具有图案化衬底的发光器件制造技术

技术编号:14754057 阅读:101 留言:0更新日期:2017-03-02 11:53
根据本发明专利技术的实施例的照明器件包括具有从衬底的表面延伸的多个孔的衬底。非III氮化物材料设置在多个孔内。衬底的表面没有非III氮化物材料。半导体结构生长在衬底的表面上。半导体结构包括设置在n型区和p型区之间的发光层。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及在具有可以改进光提取的特征的衬底上生长的发光器件。
技术介绍
包括发光二极管(LED)、谐振腔发光二极管(RCLED)、垂直腔激光二极管(VCSEL)和边缘发射激光器的半导体发光器件是当前可获得的最高效的光源之一。在能够跨可见光谱操作的高亮度发光器件的制造中当前感兴趣的材料系统包括III-V族半导体,特别是镓、铝、铟和氮的二元、三元和四元合金,其还被称为III氮化物材料。典型地,III氮化物发光器件通过借由金属-有机化学气相沉积(MOCVD)、分子束外延(MBE)或其它外延技术而在蓝宝石、碳化硅、III氮化物或其它合适衬底上外延生长不同成分和掺杂剂浓度的半导体层的叠层来制作。叠层通常包括形成在衬底之上的掺杂有例如Si的一个或多个n型层、形成在一个或多个n型层之上的有源区中的一个或多个发光层,以及形成在有源区之上的掺杂有例如Mg的一个或多个p型层。电气接触件形成在n和p型区上。图1图示了设计成改进来自半导体发光器件的光提取效率的衬底,其在US2013/0015487中被更详细地描述。在蓝宝石衬底10上,以平行条带图案形成在第一方向(沿x轴)上延伸的多个凹槽11。其余没有形成凹槽的表面是衬底的顶表面10a。每一个凹槽11在y轴方向上的宽度是1.5μm,并且在y轴方向上没有形成凹槽的部分10a的每一条在y轴方向上的宽度是1.5μm。每一个凹槽11的深度是0.1μm。每一个凹槽11的深度可以在从100Å到3μm的范围内。多个SiO2电介质条带15平行地形成在凹槽11的底表面和侧表面上,并且形成在蓝宝石衬底10的表面10a上。每一个电介质条带15在第二方向(y轴方向)上延伸。每一个电介质条带15的宽度在x轴方向上为1.5μm。每一个电介质条带15的厚度可以在100Å到1μm的范围内。在具有图1中所示的配置的蓝宝石衬底10上,沉积具有10nm的膜厚度的氮化铝(AlN)缓冲层。缓冲层(没有在图1中示出)形成在凹槽11的底表面11a和侧表面11b、表面10a、以及电介质条带15的顶表面15a和侧表面15b之上。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种具有改进的提取的发光器件。根据本专利技术的实施例的照明器件包括具有从衬底的表面延伸的多个孔的衬底。在多个孔内设置非III氮化物材料。衬底的表面没有非III氮化物材料。在衬底的表面上生长半导体结构。半导体结构包括设置在n型区和p型区之间的发光层。尽管在以下讨论中,衬底是蓝宝石,但是可以使用任何合适的衬底材料,诸如蓝宝石、SiC、硅、GaN、III氮化物或者复合衬底。在一些实施例中,衬底具有比生长在衬底上的III氮化物材料的折射率小的折射率。例如,蓝宝石具有1.7的折射率,而GaN具有2.4的折射率。附图说明图1图示了用于改进来自半导体发光器件的光提取效率的现有技术衬底。图2是根据本专利技术的实施例的具有特征的衬底的部分的平面视图。图3是根据本专利技术的实施例的具有特征的衬底的部分的截面视图。图4是在特征的表面上形成一个或多个涂敷层之后的图3的结构的截面视图。图5图示了在图4的衬底上形成的半导体器件结构。图6图示了倒装芯片器件。具体实施方式半导体发光器件结构可以形成在图1中所图示的衬底上。在具有平滑衬底的器件中,波导形成在衬底和半导体材料之间。由于衬底和半导体材料的不同折射率,波导将光俘获在器件中。在具有图1的衬底的器件中,衬底上的电介质条带15和凹槽11中断波导并且因而可以改进来自器件的光提取。在衬底的方向上发射的光可以被凹槽11和/或电介质条带15散射,使得更有可能从器件提取光。在图1中所图示的结构中,电介质条带15形成在平坦表面(凹槽11之间的表面10a,以及凹槽11的底表面11a)和非平坦表面(凹槽11的竖直侧壁11b)二者上。平坦表面上的电介质材料具有对光提取的最小影响,其可以减损在衬底上生长的半导体器件结构的晶体生长质量。在本专利技术的一些实施例中,在衬底上外延生长半导体器件结构之前,特征被形成在衬底上,并且涂敷有一个或多个抗反射、散射和/或梯度折射率涂敷层。一个或多个涂敷层可以总体地或者部分地填满形成在衬底表面中的特征。特征和(多个)涂敷层的主要功能可以是双重的:(i)增加光从III氮化物材料向衬底中的透射,以及(ii)控制光的方向以调谐来自器件的远场发射。将(多个)涂敷层约束到在生长期间不显著地贡献于III氮化物材料的成核的衬底的表面区域。这些区域一般是相对于衬底的平面(相对于通过x和y轴描述并且垂直于z轴的平面)形成的特征的斜向和/或竖直区域。在衬底上的非平坦表面上形成诸如电介质层之类的非III氮化物涂敷层不显著地影响衬底上的晶体生长,但是可以增强来自器件的光提取。尽管在以下示例中半导体发光器件是发射蓝光或UV光的III氮化物LED,但是可以使用除LED之外的半导体发光器件,诸如激光二极管,以及由诸如其它III-V材料、III磷化物、III砷化物、II-VI材料、ZnO或基于Si的材料之类的其它材料系统制成的半导体发光器件。图2是根据本专利技术的实施例的包括特征22的衬底20的部分的平面视图。在图2中图示的特征22是形成在衬底20中的孔,其从衬底的顶表面向下延伸。孔不延伸穿过衬底的整个厚度。孔可以是任何合适的形状,包括例如具有竖直侧面和平坦底部的孔、具有倾斜侧面和平坦底部的孔、截头倒转角锥体、截头倒转圆锥体、倒转角锥体、倒转圆锥体或者任何其它合适的形状。在一些实施例中,孔可以沿垂直于衬底的顶表面的轴或者其它轴旋转对称,尽管并不要求这样。孔可以以任何合适的图案进行布置,包括例如,诸如三角形、正方形、六边形之类的阵列或者任何其它合适的阵列、随机布置,或者准随机布置,诸如阿基米德格子。孔可以通过蚀刻、诸如钻孔之类的机械技术、或者任何其它合适的技术来形成。例如,孔可以通过湿法化学蚀刻、在例如磷酸或硫酸的化学浴中,或者通过干法蚀刻技术在电感耦合等离子体(ICP)蚀刻机中形成。图3是包括典型特征22的衬底20的部分的截面视图。由图1的x和y轴形成的衬底的平面例如是在图3中图示的结构的顶部或底部。在图3中图示的特征22的实施例具有倒转三角形截面,其中每一个孔的轴垂直于衬底的平面取向。特征可以具有任何合适的截面。例如,特征可以具有平坦底部或圆形底部。特征可以具有竖直侧面、倾斜侧面、弯曲侧面或分段侧面,其中不同段具有不同的倾斜和/或形状。在一些实施例中,特征的倾斜侧面与发光层的最大角发射的方向正交或者基本上正交。例如,如果由发光层发射的光在具有距器件的主平面的法向的60度处的瓣极大点的图案中发射,则特征的倾斜侧壁可以在距器件的主平面的法向的角度30度处取向。衬底20的顶表面24可以在特征22之间是平坦的,如在图3中图示的,尽管并不要求这样。例如,顶表面24可以被图案化、粗糙化或纹理化,或者可以相对于孔的取向而倾斜。孔可以取向成使得所有或大多数孔的轴垂直于衬底的平面。在可替换方案中,所有或大多数孔的轴可以相对于衬底的平面成角度,或者孔的轴可以随机地取向。衬底20可以具有在一些实施例中至少100μm、在一些实施例中不大于500μm、在一些实施例中至少200μm、以及在一些实施例中不大于400μm的厚度34。在特征22的开口处,在衬底的顶边缘处,特征22可以具有在一些实施本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种照明器件,包括:包括多个孔的衬底,其中孔从衬底的表面延伸;设置在多个孔内的非III氮化物材料,其中衬底的表面没有非III氮化物材料;以及生长在衬底的表面上的半导体结构,半导体结构包括设置在n型区和p型区之间的发光层。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.05.30 US 62/0050031.一种照明器件,包括:包括多个孔的衬底,其中孔从衬底的表面延伸;设置在多个孔内的非III氮化物材料,其中衬底的表面没有非III氮化物材料;以及生长在衬底的表面上的半导体结构,半导体结构包括设置在n型区和p型区之间的发光层。2.权利要求1所述的照明器件,其中多个孔具有三角形截面。3.权利要求1所述的照明器件,其中非III氮化物材料填充孔。4.权利要求1所述的照明器件,其中非III氮化物材料是形成半导体结构和衬底之间的梯度折射率光学界面的层的叠层。5.权利要求1所述的照明器件,其中多个孔在所述表面处具有1μm和20μm之间的宽度。6.权利要求1所述的照明器件,其中多个孔向衬底中延伸1μm和20μm之间的深度。7.权利要求1所述的照明器件,其中最靠近的相邻孔的中心之间的间距在2μm和50μm之...

【专利技术属性】
技术研发人员:T洛佩斯
申请(专利权)人:皇家飞利浦有限公司
类型:发明
国别省市:荷兰;NL

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