本发明专利技术提出一种用于自动校正访问存储装置数据的装置及方法，涉及数据存储、数据校正等技术领域，该装置存储装置模块，用于存储数据，其中所述存储装置模块包括用于存储数据的区域与用于存储监督位的区域；编码器模块，用于获取数据，并根据所述数据生成对应的监督位；解码器模块，用于当所述存储装置模块读取所述数据时，所述解码器模块根据所述监督位检验所述数据的正确性，当发现所述数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给读写单元，读写单元将校正后数据重新写回存储装置，以避免数据错误增加。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数据存储、数据校正等
，特别涉及一种用于自动校正访问存储装置数据的装置及方法。
技术介绍
目前存储系统采用纠错码(errorcorrectioncodes,ECC)来进行检测和校正出错的数据。通常，通过在一系列固定长度的数据位后添加若干位固定的监督位来实现。在检测8比特数据时，若随机定位错误的数量由变量p表示，已知位置的符号错误的数量由变量q表示，之后提供m个ECC的监督位，则m,p与q之间的关系为m＝2p+q。虽然ECC能够对存储系统中读出的数据进行校正，存放于存储系统中的出错数据并没有被校正。所以存储系统中的数据错误会不断积累，导致错误的数量太多，出现校正失败的问题。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本专利技术提出一种用于自动校正访问存储装置数据的装置，包括：存储装置模块，用于存储数据，其中所述存储装置模块包括用于存储数据的区域与用于存储监督位的区域；编码器模块，用于获取数据，并根据所述数据生成对应的监督位；解码器模块，用于当所述存储装置模块读取所述数据时，所述解码器模块根据所述监督位检验所述数据的正确性，当发现所述数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给读写单元，读写单元将校正后数据重新写回存储装置，以避免数据错误增加。所述的用于自动校正访问存储装置数据的装置，还包括读写单元模块，用于读写数据及读写与所述数据相对应的监督位。所述的用于自动校正访问存储装置数据的装置，所述编码器模块包括监督位生成模块与合并模块；其中所述监督位生成模块用于根据所述数据生成监督位；所述合并模块用于将所述数据与所述监督位按特定顺序合并到一起，并将合并的数据输出。所述的用于自动校正访问存储装置数据的装置，所述解码器模块包括校验子生成模块、数据解析模块、纠错码生成模块、数据纠错模块；其中所述校验子生成模块用于根据所述数据与所述监督位生成校验子，校验子用于生成纠错码；所述数据解析模块用于将所述数据与所述监督位分离，输出待校验数据；所述纠错码生成模块用于根据所述校验子生成纠错码与错误信息；所述数据纠错模块用于根据所述纠错码对所述待校验数据进行纠错。本专利技术还提出一种用于自动校正访问存储装置数据的方法，包括：步骤1，获取数据，并根据所述数据生成对应的监督位；步骤2，当所述存储装置读取所述数据时，所述解码器根据所述监督位检验所述数据的正确性，当发现所述数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给读写单元，读写单元将校正后数据重新写回存储装置，以避免数据错误增加。所述的用于自动校正访问存储装置数据的方法，还包括读写数据及读写与所述数据相对应的监督位。所述的用于自动校正访问存储装置数据的方法，所述步骤1包括根据所述数据生成监督位；将所述数据与所述监督位按特定顺序合并到一起，并将合并的数据输出。所述的用于自动校正访问存储装置数据的方法，所述步骤2包括根据所述数据与所述监督位生成校验子，校验子用于生成纠错码；将所述数据与所述监督位分离，输出待校验数据；根据所述校验子生成纠错码与错误信息；根据所述纠错码对所述待校验数据进行纠错。由以上方案可知，本专利技术的优点在于：本专利技术在遇到无法校正错误的时候返回错误信号，当出现可校正的错误时，则将校正后的数据重新写会存储装置，从而实现了数据自动校正的目的，避免了数据错误增多导致最后校正失败的情况。附图说明图1示出了本专利技术的概要构成图。图2示出了本专利技术的编码器模块的概要构成图。图3示出了本专利技术编码过程的流程图。图4示出了本专利技术的解码器模块的概要构成图。图5示出了本专利技术解码过程的流程图。其中附图标记为：步骤101、步骤102、步骤103、步骤104。具体实施方式本专利技术提出一种用于自动校正访问存储装置数据的装置，包括：存储装置模块，用于存储数据，其中所述存储装置模块包括用于存储数据的区域与用于存储监督位的区域；编码器模块，用于获取数据，并根据所述数据生成对应的监督位；解码器模块，用于当所述存储装置模块读取所述数据时，所述解码器模块根据所述监督位检验所述数据的正确性，当发现所述数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给读写单元，读写单元将校正后数据重新写回存储装置，以避免数据错误增加。还包括读写单元模块，用于读写数据及读写与所述数据相对应的监督位。所述编码器模块包括监督位生成模块与合并模块；其中所述监督位生成模块用于根据所述数据生成监督位；所述合并模块用于将所述数据与所述监督位按特定顺序合并到一起，并将合并的数据输出。所述解码器模块包括校验子生成模块、数据解析模块、纠错码生成模块、数据纠错模块；其中所述校验子生成模块用于根据所述数据与所述监督位生成校验子，校验子用于生成纠错码；所述数据解析模块用于将所述数据与所述监督位分离，输出待校验数据；所述纠错码生成模块用于根据所述校验子生成纠错码与错误信息；所述数据纠错模块用于根据所述纠错码对所述待校验数据进行纠错。本专利技术还提出一种用于自动校正访问存储装置数据的方法，包括：步骤1，获取数据，并根据所述数据生成对应的监督位；步骤2，当所述存储装置读取所述数据时，所述解码器根据所述监督位检验所述数据的正确性，当发现所述数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给读写单元，读写单元将校正后数据重新写回存储装置，以避免数据错误增加。还包括读写数据及读写与所述数据相对应的监督位。所述步骤1包括根据所述数据生成监督位；将所述数据与所述监督位按特定顺序合并到一起，并将合并的数据输出。所述步骤2包括根据所述数据与所述监督位生成校验子，校验子用于生成纠错码；将所述数据与所述监督位分离，输出待校验数据；根据所述校验子生成纠错码与错误信息；根据所述纠错码对所述待校验数据进行纠错。以下为本专利技术实施例，如下所示：本专利技术提供一种访问数据中监督位快速生成的方法并且在出现无法纠正的错误时返回错误信号并进行校正后重新写回存储装置，当出现可校正的错误时，将校正后的数据重新写回存储装置，达到自动校正的目的。本专利技术的具体技术如下：在使用ECC算法解码的过程中，同时生成错误信号，标志着数据中错误的个数和错误是否可修复信号，当出现可校正的错误时，则将校正后的本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于自动校正访问存储装置数据的装置，其特征在于，包括：存储装置模块，用于存储数据，其中所述存储装置模块包括用于存储数据的区域与用于存储监督位的区域；编码器模块，用于获取数据，并根据所述数据生成对应的监督位；解码器模块，用于当所述存储装置模块读取所述数据时，所述解码器模块根据所述监督位检验所述数据的正确性，当发现所述数据中存在错误数据时，发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给读写单元，读写单元将校正后数据重新写回存储装置，以避免数据错误增加。
【技术特征摘要】
1.一种用于自动校正访问存储装置数据的装置，其特征在于，包括：
存储装置模块，用于存储数据，其中所述存储装置模块包括用于存储数据
的区域与用于存储监督位的区域；
编码器模块，用于获取数据，并根据所述数据生成对应的监督位；
解码器模块，用于当所述存储装置模块读取所述数据时，所述解码器模块
根据所述监督位检验所述数据的正确性，当发现所述数据中存在错误数据时，
发送错误信号，同时将所述错误数据进行校正，并将校正后的数据发送给读写
单元，读写单元将校正后数据重新写回存储装置，以避免数据错误增加。
2.如权利要求1所述的用于自动校正访问存储装置数据的装置，其特征在
于，还包括读写单元模块，用于读写数据及读写与所述数据相对应的监督位。
3.如权利要求1所述的用于自动校正访问存储装置数据的装置，其特征在
于，所述编码器模块包括监督位生成模块与合并模块；其中所述监督位生成模
块用于根据所述数据生成监督位；所述合并模块用于将所述数据与所述监督位
按特定顺序合并到一起，并将合并的数据输出。
4.如权利要求1所述的用于自动校正访问存储装置数据的装置，其特征在
于，所述解码器模块包括校验子生成模块、数据解析模块、纠错码生成模块、
数据纠错模块；其中所述校验子生成模块用于根据所述数据与所述监督位生成
校验子，校验子用于生成纠错码；所述数据解...
【专利技术属性】
技术研发人员：张士锦，罗韬，刘少礼，陈云霁，
申请(专利权)人：中国科学院计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11
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