斜向几何公差测量仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种斜向几何公差测量仪，该测量仪包括底座（1）、三爪卡盘（13）、导轨（15）、顶针（16）、旋转导轨（29）、立柱（52）和测量台（41），底座（1）上安装导轨（15）和旋转导轨（29），导轨（15）的两端分别安装三爪卡盘（13）和顶针（16），旋转导轨（29）上安装立柱（52）和旋转底盘（30），立柱（52）上安装测量台（41），测量台（41）上安装一号测量杆（68）和二号测量杆 （59），一号测量头（67）的小端垂直套在一号测量杆（68）一端的孔中，二号测量头（62）安装在二号测量杆（59）上成90度，整体构成斜向几何公差测量仪。本实用新型专利技术结构简单可靠，操作容易，旋转的导轨带动测量头沿直线或斜线运动，适应大部分斜向几何公差特征项目的测量。

Oblique geometric tolerance measuring instrument

\u672c\u5b9e\u7528\u65b0\u578b\u516c\u5f00\u4e86\u4e00\u79cd\u659c\u5411\u51e0\u4f55\u516c\u5dee\u6d4b\u91cf\u4eea\uff0c\u8be5\u6d4b\u91cf\u4eea\u5305\u62ec\u5e95\u5ea7\uff081\uff09\u3001\u4e09\u722a\u5361\u76d8\uff0813\uff09\u3001\u5bfc\u8f68\uff0815\uff09\u3001\u9876\u9488\uff0816\uff09\u3001\u65cb\u8f6c\u5bfc\u8f68\uff0829\uff09\u3001\u7acb\u67f1\uff0852\uff09\u548c\u6d4b\u91cf\u53f0\uff0841\uff09\uff0c\u5e95\u5ea7\uff081\uff09\u4e0a\u5b89\u88c5\u5bfc\u8f68\uff0815\uff09\u548c\u65cb\u8f6c\u5bfc\u8f68\uff0829\uff09\uff0c\u5bfc\u8f68\uff0815\uff09\u7684\u4e24\u7aef\u5206\u522b\u5b89\u88c5\u4e09\u722a\u5361\u76d8\uff0813\uff09\u548c\u9876\u9488\uff0816\uff09\uff0c\u65cb\u8f6c\u5bfc\u8f68\uff0829\uff09\u4e0a\u5b89\u88c5\u7acb\u67f1\uff0852\uff09\u548c\u65cb\u8f6c\u5e95\u76d8\uff0830\uff09\uff0c\u7acb\u67f1\uff0852\uff09\u4e0a\u5b89\u88c5\u6d4b\u91cf\u53f0\uff0841\uff09\uff0c\u6d4b\u91cf\u53f0\uff0841\uff09\u4e0a\u5b89\u88c5\u4e00\u53f7\u6d4b\u91cf\u6746\uff0868\uff09\u548c\u4e8c\u53f7\u6d4b\u91cf\u6746\u00a0\uff0859\uff09\uff0c\u4e00\u53f7\u6d4b\u91cf\u5934\uff0867\uff09\u7684\u5c0f\u7aef\u5782\u76f4\u5957\u5728\u4e00\u53f7\u6d4b\u91cf\u6746\uff0868\uff09\u4e00\u7aef\u7684\u5b54\u4e2d\uff0c\u4e8c\u53f7\u6d4b\u91cf\u5934\uff0862\uff09\u5b89\u88c5\u5728\u4e8c\u53f7\u6d4b\u91cf\u6746\uff0859\uff09\u4e0a\u621090\u5ea6\uff0c\u6574\u4f53\u6784\u6210\u659c\u5411\u51e0\u4f55\u516c\u5dee\u6d4b\u91cf\u4eea\u3002 The utility model has the advantages of simple and reliable structure and easy operation, and the rotating guide rail drives the measuring head to move along a straight line or a diagonal line, and the utility model is suitable for the measurement of most oblique geometric tolerance characteristic items.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量仪，具体涉及一种斜向几何公差测量仪。
技术介绍
在机械零件几何公差测量中，经常会遇到斜向几何公差特征项目的测量，即被测几何要素相对于零件主体是斜的，或被测要素相对于基准要素倾斜一定的角度，如斜面、斜线、圆锥的发生线、倾斜度、斜向跳动等，测量时要调整零件位置或百分表轨迹以适应倾斜的要求，测量过程复杂、精度差、效率低，甚至测量过程无法实施。
技术实现思路
本技术的目的是：设计一种斜向几何公差测量仪，使用旋转的导轨带动测量头沿直线或斜线运动，适应大部分斜向几何公差特征项目的测量。本技术的技术解决方案是：该测量仪包括底座、三爪卡盘、导轨、顶针、旋转导轨、立柱和测量台，底座上安装导轨、旋转导轨和尾座，导轨上安装顶针，尾座上相对于顶针安装三爪卡盘，旋转底盘上安装旋转导轨，旋转导轨上安装立柱，立柱上安装测量台，测量台上安装一号测量杆和二号测量杆，一号测量头安装在一号测量杆上且一号测量头与一号测量杆同轴，二号测量头安装在二号测量杆上且二号测量头与二号测量杆轴线成90度角，整体构成斜向几何公差测量仪。其中，底板通过一号底板固定螺钉和二号底板固定螺钉与底座固定；尾座支撑架通过三号底板固定螺钉和四号底板固定螺钉与底板固联，尾座支撑架中部有沉头孔，沉头孔中的尾座固定螺钉实现尾座支撑架与尾座固联；尾座内孔依次安装二号轴承、隔套、一号轴承，尾座后盖通过一号尾座后盖锁紧螺钉和二号尾座后盖锁紧螺钉与尾座固定；轴由二号轴承与一号轴承支承旋转，轴小头轴径上开有环形槽，销伸入轴的环形槽中防止轴的轴向窜动，销通过螺纹与尾座后盖固定，轴大头端法兰通过一号后盖锁紧螺钉和二号后盖锁紧螺钉与三爪卡盘固联带动三爪卡盘与轴同轴旋转。其中，顶针安装在顶针套筒内中，顶针沿轴向调节并由顶针锁紧螺钉锁紧，顶针支架中部有沉头孔，沉头孔中的顶针套筒固定螺钉固联顶针支架与顶针套筒；顶针支架通过一号顶针支撑架锁紧螺钉和二号顶针支撑架锁紧螺钉与一号滑块固联，一号滑块通过一号链接螺钉和二号链接螺钉与滑块固定板固联，滑块固定板通过螺纹连接滑块锁紧螺钉，一号滑块在导轨上滑动，旋紧滑块锁紧螺钉顶住导轨，依靠摩擦使一号滑块固定在导轨上；导轨通过导轨左支撑架和导轨右支撑架支承固定，导轨左支撑架和导轨右支撑架与底座固定。其中，旋转底盘是带刻度盘的阶梯状圆盘，通过一号旋转底盘固定螺钉和二号旋转底盘固定螺钉与底座固联；旋转架套在旋转底盘上形成间隙较小的配合，旋转架与旋转底盘同轴，手工盘动旋转架，旋转架绕旋转底盘轴线旋转，旋转架顶部开有与旋转导轨半截面形状匹配的槽，旋转导轨卡在槽中并形成紧配合，使旋转导轨随旋转架一起绕旋转底盘轴线旋转，旋转底盘上带有刻度盘，旋转架上注有显著的标记线，标记线对准旋转底盘上刻度盘的“0”线时代表旋转导轨水平，标记线对应刻度盘不同角度刻线时表示旋转导轨相对于水平线转过的角度；旋转导轨通过旋转导轨左支撑架、旋转导轨右支撑架来固定和调节，旋转导轨左支撑架、旋转导轨右支撑架与底座固联。其中，导轨左支撑架、导轨右支撑架、旋转导轨左支撑架、旋转导轨右支撑架的结构、原理相同；以旋转导轨左支撑架为例说明，支撑架形状为长方体，中间开有略高于旋转导轨高度的开口通槽，旋转导轨在通槽内有自如转动的空间，旋转导轨转动位置确定后，旋紧旋转导轨左锁紧螺钉，使开口通槽收紧从而锁紧、固定旋转导轨一端，旋转导轨左支撑架通过一号左固定螺钉和二号左固定螺钉与底座固联。其中，立柱底部四个角通过一号立柱固定螺钉、二号立柱固定螺钉、三号立柱固定螺钉、四号立柱固定螺钉与二号滑块固联，二号滑块卡在旋转导轨上，二号滑块沿旋转导轨导轨面滑动；立柱截面是个六边形结构，长边对应的立面开有长方形凹槽，凹槽的两侧分别装有一号齿条和二号齿条，一号齿条和二号齿条同时与调节齿轮啮合。其中，调节轴沿轴向由内向外依次套有调节齿轮、锁紧活块、锁紧套筒、旋钮，调节齿轮通过一号键与调节轴连接，调节轴与锁紧活块、锁紧套筒有较大间隙，调节轴通过一号销、二号销与旋钮连接；锁紧套筒的大端通过螺纹装有手柄，锁紧套筒通过螺纹旋入测量台，锁紧套筒小端的端面顶住锁紧活块，锁紧活块是个带孔的长方体，锁紧活块顶在立柱上；旋转旋钮，齿轮齿条驱动测量台沿立柱上下移动，测量台移动至合适位置后转动手柄使锁紧套筒旋入顶住锁紧活块，锁紧活块顶住立柱，实现测量台与立柱的固定。其中，测量台是一个带有不同形状孔的一个长方体，测量台套在立柱上，通过齿轮齿条与锁紧活块让测量台沿立柱上下移动与锁紧，测量台两侧安装一号测量杆、二号测量杆；一号测量杆是个空心轴，一号测量杆安装在测量台的圆柱通孔内，一号测量杆的外表面加工有齿条，齿条与一号齿轮啮合，一号齿轮通过二号键与一号调节轴连接，一号调节轴通过三号销、四号销与一号旋钮连接，一号调节轴与测量台的孔形成间隙较小配合；凸轮通过三号键与一号锁紧轴连接，一号锁紧轴与测量台的孔形成间隙较小配合，一号锁紧轴大端通过螺纹安装一号手柄，环形锁紧圈是个开口环，其套在一号测量杆上；转动一号手柄，一号锁紧轴带动凸轮旋转，凸轮顶紧环形锁紧圈，开口的环形锁紧圈收紧抱住一号测量杆并锁紧一号测量杆。其中，一号测量头的大端是与一号测量杆同样直径的圆柱体，开有两个相连通的通孔，用来安装测量表表径，一号测量头的大端端面中部有开口槽，开口槽与一号测量头安装测量表表径的通孔相通，测量表穿入通孔后旋紧测量头表锁紧旋钮，通过螺纹收紧一号测量头的大端端面中部开口槽的两部分从而锁紧测量表；一号测量头的小端呈鸭嘴状两片，两片上下对称分布，鸭嘴开口与通孔连通；一号测量头的小端套在一号测量杆一端的孔中，通过一号测量头固定螺钉、二号测量头固定螺钉连接；一号微调螺钉通过螺纹与一号测量头联接，旋紧一号微调螺钉，一号测量头的小端鸭嘴开口发生微小变化，从而实现一号测量头的微调，最终实现测量头上安装的测量表触头与零件的有效接触；一号测量头安装测量表后是垂直位置，即测量表垂直安装测量高度偏移量。其中，二号测量杆与二号测量头的结构原理和测一号量杆与一号测量头的结构原理一样；还包括测量头连接套和测量头直角弯头，使二号测量头与二号测量杆成90度；二号测量头安装测量表后是水平位置，即测量表水平安装测量水平偏移量。本技术的优点是：结构简单可靠，操作容易，旋转的导轨带动测量头沿直线或斜线运动，适应大部分斜向几何公差特征项目的测量。附图说明图1为本技术的结构原理图。图2为图1的A-A剖面图。图3为图1的B-B剖面图。图4为图1的C-C剖面图。图5为图1的D-D剖面图。图6为图1的E-E剖面图。图7为图1的F-F剖面图。图8为图1的立柱装配图。图9为图3的环形锁紧圈工作原理示意图。图10为图8的立柱与二号滑块安装图。图11为图1的测量台局部放大图。图12为图1的二号测量头局部放大图。图中：1底座，2一号尾座后盖螺钉，3销，4轴，5二号尾座后盖螺钉，6尾座后盖，7尾座，8尾座支撑架，9一号后盖螺钉，10二号后盖螺钉，11一号轴承，12导轨左支撑架，13三爪卡盘，14隔套，15导轨，16顶针，17一号顶针支撑架锁紧螺钉，18一号滑块，19顶针套筒，20顶针锁紧螺钉，21二号顶针支撑架锁紧螺钉，22一号链接螺钉，23滑块固定板，24二号链接螺钉，25导轨右支撑架，26导轨右锁紧本文档来自技高网...

【技术保护点】
斜向几何公差测量仪，其特征是：该测量仪包括底座（1）、三爪卡盘（13）、导轨（15）、顶针（16）、旋转导轨（29）、立柱（52）和测量台（41），底座（1）上安装导轨（15）、旋转导轨（29）和尾座（7），导轨（15）上安装顶针（16），尾座（7）上相对于顶针（16）安装三爪卡盘（13），旋转底盘（30）上安装旋转导轨（29），旋转导轨（29）上安装立柱（52），立柱（52）上安装测量台（41），测量台（41）上安装一号测量杆（68）和二号测量杆（59），一号测量头（67）安装在一号测量杆（68）上且一号测量头与一号测量杆同轴，二号测量头（62）安装在二号测量杆（59）上且二号测量头与二号测量杆轴线成90度角，整体构成斜向几何公差测量仪。

【技术特征摘要】
1.斜向几何公差测量仪，其特征是：该测量仪包括底座（1）、三爪卡盘（13）、导轨（15）、顶针（16）、旋转导轨（29）、立柱（52）和测量台（41），底座（1）上安装导轨（15）、旋转导轨（29）和尾座（7），导轨（15）上安装顶针（16），尾座（7）上相对于顶针（16）安装三爪卡盘（13），旋转底盘（30）上安装旋转导轨（29），旋转导轨（29）上安装立柱（52），立柱（52）上安装测量台（41），测量台（41）上安装一号测量杆（68）和二号测量杆（59），一号测量头（67）安装在一号测量杆（68）上且一号测量头与一号测量杆同轴，二号测量头（62）安装在二号测量杆（59）上且二号测量头与二号测量杆轴线成90度角，整体构成斜向几何公差测量仪。2.根据权利要求1所述的斜向几何公差测量仪，其特征是：底板（72）通过一号底板固定螺钉（73）和二号底板固定螺钉（74）与底座（1）固定；尾座支撑架（8）通过三号底板固定螺钉（98）和四号底板固定螺钉（99）与底板（72）固联，尾座支撑架（8）中部有沉头孔，沉头孔中的尾座固定螺钉（75）实现尾座支撑架（8）与尾座（7）固联；尾座（7）内孔依次安装二号轴承（78）、隔套（14）、一号轴承（11），尾座后盖（6）通过一号尾座后盖锁紧螺钉（76）和二号尾座后盖锁紧螺钉（77）与尾座（7）固定；轴（4）由二号轴承（78）与一号轴承（11）支承旋转，轴（4）小头轴径上开环形槽，销（3）伸入轴（4）的环形槽中防止轴（4）的轴向窜动，销（3）通过螺纹与尾座后盖（6）固定，轴（4）大头端法兰通过一号后盖锁紧螺钉（79）和二号后盖锁紧螺钉（80）与三爪卡盘（13）固联，带动三爪卡盘（13）与轴（4）同轴旋转。3.根据权利要求1所述的斜向几何公差测量仪，其特征是：顶针（16）安装在顶针套筒（19）内中，顶针（16）沿轴向调节并由顶针锁紧螺钉（20）锁紧，顶针支架（70）中部有沉头孔，沉头孔中的顶针套筒固定螺钉（81）固联顶针支架（70）与顶针套筒（19）；顶针支架（70）通过一号顶针支撑架锁紧螺钉（17）和二号顶针支撑架锁紧螺钉（21）与一号滑块（18）固联，一号滑块（18）通过一号链接螺钉（22）和二号链接螺钉（24）与滑块固定板（23）固联，滑块固定板（23）通过螺纹连接滑块锁紧螺钉（71），一号滑块（18）在导轨（15）上滑动，旋紧滑块锁紧螺钉（71）顶住导轨（15），依靠摩擦使一号滑块（18）固定在导轨（15）上；导轨（15）通过导轨左支撑架（12）和导轨右支撑架（25）支承固定，导轨左支撑架（12）和导轨右支撑架（25）与底座（1）固定。4.根据权利要求1所述的斜向几何公差测量仪，其特征是：旋转底盘（30）是带刻度盘的阶梯状圆盘，通过一号旋转底盘固定螺钉（84）和二号旋转底盘固定螺钉（87）与底座（1）固联；旋转架（31）套在旋转底盘（30）上形成间隙较小的配合，旋转架（31）与旋转底盘（30）同轴，手工盘动旋转架（31），旋转架（31）绕旋转底盘（30）轴线旋转，旋转架（31）顶部开有与旋转导轨（29）半截面形状匹配的槽，旋转导轨（29）卡在槽中并形成紧配合，使旋转导轨（29）随旋转架（31）一起绕旋转底盘（30）轴线旋转，旋转底盘（30）上带有刻度盘，旋转架（31）上注有显著的标记线，标记线对准旋转底盘（30）上刻度盘的“0”线时代表旋转导轨（29）水平，标记线对应刻度盘不同角度刻线时表示旋转导轨（29）相对于水平线转过的角度；旋转导轨（29）通过旋转导轨左支撑架（45）、旋转导轨右支撑架（27）来固定和调节，旋转导轨左支撑架（45）、旋转导轨右支撑架（27）与底座（1）固联。5.根据权利要求4所述的斜向几何公差测量仪，其特征是：导轨左支撑架（12）、导轨右支撑架（25）、旋转导轨左支撑架（45）、旋转导轨右支撑架（27）的结构、原理相同；以旋转导轨左支撑架（45）为例说明，支撑架形状为长方体，中间开有略高于旋转导轨（29）高度的开口通槽，旋转导轨（29）在通槽内有自如转动的空间，旋转导轨（29）转动位置确定后，旋紧旋转导轨左锁紧螺钉（44），使开口通槽收紧从而锁紧、固定旋转导轨（29）一端，旋转导轨左支撑架（45）通过一号左...

【专利技术属性】
技术研发人员：李伯奎，陈建兵，许兆美，曲建华，王玲，蒋素琴，王顺军，冯清付，畅皓皓，
申请(专利权)人：淮阴工学院，
类型：新型
国别省市：江苏;32