高填充红外探测器像元结构及其制备方法技术

技术编号:14708990 阅读:155 留言:0更新日期:2017-02-26 02:16
本发明专利技术提供了一种高填充红外探测器像元结构及其制备方法,包括在硅衬底上形成导电梁结构和导电梁结构上形成红外探测结构;每一层导电沟槽的底部与其下方相邻层的导电沟槽的顶部分别接触连接于一导电梁的两端;其中一层导电沟槽的底部与导电金属区相接触;导电梁结构的最顶层中具有顶层导电沟槽和顶层导电梁;顶层导电梁与红外探测结构相接触连接,使微桥结构位于导电梁结构之上,每一层的导电沟槽和导电梁构成了迂回阶梯状的结构,从而使微桥结构产生的电信号的传输路径呈迂回阶梯状;微桥结构产生的电信号从顶层导电梁传输到顶层导电沟槽的顶部,再传输到顶层导电沟槽的底部,经过多层导电沟槽和导电梁之间的传输,最后传输到导电金属区。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体
,具体涉及一种高填充红外探测器像元结构及其制备方法
技术介绍
红外探测器是将入射的红外辐射信号转变为电信号输出的器件,其利用热敏元件检测物体的存在或移动,探测器手机外界的红外辐射进而聚集到红外传感器上,红外传感器采用热敏元件,热敏元件在接受了红外辐射温度发生变化时就会输出信号,将其转换为电信号,然后对电信号进行波形分析。传统红外探测器像元结构中仅使用一种类型热敏电阻,通常是负温度系数的非晶硅或者氧化钒,并通过电路将其变化的信号放大输出。然而,采用热敏元件的探测器结构的灵敏度通常不是很高,且结构较为复杂,探测过程复杂,如果采用灵敏度较高的热敏元件则材料的成本昂贵;因此,急需对现有红外探测器进行改进,来提高灵敏度,降低结构复杂度和成本。
技术实现思路
为了克服以上问题,本专利技术旨在提供一种红外探测器像元结构及其制备方法。为了达到上述目的,本专利技术提供了一种红外探测器像元结构,位于一硅衬底上,硅衬底表面具有导电金属区红外探测结构,位于硅衬底上方,用于探测红外光并产生电信号;导电梁结构,与红外探测结构相电连,用于将红外探测结构产生的电信号传输到导电金属区;导电梁结构包括:位于导电梁结构最顶层的导电梁,以及多层导电沟槽;每一层导电沟槽的底部与其下方相邻层的导电沟槽的顶部分别连接于一导电梁的两端;其中一层导电沟槽的底部与导电金属区相接触;导电梁结构的最顶层中具有顶层导电沟槽和顶层导电梁;顶层导电梁与红外探测结构相连接,使微桥结构位于导电梁结构之上,每一层的导电沟槽和导电梁构成了迂回阶梯状的结构,从而使微桥结构产生的电信号的传输路径呈迂回阶梯状;微桥结构产生的电信号从顶层导电梁传输到顶层导电沟槽的顶部,再传输到顶层导电沟槽的底部,经过多层导电沟槽和导电梁之间的传输,最后传输到导电金属区。优选地,所述导电梁由导电层以及包围导电层的释放保护层构成;每层所述导电沟槽由上释放保护层、下释放保护层以及位于上释放保护层和下释放保护层之间的导电层构成。优选地,所述导电梁由导电层以及位于导电层上表面的释放保护层构成;每层所述导电沟槽由导电层以及位于导电层上的释放保护层构成。优选地,所述导电梁由导电层构成;每层所述导电沟槽由导电层构成。优选地,所述导电梁的底部具有凸起。优选地,所述硅衬底表面还具有反射区,反射区位于红外探测结构下方,且在反射区和导电金属区之间具有介质层;互连层还连接有外部电路。为了达到上述目的,本专利技术还提供了一种制备上述的红外探测器像元结构的方法,包括:步骤01:提供一硅衬底,并且在硅衬底表面形成导电金属区;步骤02:在所述硅衬底上形成一层牺牲层;在该层牺牲层中刻蚀出导电沟槽的图案和/或导电梁的图案,并且在导电沟槽的图案和/或导电梁的图案中形成导电层,从而形成该层的导电沟槽或导电梁;步骤03:重复步骤02的过程,其中,形成最顶部的牺牲层后,在最顶部的牺牲层中刻蚀出顶层导电沟槽的图案和顶层导电梁的图案,并且在顶层导电沟槽的图案和顶层导电梁的图案中形成导电层,从而形成顶层导电沟槽和顶层导电梁,以完成所述导电梁结构的制备;步骤04:在最顶层的牺牲层和和顶层导电梁上形成所述红外探测结构,使顶层导电梁的一端与红外探测结构相接触;步骤05:经释放工艺,将所有的牺牲层都释放掉。优选地,所述步骤02中,所述形成导电层的过程具体包括:在导电沟槽的图案和/或导电梁的图案中依次形成下释放保护层、导电层和上释放保护层;或者在导电沟槽的图案和/或导电梁的图案中依次形成导电层和释放保护层;或者在导电沟槽的图案和/或导电梁的图案中只形成导电层。优选地,所述导电沟槽的图案中只形成导电层时,所述导电层填充满所述导电沟槽的图案或者所述导电沟槽侧壁的导电层之间具有空隙。优选地,所述步骤02中形成所述导电层的过程还包括:对所述导电层平坦化处理,从而去除高于所述牺牲层表面的所述导电层。本专利技术的红外探测器像元结构及其制备方法,通过设置纵向上多层分布的导电沟槽和导电梁构成的导电梁结构,实现了电信号在纵向上的阶梯传输,减少了器件横向占用面积,提高了像元结构的集成密度,即提高了像元结构的填充因子;并且,微桥结构可以设置于导电梁结构之上、也可以悬挂于导电梁结构中,可见,微桥结构的设置位置变得更加灵活,使微桥结构的水平面积占用率提高,不仅减小了单个像元的水平面积,提高了单个硅片的集成度,还提高了探测灵敏度和信噪比,提高了整个红外探测器的性能。附图说明图1a为本专利技术的一个较佳实施例的红外探测器像元结构的俯视结构示意图图1b为本专利技术的一个较佳实施例的红外探测器像元结构的侧视结构示意图图1c为本专利技术的一个较佳实施例的微桥结构的截面结构示意图图2为本专利技术的一个较佳实施例的红外探测器像元结构的制备方法的流程示意图图3-7为本专利技术的一个较佳实施例的红外探测器像元结构的制备方法的各制备步骤的示意图图8a为本专利技术的一个较佳实施例的导电沟槽和导电梁的结构示意图图8b为本专利技术的一个较佳实施例的导电沟槽和导电梁的结构示意图图8c为本专利技术的一个较佳实施例的导电沟槽和导电梁的结构示意图图9a为本专利技术的一个较佳实施例的实体导电梁底部结构示意图图9b为本专利技术的一个较佳实施例的实体导电梁底部结构示意图图9c为本专利技术的一个较佳实施例的实体导电梁底部结构示意图图9d为本专利技术的一个较佳实施例的实体导电梁底部结构示意图图10a为本专利技术的一个较佳实施例的槽体导电梁底部结构示意图图10b为本专利技术的一个较佳实施例的槽体导电梁底部结构示意图图10c为本专利技术的一个较佳实施例的槽体导电梁底部结构示意图图10d为本专利技术的一个较佳实施例的槽体导电梁底部结构示意图具体实施方式为使本专利技术的内容更加清楚易懂,以下结合说明书附图,对本专利技术的内容作进一步说明。当然本专利技术并不局限于该具体实施例,本领域内的技术人员所熟知的一般替换也涵盖在本专利技术的保护范围内。本专利技术中,红外探测器像元结构,位于一硅衬底上,包括:硅衬底表面具有导电金属区,位于硅衬底上方的红外探测结构,用于探测红外光并产生电信号;与红外探测结构相电连的导电梁结构,用于将红外探测结构产生的电信号传输到导电金属区;导电梁结构包括:竖直方向上排布的至少一层导电梁和多层导电沟槽;其中,每一层导电梁的两端分别连接底部不在同一水平面的两层导电沟槽,红外探测结构与其中一层导电沟槽或其中一层导电梁相接触;导电金属区与其中另一层导电沟槽底部接触;红外探测结构产生的电信号沿着导电沟槽的高度方向和导电梁的水平方向传输,从而在竖直方向上呈迂回路径传输向下到导电金属区;红外探测结构下方、导电梁之间和导电梁下方均为空腔;红外探测结构下方构成空腔;空腔底部的反射区将未被红外探测结构吸收的红外光反射到红外探测结构上,可以经多次反射来完成红外探测结构对红外光的探测;该空腔构成红外探测器像元结构的谐振腔;本专利技术的一个实施例中,导电梁结构最顶层具有顶层导电梁;导电沟槽包括:底部与导电金属区接触且顶部位于导电梁结构最顶层的第一导电沟槽,以及底部高于第一导电沟槽底部且顶部位于导电梁结构最顶层的第二导电沟槽;第一导电沟槽的顶部和第二导电沟槽顶部分别与顶层导电梁两端连接;第二导电沟槽的底部与红外探测结构的相连接;红外探测结构产生的电信号首先经第二导电沟槽底部传输到第二导电沟槽顶部本文档来自技高网...
高填充红外探测器像元结构及其制备方法

【技术保护点】
一种红外探测器像元结构,位于一硅衬底上,硅衬底表面具有导电金属区;红外探测结构,位于硅衬底上方,用于探测红外光并产生电信号;导电梁结构,与红外探测结构相电连,用于将红外探测结构产生的电信号传输到导电金属区;其特征在于,导电梁结构包括:位于导电梁结构最顶层的导电梁,以及多层导电沟槽;每一层导电沟槽的底部与其下方相邻层的导电沟槽的顶部分别连接于一导电梁的两端;其中一层导电沟槽的底部与导电金属区相接触;导电梁结构的最顶层中具有顶层导电沟槽和顶层导电梁;顶层导电梁与红外探测结构相连接,使微桥结构位于导电梁结构之上,每一层的导电沟槽和导电梁构成了迂回阶梯状的结构,从而使微桥结构产生的电信号的传输路径呈迂回阶梯状;微桥结构产生的电信号从顶层导电梁传输到顶层导电沟槽的顶部,再传输到顶层导电沟槽的底部,经过多层导电沟槽和导电梁之间的传输,最后传输到导电金属区。

【技术特征摘要】
1.一种红外探测器像元结构,位于一硅衬底上,硅衬底表面具有导电金属区;红外探测结构,位于硅衬底上方,用于探测红外光并产生电信号;导电梁结构,与红外探测结构相电连,用于将红外探测结构产生的电信号传输到导电金属区;其特征在于,导电梁结构包括:位于导电梁结构最顶层的导电梁,以及多层导电沟槽;每一层导电沟槽的底部与其下方相邻层的导电沟槽的顶部分别连接于一导电梁的两端;其中一层导电沟槽的底部与导电金属区相接触;导电梁结构的最顶层中具有顶层导电沟槽和顶层导电梁;顶层导电梁与红外探测结构相连接,使微桥结构位于导电梁结构之上,每一层的导电沟槽和导电梁构成了迂回阶梯状的结构,从而使微桥结构产生的电信号的传输路径呈迂回阶梯状;微桥结构产生的电信号从顶层导电梁传输到顶层导电沟槽的顶部,再传输到顶层导电沟槽的底部,经过多层导电沟槽和导电梁之间的传输,最后传输到导电金属区。2.根据权利要求1所述的红外探测器像元结构,其特征在于,所述导电梁由导电层以及包围导电层的释放保护层构成;每层所述导电沟槽由上释放保护层、下释放保护层以及位于上释放保护层和下释放保护层之间的导电层构成。3.根据权利要求1所述的红外探测器像元结构,其特征在于,所述导电梁由导电层以及位于导电层上表面的释放保护层构成;每层所述导电沟槽由导电层以及位于导电层上的释放保护层构成。4.根据权利要求1所述的红外探测器像元结构,其特征在于,所述导电梁由导电层构成;每层所述导电沟槽由导电层构成。5.根据权利要求4所述的红外探测器像元结构,其特征在于,所述导电梁的底部具有凸起。6.根据权利要求1所述的红外探测器像元结构,其特征在于,所述硅衬底表面还具...

【专利技术属性】
技术研发人员:康晓旭
申请(专利权)人:上海集成电路研发中心有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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