SMI接口器件的调试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种SMI接口器件的调试装置及方法，所述装置包括：PC接口、处理器、以及SMI线缆接口；所述处理器，用于接收通过所述PC接口接入本调试装置的上位机发送的指令，将所述指令转换为SMI格式数据，并将所述SMI格式数据通过模拟的SMI接口发送至通过所述SMI线缆接口连接至本调试装置的被调试SMI接口器件；以及通过模拟的SMI接口接收所述被调试SMI接口器件执行所述指令后反馈的信息，解析该信息，提取出有用信息后将其发送至所述上位机。本发明专利技术实现了在没有进行CPU控制程序编写或所编写的程序有问题时，可以方便的对SMI接口器件进行调试，提高了硬件的研发效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种SMI接口器件的调试装置及方法。
技术介绍
随着网络技术的发展及产品IT化演进，在目前的BBU(基带处理单元)及其他的产品中会应用大量的SMI(SerialManagementInterface，串行管理接口)接口的器件，如PHY、交换芯片等，通过这些器件实现设备与以太网、光纤网络的高速通信，这些器件均需要进行配置及调试，来确保其正确稳定的工作。目前的调试方式是通过在电路板内与SMI接口的器件连接的CPU来进行控制，需要编写CPU的软件程序来进行处理。这样在调试很多的SMI接口的器件时会因处理CPU及SMI接口器件的寄存器差异而导致编写软件比较复杂，同时也会增加周期，如果调试过程中出现问题还需要修改程序去定位故障点，这会降低开发效率。在中国专利《SMI接口管理方法及可编程逻辑器件》，申请号：CN201310181278，申请日期：2013.05.15中描述了一种可编程逻辑器件PLD，包括：SMI接口寄存器、以及与其相连的SMI接口收发器和译码器；SMI接口寄存器与处理器CPU通过总线相连；SMI接口收发器的SMI接口通过译码器扩展出与被管理的从SMI接口器件数量相同的主SMI接口；每个扩展出的主SMI接口使用PLD的2个I/O管脚，每个主SMI接口与一个从SMI接口器件相连；不同电平应用的主SMI接口位于PLD的输入输出端口I/O组不同的逻辑区域BANK中，每个BANK的I/O管脚设置成与该BANK内主SMI接口的电平相同的电平模式。这种方法适用于单板内设计时使用，用来进行板内的多片SMI接口器件管理，但实际应用中一般不会额外增加逻辑器件PLD来进行转接，而是直接将SMI接口做电平匹配后挂在CPU的SMI接口总线上，并且该专利所述的方案不能避免调试中的复杂的程序开发及周期，不能快速定位故障，在实际的研发效率上没有明显提升。可见，现有的SMI接口器件的调试方式受限于CPU调试程序的开发，不仅影响SMI接口器件研发效率，而且在该调试方式还不能快速定位SMI接口器件的故障。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种解决上述问题的SMI接口器件的调试装置及方法，用以提高硬件研发的效率。依据本专利技术的一个方面，提供一种SMI接口器件的调试装置，包括：PC接口、处理器、以及SMI线缆接口；所述处理器，用于接收通过所述PC接口接入本调试装置的上位机发送的指令，将所述指令转换为SMI格式数据，并将所述SMI格式数据通过模拟的SMI接口发送至通过所述SMI线缆接口连接至本调试装置的被调试SMI接口器件；以及通过模拟的SMI接口接收所述被调试SMI接口器件执行所述指令后反馈的信息，解析该信息，提取出有用信息后将其发送至所述上位机。可选地，本专利技术所述的调试装置中，当与所述上位机对接的PC接口与所述处理器支持的接口不相同时，在所述PC接口与处理器之间布设接口转换芯片，用以实现处理器所支持接口到PC接口以及PC接口到处理器所支持接口的转换。可选地，本专利技术所述的调试装置还包括：电平匹配模块，布设在所述处理器与所述SMI线缆接口之间，用于在被调试SMI接口器件通过所述SMI线缆接口接入本调试装置时，检测所述被调试SMI接口器件的接口电平，并对所述处理器与所述被调试SMI接口器件之间交互的信号进行电平转换。可选地，本专利技术所述的调试装置中，所述电平匹配模块，具体包括：电平检测单元和电平转换单元；所述电平检测单元，用于在被调试SMI接口器件通过所述SMI线缆接口接入本调试装置时，对所述被调试SMI接口器件的接口电平进行检测，并将检测结果上报至所述处理器；所述电平转换单元，包括：模拟开关和若干分压电阻网络；各所述分压电阻网络，将所述处理器支持的电平进行分压得到不同SMI接口器件所需的电平；所述模拟开关，用于基于所述处理器的控制，选通与所述被调试SMI接口器件的接口电平相对应的分压电阻网络，以进行信号的电平转换及传输。可选地，本专利技术所述的调试装置中，所述处理器通过将其使用的通信接口一路模拟为时钟信号接口、一路模拟为数据接口的方式，实现对SMI接口的模拟。可选地，本专利技术所述的调试装置中，所述上位机发送的指令的类型包括：读寄存器指令和写寄存器指令；当所述指令为读寄存器指令时，指令中包含寄存器的地址信息；当所述指令为写寄存器指令时，指令中包含写入寄存器的数据和寄存器的地址信息。依据本专利技术的另一个方面，提供一种SMI接口器件的调试方法，包括：调试时，处理器将PC接口侧传入的上位机的指令转换为SMI格式数据；处理器将所述SMI格式数据通过模拟的SMI接口发送至SMI线缆接口，以通过所述SMI线缆接口将所述SMI格式数据发送至被调试SMI接口器件；处理器接收所述SMI线缆接口侧传入的所述被调试SMI接口器件执行所述指令后反馈的信息；处理器解析接收到的信息，提取出有用信息后通过所述PC接口发送至所述上位机。可选地，本专利技术所述方法中，调试前，所述方法还包括：当被调试SMI接口器件通过所述SMI线缆接口接入调试装置时，检测所述被调试SMI接口器件的接口电平，根据所述被调试SMI接口器件的接口电平，选择电平转换支路，以使所述电平转换支路在调试过程中对所述处理器与所述被调试SMI接口器件之间交互的信号进行电平转换。可选地，本专利技术所述方法中，所述模拟SMI接口为所述处理器通过将其使用的通信接口一路模拟为时钟信号接口、一路模拟为数据接口实现的。可选地，本专利技术所述方法中，所述上位机的指令类型包括：读寄存器指令和写寄存器指令；当所述指令为读寄存器指令时，指令中包含寄存器的地址信息；当所述指令为写寄存器指令时，指令中包含写入寄存器的数据和寄存器的地址信息。本专利技术有益效果如下：采用本专利技术所述的装置及方法，可以通过上位机的指令直接对SMI接口器件进行调试(如寄存器的读写操作)，实现了在没有进行CPU控制程序编写或所编写的程序有问题时，可以方便的进行调试，且这种调试方式有助于快速定位故障，明显的提高了硬件的研发效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例一提供的一种SMI接口器件的调试装置的结构框图；图2为本专利技术实施例二提供的一种SMI接口器件的调试装置的结构框图；图3为本专利技术实施例二中电平匹配模块的电路示意图；图4为本专利技术实施例二所述调试装置的调试流程图；图5为本专利技术实施例三提供的一种SMI接口器件的调试方法的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例一本专利技术实施例提供一种SMI接口器件的调试装置，如图1所示，所述装置包括：PC接口、处理器、以及SMI线缆接口；其中：PC接口，用于接入上位机；SMI线缆接口用于接入本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种SMI接口器件的调试装置，其特征在于，包括：PC接口、处理器、以及SMI线缆接口；所述处理器，用于接收通过所述PC接口接入本调试装置的上位机发送的指令，将所述指令转换为SMI格式数据，并将所述SMI格式数据通过模拟的SMI接口发送至通过所述SMI线缆接口连接至本调试装置的被调试SMI接口器件；以及通过模拟的SMI接口接收所述被调试SMI接口器件执行所述指令后反馈的信息，解析该信息，提取出有用信息后将其发送至所述上位机。

【技术特征摘要】
1.一种SMI接口器件的调试装置，其特征在于，包括：PC接口、处理器、以及SMI线缆接口；所述处理器，用于接收通过所述PC接口接入本调试装置的上位机发送的指令，将所述指令转换为SMI格式数据，并将所述SMI格式数据通过模拟的SMI接口发送至通过所述SMI线缆接口连接至本调试装置的被调试SMI接口器件；以及通过模拟的SMI接口接收所述被调试SMI接口器件执行所述指令后反馈的信息，解析该信息，提取出有用信息后将其发送至所述上位机。2.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，当与所述上位机对接的PC接口与所述处理器支持的接口不相同时，在所述PC接口与处理器之间布设接口转换芯片，用以实现处理器所支持接口到PC接口以及PC接口到处理器所支持接口的转换。3.如权利要求1所述的调试装置，其特征在于，所述调试装置还包括：电平匹配模块，布设在所述处理器与所述SMI线缆接口之间，用于在被调试SMI接口器件通过所述SMI线缆接口接入本调试装置时，检测所述被调试SMI接口器件的接口电平，并对所述处理器与所述被调试SMI接口器件之间交互的信号进行电平转换。4.如权利要求3所述的调试装置，其特征在于，所述电平匹配模块，具体包括：电平检测单元和电平转换单元；所述电平检测单元，用于在被调试SMI接口器件通过所述SMI线缆接口接入本调试装置时，对所述被调试SMI接口器件的接口电平进行检测，并将检测结果上报至所述处理器；所述电平转换单元，包括：模拟开关和若干分压电阻网络；各所述分压电阻网络，将所述处理器支持的电平进行分压得到不同SMI接口器件所需的电平；所述模拟开关，用于基于所述处理器的控制，选通与所述被调试SMI接口
\t器件的接口电平相对应的分压电阻网络，以进行信号的电平转换及传输。5.如权利要求1或2或3或4所述的调试装...

【专利技术属性】
技术研发人员：付玉堂，段向阳，封葳，庞辉，王雪松，王文静，黄翔，黄瑞华，王玺，曾凯平，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44