DSP、CPLD或FP...
【专利技术属性】
技术研发人员:宁舒雅,王江南,孙立蓉,张方辉,李亭亭,聂屈洋,
申请(专利权)人:陕西科技大学,
类型:发明
国别省市:陕西;61
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