一种插回损测试仪制造技术

技术编号:15172754 阅读:91 留言:0更新日期:2017-04-15 21:29
本实用新型专利技术公开了一种插回损测试仪,包括壳体,壳体上设有面板,所述壳体下方设有支架,支架下部铰接有折叠板;面板包括触点开关、第一显示屏、第二显示屏、输出接头和输入接头,触点开关与投切电路相连接,驱动电路与激光器相连接,激光器与MCU控制器相连接;MCU控制器与第一显示屏、第二显示屏、闪关灯相连接;输入接头、输出接头与光分路器相连接,光分路器与模数转换电路相连接,模数转换电路与放大电路相连接,放大电路与第一光功率计、第二光功率计相连接,第一光功率计与时钟模块相连接,第二光功率计、时钟模块与MCU控制器相连接。本实用新型专利技术指标稳定、可靠,操作简单,对大动态范围和微弱信号精确检测分析处理,明显减少了操作步骤。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及插回损检测的
,具体涉及一种插回损测试仪。
技术介绍
随着社会的进步,通信技术获得很大的发展,FTTH(光纤到户)已成为光纤接入网发展的一种最终形式。光纤通信具有信号稳定、损耗小、传输距离长、容量高等多方面优点,已在各国现代通信网络建设中广泛采用备。光纤活动连接器和光纤一样,属于光纤通信网络中最基本的组成部分,在光纤通信网络中具有巨大的需求量。国家的相关主管部门针对光纤活动连接器也制定了多项行业标准,对其性能指标作出了具体的规定。行业标准规定,光纤活动连接器出厂前的光学性能检验项目为插入损耗和回波损耗。传统上对光纤活动连接器等元器件技术参数的测试,主要使用单一功能的插损测试仪、回损测试仪及偏振控制器来完成。光纤连接器生产厂家出厂检验主要是利用插损回损测试仪来检测光纤连接器的性能指标。目前市场上的插损回损测试仪在测试光纤连接器回损的时候,需要对光纤进行缠绕,以消除光纤连接器后端端面的光反射影响,由此测试过程中容易对光纤造成损伤,而且测试时每次只能测试一个波长的数据,测试效率也比较低下。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种插回损测试仪,能避免对光线造成的损伤,同时可实现多个波长调节,实现全自动光插损回损的测试。本技术的技术方案是:一种插回损测试仪,包括壳体,壳体上设有面板,所述壳体下方设有支架,支架下部铰接有折叠板;所述面板包括触点开关、第一显示屏、第二显示屏、输出接头和输入接头,触点开关与投切电路相连接,驱动电路与激光器相连接,激光器与MCU控制器相连接;所述MCU控制器与第一显示屏、第二显示屏、闪关灯相连接;所述输入接头、输出接头与光分路器相连接,光分路器与模数转换电路相连接,模数转换电路与放大电路相连接,放大电路与第一光功率计、第二光功率计相连接,第一光功率计与时钟模块相连接,第二光功率计、时钟模块与MCU控制器相连接。所述闪关灯设置在面板上。所述面板上设有第一堵头和第二堵头,第一堵头与输入接头相匹配,第一堵头通过拉线设置在输入接头的下方,第二堵头与输出接头相匹配,第二堵头通过拉线设置在输出接头的下方。所述面板左下方设有总开关按钮。本技术通过驱动电路调节激光器的输出波长,实现插损和回损的自动次梁,双屏显示减轻视觉疲劳;利用闪光灯指示检测的过程,减少劳动强度,指标稳定、可靠,操作简单,超强电路设计,对大动态范围和微弱信号精确检测分析处理,明显减少了操作步骤。附图说明图1为本技术的结构示意图。图2为本技术的原理框图。其中,1为壳体,2为面板,201为触点开关,202为第二显示屏,203为第一显示屏,204为输入接头,205为输出接头,206为第一堵头,207为第二堵头,208总开关按钮,3为支架,4为折叠板,5为闪关灯,6为MCU控制器,7为激光器,8为光分路器,9为模数转换器,10为放大电路,11为第二光功率计,12为第一光功率计,13为时钟模块,14为驱动电路。具体实施方式下面通过结合附图说明一下本技术的具体实施方式。如图1和图2所示,一种插回损测试仪,包括壳体1,壳体1上设有面板2,面板2位于壳体1的一侧,用于操作输入和查看输出状态。壳体1下方设有支架3,支架3下部铰接有折叠板4,折叠板4可以增加支架3的高度,从而将面板2支起一定的高度,方便查看和操作面板2。面板2包括触点开关201、第一显示屏203、第二显示屏202、输出接头205和输入接头204,触点开关201与驱动电路14相连接,驱动电路14与激光器7相连接,激光器7与MCU控制器6相连接。通过调节触点开关201,驱动电路14选择不同的模式,从而MCU控制器6调节激光器7发出不同波长的光源。MCU控制器6与第一显示屏203、第二显示屏202、闪关灯5相连接,第一显示屏203用于插损测量的显示,第二显示屏202用于显示回损测量的显示。输入接头204、输出接头205与光分路器8相连接,光分路器8与模数转换电路9相连接,模数转换电路9与放大电路10相连接,放大电路10与第一光功率计12、第二光功率计11相连接,第一光功率计12与时钟模块13相连接,第二光功率计11、时钟模块13与MCU控制器6相连接。第一光功率计12用于测量回损的光功率,第二光功率计11用于测量插损的光功率。第一光功率计12与时钟模块13同步,通过光分路器将不同断面的反射值区分开来,同时实现功率计算与激光器7发出波长的联动。闪关灯5设置在面板2上,闪光灯可以发出黄色、绿色和红的光。MCU控制器6与存储器相连接,存储器用于存储正常的回损或插损的阈值范围。在检测过程中闪光灯5发出黄色的光,等稳定后如果合格闪光灯5发出绿色的光,如果不合格闪光灯5发出红色的光。输入接头204为可拆卸便捷清洁的接头。输入接头204和输出接头205内与光纤连接的端面处设有小孔,与光纤等可实现近距离通信,同时减少了输入接头204和输出接头205的磨损。面板2上设有第一堵头206和第二堵头207,第一堵头206与输入接头204相匹配,第一堵头206通过拉线设置在输入接头204的下方,第二堵头207与输出接头205相匹配,第二堵头207通过拉线设置在输出接头205的下方。第一堵头206用于不工作时保护输入接头204不受污染,第二堵头207用于不工作时保护输出接头205不受污染。面板2左下方设有总开关按钮208,总开关按钮208一端与电源相连接,一端与MCU控制器6相连接,实现整个设备工作的开启和关闭。本技术集合多年的光纤无源器件和光通信检测仪表的生产和测试经验,充分借鉴了国内外仪表的优点和国内客户的需求,精潜心研制开发出来的一款精密光检测仪表;可广泛应用于光纤光缆、和光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试,是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护的基本和理想的测试仪器。以上所述,仅为本技术较佳的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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一种插回损测试仪

【技术保护点】
一种插回损测试仪,包括壳体(1),壳体(1)上设有面板(2),其特征在于:所述壳体(1)下方设有支架(3),支架(3)下部铰接有折叠板(4);所述面板(2)包括触点开关(201)、第一显示屏(203)、第二显示屏(202)、输出接头(205)和输入接头(204),触点开关(201)与投切电路(14)相连接,驱动电路(14)与激光器(7)相连接,激光器(7)与MCU控制器(6)相连接;所述MCU控制器(6)与第一显示屏(203)、第二显示屏(202)、闪关灯(5)相连接;所述输入接头(204)、输出接头(205)与光分路器(8)相连接,光分路器(8)与模数转换电路(9)相连接,模数转换电路(9)与放大电路(10)相连接,放大电路(10)与第一光功率计(12)、第二光功率计(11)相连接,第一光功率计(12)与时钟模块(13)相连接,第二光功率计(11)、时钟模块(13)与MCU控制器(6)相连接。

【技术特征摘要】
1.一种插回损测试仪,包括壳体(1),壳体(1)上设有面板(2),其特征在于:所述壳体(1)下方设有支架(3),支架(3)下部铰接有折叠板(4);所述面板(2)包括触点开关(201)、第一显示屏(203)、第二显示屏(202)、输出接头(205)和输入接头(204),触点开关(201)与投切电路(14)相连接,驱动电路(14)与激光器(7)相连接,激光器(7)与MCU控制器(6)相连接;所述MCU控制器(6)与第一显示屏(203)、第二显示屏(202)、闪关灯(5)相连接;所述输入接头(204)、输出接头(205)与光分路器(8)相连接,光分路器(8)与模数转换电路(9)相连接,模数转换电路(9)与放大电路(10)相连接,放大电路(10)与第一光...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘继亮
申请(专利权)人:鹤壁腾天光通信技术有限公司
类型:新型
国别省市:河南;41

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