一种比相装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种比相装置，包括待测信号源、参考源单元、分频单元、高分辩率计数单元、频率切换单元、中央处理器和相位比较单元。本发明专利技术中的比相装置在满足比相测量精度的基础上，拓宽了被测信号的频率测量范围，在传统的比相电路基础上，采用单片机（片内集成A/D模块）以及DDS技术构建数字化比相测量装置。数字化DDS频率信合成处理技术使得输出信号与输入信号具有良好的信噪比。在提高比相测量精度的基础上，使整个测量装置得以小型数字化，在性能及价格上满足实际测量的需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信号处理
，具体涉及一种比相装置。
技术介绍
比相仪主要是对各种高精度频率源（原子频标、高稳晶振等）的长期特性进行评估测量。传统的比相仪是由一个比相电路和一个机械记录仪组成，存在着精度不高，操作、数据记录不方便、体积庞大等问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：提出一种比相装置。本专利技术为解决上述技术问题提出的技术方案是：一种比相装置，其特征在于：包括待测信号源、参考源单元、分频单元、高分辩率计数单元、频率切换单元、中央处理器和相位比较单元；所述待测信号源适于输出被测时域信号；所述参考源单元包括短稳时钟源和长稳时钟源，适于分别输出短稳参考信号和长稳参考信号；所述频率切换单元适于将被测时域信号在以长稳参考信号为时基参考下转化为标准的1KHz频率信号，并分别送至相位比较单元和高分辨率计数单元；所述高分辩率计数单元适于在短稳参考信号参考下，对频率切换单元输出的信号频率进行计数测量，并将测量结果送至中央处理器存储、处理，获得信号源的信号频率短期稳定度指标，所述中央处理器按照频率切换单元输出的1KHz频率范围，对高分辩率计数单元进行测量带宽控制；所述分频单元适于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种比相装置，其特征在于：包括待测信号源、参考源单元、分频单元、高分辩率计数单元、频率切换单元、中央处理器和相位比较单元；所述待测信号源适于输出被测时域信号；所述参考源单元包括短稳时钟源和长稳时钟源，适于分别输出短稳参考信号和长稳参考信号；所述频率切换单元适于将被测时域信号在以长稳参考信号为时基参考下转化为标准的1KHz频率信号，并分别送至相位比较单元和高分辨率计数单元；所述高分辩率计数单元适于在短稳参考信号参考下，对频率切换单元输出的信号频率进行计数测量，并将测量结果送至中央处理器存储、处理，获得信号源的信号频率短期稳定度指标，所述中央处理器按照频率切换单元输出的1KHz频率范围，对高分辩率...

【技术特征摘要】
1.一种比相装置，其特征在于：包括待测信号源、参考源单元、分频单元、高分辩率计数单元、频率切换单元、中央处理器和相位比较单元；所述待测信号源适于输出被测时域信号；所述参考源单元包括短稳时钟源和长稳时钟源，适于分别输出短稳参考信号和长稳参考信号；所述频率切换单元适于将被测时域信号在以长稳参考信号为时基参考下转化为标准的1KHz频率信号，并分别送至相位比较单元和高分辨率计数单元；所述高分辩率计数单元适于在短稳参考信号参考下，对频率切换单元输出的信号频率进行计数测量，并将测量结果送至中央处理器存储、处理，获得信号源的信号频率短期稳定度指标，所述中央处理器按照频率切换单元输出的1KHz频率范围，对高分辩率计数单元进行测量带宽控制；所述分频单元适于在中央处理器的控制下对长稳参考信号进行分频处理，获得0.9KHz的频率信号送至相位比较单元；所述相位比较单元适于对频率切换单元以及分频单元送来的时钟信号进行相位比较，获得相位差数据送至中央处理器存储、处理，获得信号源的信号频率长期稳定度指标；所述中央处理器还适于对所述长期稳定度指标、所述短期稳定度指标数据进行处理获得对应值。2.根据权利要求1所述比相装置，其特征在于：所述分频单元包括第一隔离放大器和第一DDS模块，所述长稳参考信号经第一隔离放大器后被送至所述第一DDS模块的外时钟输入端以作为其工作外部参考时钟，所述第一DDS模块的外部通讯端口连接至所述中央处理器以接受来自中央处理器的控制字命令及双向的数据传输。3.根据权利要求1所述比相装置，其特征在于：所述频率切换单元包括初级处理子单元和二级处理子单元，所述初级处理子单元包括第一走时计数模块、第二DDS模块和PLL锁相环模块，所述第一走时计数模块适于在长稳参考信号作用下对所述被测时域信号进行初级的频率测量，并将测得值fo发送至中央处理器，中央处理器根据频率测量值...

【专利技术属性】
技术研发人员：王莉，
申请(专利权)人：江汉大学，
类型：发明
国别省市：湖北;42