【技术实现步骤摘要】
相关申请的交叉引用这一非临时申请根据35U.S.C.§119(a)要求2015年6月30日在日本提交的专利申请号2015-131064的优先权,其整体内容以引用方式并入本文中。
本专利技术涉及用于晶片加工的临时粘合构件,晶片加工用层叠体以及薄晶片的制造方法。
技术介绍
为了获得更高密度及容量,三维半导体封装变得至关重要。三维半导体封装技术是通过打薄半导体芯片,并将这些芯片以多层结构堆叠同时设置穿透硅通孔(TSV)互连体的技术。制造这种封装所需要的工序是:通过研磨基板的非电路形成的表面或背面从而将形成有半导体电路的基板打薄,然后在背面形成TSV和电极。在现有技术中,在研磨硅基板的背面的工序之前,在基板的与要研磨的表面相反的表面上附着一层保护带以防止晶片在研磨工序中破裂。该保护带以有机树脂薄膜为基础,因此具有柔性,但不具有足够的强度和耐热性来耐受TSV形成工序和在背面形成互连体的工序。此后,提出了通过例如粘接层将半导体基板粘合到硅或者玻璃的支撑体上。所得到的体系足以耐受研磨背面的工序以及在背面上形成TSV和电极的工序。用于将基板粘合到支撑体的粘接层对于该系统而言至关重要。该粘接层必须不留间隙地将基板粘合到支撑体,必须有足够的耐久性来耐受后续的工序,并且最后还能使薄晶片容易地从支撑体上释放。该粘接层在本文中称为“临时粘接层”或“临时粘合构件”,因为它在最后被去除。关于临时粘接层及其去除,专利文献1公开了含有吸光剂的粘接剂组合物的层。对该粘接层照射高强度的光以使粘接剂组合物分解,从而可将该层去除。专利文献2公开了包含热熔性烃系化合物的粘接剂组合物的层,其中,该层能 ...
【技术保护点】
一种将晶片临时粘合到支撑体用于晶片加工的构件,所述晶片具有形成电路的前表面和待加工的背面,所述临时粘合构件为复合临时粘接层,所述复合临时粘接层包括热塑性树脂的第一临时粘合层(A);与所述第一临时粘合层邻接设置的、热固性硅氧烷聚合物的第二临时粘合层(B);以及与所述第二临时粘合层邻接设置的、热固性聚合物的第三临时粘合层(C),其中,所述第一临时粘合层(A)是如下组合物的树脂层,所述组合物包括(A‑1)100重量份的热塑性树脂、以及(A‑2)固化催化剂,其量相对于100重量份的组分(A‑1)提供大于0重量份且小于等于1重量份的活性成分,所述热固性硅氧烷聚合物层(B)在与所述层(B)邻接的所述层(A)中的所述固化催化剂的帮助下被固化。
【技术特征摘要】
2015.06.30 JP 2015-1310641.一种将晶片临时粘合到支撑体用于晶片加工的构件,所述晶片具有形成电路的前表面和待加工的背面,所述临时粘合构件为复合临时粘接层,所述复合临时粘接层包括热塑性树脂的第一临时粘合层(A);与所述第一临时粘合层邻接设置的、热固性硅氧烷聚合物的第二临时粘合层(B);以及与所述第二临时粘合层邻接设置的、热固性聚合物的第三临时粘合层(C),其中,所述第一临时粘合层(A)是如下组合物的树脂层,所述组合物包括(A-1)100重量份的热塑性树脂、以及(A-2)固化催化剂,其量相对于100重量份的组分(A-1)提供大于0重量份且小于等于1重量份的活性成分,所述热固性硅氧烷聚合物层(B)在与所述层(B)邻接的所述层(A)中的所述固化催化剂的帮助下被固化。2.根据权利要求1所述的临时粘合构件,其中,所述晶片是在其表面具有10μm~80μm高的台阶的基板。3.根据权利要求1所述的临时粘合构件,其中,组分(A-2)是铂系催化剂。4.根据权利要求1所述的临时粘合构件,其中,所述第二临时粘合层(B)是如下组合物的聚合物层,所述组合物包括(B-1)100重量份的在分子中具有烯基的有机聚硅氧烷、以及(B-2)每分子具有至少两个与硅键合的氢原子(即SiH基)的有机氢聚硅氧烷,所述组分(B-2)的量为使得组分(B-2)中的SiH基与组分(B-1)中的烯基的摩尔比为0.3/1~15/1,所述第二临时粘合层(B)在与所述层(B)邻接的所述层(A)中的所述固化催化剂的帮助下被固化。5.根据权利要求1所述的临时粘合构件,其中,所述第三临时粘合层(C)是如下组合物的聚合物层,所述组合物包括100重量份的含硅氧烷键的聚合物,所述含硅氧烷键的聚合物包括通式(1)的重复单元并且具有3,000~500,000的重均分子量,所述组合物还包括0.1~50重量份的选自由如下物质所组成的组中的交联剂:用甲醛或甲醛-醇改性的氨基缩合物、三聚氰胺树脂、脲醛树脂,每分子具有平均至少两个羟甲基或烷氧基羟甲基的酚化合物,以及每分子具有平均至少两个环氧基的环氧化合物,其中,R1~R4各自独立地为碳原子数1~8的一价烃基,m为1~100的整数,B为正数,A为0或正数,A+B=1,X为具有通式(2)或式(2’)的二价有机基团,其中必须含有具有式(2)的二价有机基团,其中Z为选自如下的二价有机基团:-CH2-,N为0或1,R5和R6各自独立地为碳原子数1~4的烷基或烷氧基,并且k为0、1或2。6.根据权利要求1所述的临时粘合构件,其中,所述第三临时粘合层(C)为如下组合物的聚合物层,所述组合物包括100重量份的含硅氧烷键的聚合物,所述含硅氧烷键的聚合物包括通式(3)的重复单元并且具有3,000~500,000的重均分子量,所述组合物还包括0.1~50重量份的选自由如下物质所组成的组中的交联剂:每分子具有平均至少两个酚基的酚化合物、以及每分子具有平均至少两个环氧基的环氧化合物,其中,R1~R4各自独立地为碳原子数1~8的一价烃基,m为1~100的整数,B为正数,A为0或正数,A+B=1,Y为具有通式(4)或式(2’)的二价有机基团,其中必须含有具有式(4)的二价有机基团,其中,V为选自如下的二价有机基团:-CH2-,p为0或1,R7和R8各自独立地为碳原子数1~4的烷基或烷氧基,并且h为0、1或2。7.一种薄晶片的制造方法,其通过利用权利要求1所述的临时粘合构件将晶片可释放地粘合到支撑体上来制造薄晶片,所述临时粘合构件包括热塑性树脂层(A)、热固性硅氧烷聚合物层(B)和热固性聚合物层(C)的组合,所述晶片具有形成电路的前表面和不形成电路的背面,所述形成电路的表面面向所述支撑体,所述方法包括如下步骤:(a)在所述支撑体上形成聚合...
【专利技术属性】
技术研发人员:田边正人,菅生道博,安田浩之,
申请(专利权)人:信越化学工业株式会社,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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