【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于探察对象内部的系统、一种支持探察对象的内部的方法、一种计算机程序元件以及一种计算机可读介质。
技术介绍
微创技术已经成为现代医学实践的支柱。过去已经发展并提出了许多精细化的技术和相关联的工具以帮助介入医生使患者的内部能相对容易地被访问。然而,在所有这些工具在现代导管室(导管实验室)中可任意使用的情况下,快速找出患者内部的情况并以大的确定性来识别期望的目标位置仍然是有挑战性的。介入流程的范例是支气管镜检或区域性/局部麻醉给药。
技术实现思路
因此存在对用于支持介入流程的备选方法和系统的需求。通过独立权利要求的主题名称来解决本专利技术的目的,其中,在从属权利要求中并入了另外的实施例。应当注意,本专利技术的以下所描述的方面同样适用于支持探察对象的内部的方法、计算机程序元件以及计算机可读介质。根据本专利技术的第一方面,提供了一种用于探察对象的内部的系统,包括:介入工具,其具有用于引入到所述对象中的端部部分;导航装备,其被配置为当所述工具驻留在所述对象中时产生指示所述端部在所述对象里面的当前位置的当前位置信息;探头,其用于引入到所述对象中,所述探头被配置为接收从所述对象的内部反射开的非电离辐射;谱分析仪(SA),其被配置为将接收到的辐射关于谱分析成关于在所述介入工具的当前端部位置处或周围的所述对象的内部的材料或成分和/或组织结构的探察信息,所述探察信息包括出现在所述介入工具 ...
【技术保护点】
一种用于探察对象的内部的系统,包括:介入工具(INT),其具有用于引入到所述对象中的端部部分;导航装备(NAV),其被配置为当所述工具驻留在所述对象中时产生指示所述端部在所述对象里面的当前位置的当前位置信息;探头(PR),其用于引入到所述对象中,所述探头被配置为接收从所述对象的内部反射开的非电离辐射;谱分析仪(SA),其被配置为将接收到的辐射关于谱分析成关于在所述介入工具的当前端部位置处或周围的所述对象的内部的材料成分和/或组织结构的探察信息,所述探察信息包括出现在所述介入工具的所述当前端部位置处或周围的材料类型的至少一个测量值和/或根据所述接收到的辐射的散射量的散射测量值;图形用户接口发生器(GG),其被配置为在显示单元上产生图形显示(GUI),当显示时所述图形显示包括:i)针对所述散射测量值或针对所述材料类型的测量值或针对从所述测量值中的任一个或两者导出的值的至少一个探察信息指示器(412;612;1120;1220),所述探察信息指示器包括:a)指针元件(411a‑411c;611;1115a‑1115b;1216a‑1216c),其被配置为指示所述测量值中的至少一个的当前读数或 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.01.22 EP 14152052.8;2013.12.20 US 61/918,9361.一种用于探察对象的内部的系统,包括:
介入工具(INT),其具有用于引入到所述对象中的端部部分;
导航装备(NAV),其被配置为当所述工具驻留在所述对象中时产生指示所述端部在所
述对象里面的当前位置的当前位置信息;
探头(PR),其用于引入到所述对象中,所述探头被配置为接收从所述对象的内部反射
开的非电离辐射;
谱分析仪(SA),其被配置为将接收到的辐射关于谱分析成关于在所述介入工具的当前
端部位置处或周围的所述对象的内部的材料成分和/或组织结构的探察信息,所述探察信
息包括出现在所述介入工具的所述当前端部位置处或周围的材料类型的至少一个测量值
和/或根据所述接收到的辐射的散射量的散射测量值;
图形用户接口发生器(GG),其被配置为在显示单元上产生图形显示(GUI),当显示时所
述图形显示包括:
i)针对所述散射测量值或针对所述材料类型的测量值或针对从所述测量值中的任一
个或两者导出的值的至少一个探察信息指示器(412;612;1120;1220),所述探察信息指示
器包括:a)指针元件(411a-411c;611;1115a-1115b;1216a-1216c),其被配置为指示所述测
量值中的至少一个的当前读数或导出的值的当前读数;以及b)刻度盘元件(413a-413c;
613;1215a-1215b),其被配置为指示值的范围,其中,所述指针元件相对于所述刻度盘元件
显示;以及
ii)针对所述对象的内部中所述端部的位置的所述当前位置信息的位置指示器(409;
TP);
并且所述系统还包括:
所述显示单元(MT),其用于当使用所述系统时显示所述图形显示(GUI)。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述谱分析仪被配置为将材料测量值辨别成第一
材料类型和第二材料类型中的任一种的量,其中,由所述图形用户接口发生器(GG)生成的
所述图形显示(GUI)包括三个离散的探察信息指示器,每个指示器分别专用于两种材料类
型的量和所述散射值的量。
3.根据权利要求1或2所述的系统,其中,所述谱分析仪被配置为将材料测量值辨别成
第一材料类型和第二材料类型中的任一种的量,其中,所述谱分析仪(SA)被配置为将所述
散射值和针对所述两种材料类型的测量的量组合成单个超级值,其中,所述至少一个探察
信息指示器用于指示所述单个超级值。
4.根据权利要求1-3中的任一项所述的系统,其中,所述导出的值是与所述第一材料处
于至少两种状态中的一种的概率有关的概率值。
5.根据权利要求2-4中的任一项所述的系统,其中,所述第一材料的测量值或所述第二
材料的测量值与当前出现在所述介入工具(IT)的所述端部处或周围的所述第一材料或所
述第二材料的量有关。
6.根据权利要求1所述的系统,其中,所述探察信息指示器包括针对两种概率密度
(1113a-1113d,1114a-1114d)的图形指示,一种概率密度描述了针对第一材料类型的所述
测量值的分布,并且另一种概率密度描述了针对第二材料类型的测得的值的分布,所述探
察信息指示器由此支持对所述对象内的两种材料类型的层的过渡进行探察,其中,对所述
两种概率密度的所述图形指示是...
【专利技术属性】
技术研发人员:B·H·W·亨德里克斯,T·M·比德隆,A·T·M·H·范基尔索普,G·W·吕卡森,V·帕塔萨拉蒂,V·V·普利,M·范德沃尔特,M·米勒,G·H·M·海斯贝斯,
申请(专利权)人:皇家飞利浦有限公司,
类型:发明
国别省市:荷兰;NL
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