同时测量待测面的角度和高度的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种同时测量角度和高度的装置，包括第一CMOS传感器、第一透镜、分光棱镜、第二CMOS传感器和第二透镜；第一CMOS传感器和分光棱镜分别位于第一透镜的两侧，第一CMOS传感器和分光棱镜处于第一透镜的光轴上；第一透镜的光轴沿着指向分光棱镜的方向与第二透镜的光轴斜向相交，第二CMOS传感器位于第二透镜的光轴上，第一透镜的光轴与第二透镜的光轴的交点和第二CMOS传感器二者分别位于第二透镜的两侧。本实用新型专利技术利用高精度CMOS传感器实现同时对平面的角度和高度进行测量，成本低，体积重量小，可以使用一个装置完成测量平面角度和高度的2个功能，可以达到较高的测量精度。（*该技术在2020年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量装置，尤其是一种可以同时测量待测面的角度和高度的装置。
技术介绍
目前对平面的角度测量和高度测量一般分别采用专用测量设备进行，高精度测量设备价格非常昂贵，体积和重量大，无法同时测量被测平面的角度和高度数据。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种可以同时测量待测面的角度和高度的装置。为解决上述技术问题，本技术提供一种同时测量角度和高度的装置，包括第一CMOS(互补金属氧化物半导体)传感器、第一透镜、分光棱镜、第二CMOS传感器和第二透镜；第一CMOS传感器和分光棱镜分别位于第一透镜的两侧，第一CMOS传感器和分光棱镜处于第一透镜的光轴上；第一透镜的光轴沿着指向分光棱镜的方向与第二透镜的光轴斜向相交，第二CMOS传感器位于第二透镜的光轴上，第一透镜的光轴与第二透镜的光轴的交点和第二CMOS传感器二者分别位于第二透镜的两侧。本技术的有益效果是：利用高精度CMOS传感器实现同时对平面的角度和高度进行测量，成本低，体积重量小，可以使用一个装置完成测量平面角度和高度的2个功能，可以达到较高的测量精度。【附图说明】下面通过具体实施方式并结合附图，对本技术作进一步的详细说明：图1是本技术一种具体实施方式的示意图。【具体实施方式】图1示出了本技术的一种具体实施方式。如图1所示，利用高精度CMOS传感器同时测量平面角度和高度的装置，包括第一CMOS传感器8、第一透镜6、分光棱镜2、第二CMOS传感器11和第二透镜10；第一CMOS传感器8位于第一透镜6的上方，分光棱镜2位于第一透镜6的下方，第一CMOS传感器8和分光棱镜2处于第一透镜6的光轴上；第一透镜6的光轴沿着指向分光棱镜2的方向与第二透镜10的光轴斜向相交，第二CMOS传感器11位于第二透镜10的光轴上，第一透镜6的光轴与第二透镜10的光轴的交点和第二CMOS传感器11二者分别位于第二透镜10的两侧(即沿第二透镜10的光轴方向，第一透镜6的光轴与第二透镜10的光轴的交点位于第二透镜10的右下方，第二CMOS传感器11位于第二透镜10的左上方)。工作时，将待测平面4置于第一透镜6的光轴与第二透镜10的光轴的交点处。激-->光1射入分光棱镜2，反射光线3被反射到待测平面4上，形成光斑13，反射光线5反射(反射光线5与入射光线3之间的夹角为α)，穿过分光棱镜2，到达第一透镜6，被第一透镜6折射后光线7到达第一CMOS传感器8上，形成光斑14，被第一CMOS传感器8感应。借助不同的已知倾斜角度的试块可以得到不同倾斜角度与相应的光斑14的不同位置之间的对应关系，编制成软件，软件通过实际测定的光斑14在CMOS传感器8的位置变化，可以换算出角度α的位置变化，再通过与已知倾斜角度的标准块的比较，即可得到待测平面4相对标准块的实际角度值。同时，光斑13的漫射光线9，经过第二透镜10，达到第二CMOS传感器11，形成光斑12，借助不同的已知高度的试块可以得到不同高度与相应的光斑12的不同位置之间的对应关系，编制成软件，软件通过实际测定的光斑12在第二CMOS传感器11上的位置的变化，可以换算出平面4的高度的相对变化，再通过与已知高度标准块比较，即可得到待测平面4相对标准块的高度。以上内容是结合具体的优选实施方式对本技术所作的进一步详细说明，不能认定本技术的具体实施只局限于这些说明。对于本技术所属
的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本技术的保护范围。-->本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种同时测量角度和高度的装置，其特征在于：包括第一CMOS传感器、第一透镜、分光棱镜、第二CMOS传感器和第二透镜；所述第一CMOS传感器和分光棱镜分别位于所述第一透镜的两侧，所述第一CMOS传感器和分光棱镜处于所述第一透镜的光轴上；所述第一透镜的光轴沿着指向所述分光棱镜的方向与所述第二透镜的光轴斜向相交，所述第二CMOS传感器位于所述第二透镜的光轴上，所述第一透镜的光轴与所述第二透镜的光轴的交点和所述第二CMOS传感器二者分别位于所述第二透镜的两侧。

【技术特征摘要】
1.一种同时测量角度和高度的装置，其特征在于：包括第一CMOS传感器、第一透镜、分光棱镜、第二CMOS传感器和第二透镜；所述第一CMOS传感器和分光棱镜分别位于所述第一透镜的两侧，所述第一CMOS传感器和分光棱镜处于所述第一透镜的光...

【专利技术属性】
技术研发人员：周欣，
申请(专利权)人：科瑞自动化技术深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44