【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子信息
,尤其涉及一种寄存器读写的测试方法和装置。
技术介绍
随着数字芯片规模的增加、集成度的提高,芯片项目中验证工作的工作量也随之增加。据业界统计,芯片验证工作量约占整个芯片项目开发周期的70%,提高验证效率是缩短项目开发周期的必由之路。研究表明,验证自动化、验证模块标准化已经成为芯片验证领域一个重要的技术方向发展。验证自动化解决了对于数量庞大的验证对象进行相同的、重复性的检测问题,有效地帮助验证工程师避免了大量的简单重复性劳动,节约了验证流程的时间。寄存器读写测试是芯片仿真过程中的一项基本任务。对于不同的验证环境,寄存器读写有不同的测试方式。公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
技术问题有鉴于此,本专利技术要解决的技术问题是,如何提供一种寄存器读写的测试方法和装置,能够自动且高效的测试寄存器的读写性能。解决方案为解决以上技术问题,本专利技术在第一方面提供一种寄存器读写的测试方法,包括:通过Perl脚本提取输入文件 ...
【技术保护点】
一种寄存器读写的测试方法,其特征在于,包括:通过Perl脚本提取输入文件中与寄存器的读写特性相关的信息,所述输入文件包括Excel格式文件;根据所述与寄存器的读写特性相关的信息生成输出文件,所述输出文件包括.h文件和C代码文件;调用所述输出文件,判断所述寄存器的值与所述输入文件中对应的值是否相同,并且在所述判断结果为否时,将所述寄存器的读写判断为存在错误。
【技术特征摘要】
1.一种寄存器读写的测试方法,其特征在于,包括:通过Perl脚本提取输入文件中与寄存器的读写特性相关的信息,所述输入文件包括Excel格式文件;根据所述与寄存器的读写特性相关的信息生成输出文件,所述输出文件包括.h文件和C代码文件;调用所述输出文件,判断所述寄存器的值与所述输入文件中对应的值是否相同,并且在所述判断结果为否时,将所述寄存器的读写判断为存在错误。2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,调用所述输出文件,判断所述寄存器的值与所述输入文件中对应的值是否相同,并且在所述判断结果为否时,将所述寄存器的读写判断为存在错误,包括:判断所述寄存器的值与所述输入文件中的复位值是否相同,并且在所述判断结果为否时,将所述寄存器的读写判断为存在错误,3.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,调用所述输出文件,判断所述寄存器的值与所述输入文件中对应的值是否相同,并且在所述判断结果为否时,将所述寄存器的读写判断为存在错误,包括:提取出读写权限为可读可写类型的寄存器;对所述可读可写类型的寄存器的值赋值为1;对赋值后的所述可读可写类型的寄存器进行读操作;判断读取出的所述可读可写类型的寄存器的值是否为1,并且在判断结果为否时,将所述寄存器的读写判断为存在错误。4.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,调用所述输出文件,判断所述寄存器的值与所述输入文件中对应的值是否相同,并且在所述判断结果为否时,将所述寄存器的读写判断为存在错误,包括:提取出读写权限为可读可写类型的寄存器;对所述可读可写类型的寄存器的值赋值为0;对赋值后的所述可读可写类型的寄存器进行读操作;判断读取出的所述可读可写类...
【专利技术属性】
技术研发人员:梅张雄,郭涛,
申请(专利权)人:北京联盛德微电子有限责任公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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