一种自动刷卡测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种自动刷卡测试装置，包括IC卡、开关模块及控制模块。所述IC卡包括芯片与线圈，所述芯片与所述线圈之间电性连接。所述开关模块设置在所述IC卡中，所述开关模块用于控制所述芯片与所述线圈之间断开或者连通。所述控制模块与所述开关模块电性连接，所述控制模块用于控制所述开关模块断开或导通、并用于记录所述开关模块通断次数。上述的自动刷卡测试装置，无需人为记录刷卡测试次数，相对于现有技术中的自动刷卡测试装置，省去了电机等复杂的机械结构，结构极其简单，大小几乎和普通的IC卡大小一样，近似于纯电子电路，并具有对刷卡机老化测试的相同功能，可实现持续长时刷卡测试，能提高测试装置的稳定性，且成本较为低廉。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及刷卡机的刷卡测试
，尤其是涉及一种自动刷卡测试装置。
技术介绍
传统的自动刷卡测试装置，分为圆周转动IC卡片使IC卡片移动靠近或远离刷卡机的刷卡方式与来回直线移动IC卡片使IC卡片移动靠近或远离刷卡机的刷卡方式。其中，圆周转动IC卡片刷卡方式的自动刷卡测试装置包括电机、转轴和转架。在转架上装设IC卡片，通过电机驱动转轴带动转架转动从而使得IC卡片靠近或远离刷卡机产品。当转架带动IC卡片靠近刷卡机产品在刷卡机感应范围内时，即实现一次测试；而当转架带动IC卡片远离刷卡机产品在刷卡机感应范围外时，则将刷卡机产品与IC卡片之间断开以用于下一次重新刷卡测试。同样的，来回直线移动IC卡片刷卡方式的自动刷卡测试装置包括直线驱动机构、滑动轨道与卡片夹具。卡片夹具装设有IC卡片，通过直线驱动机构驱动卡片夹具沿着滑动轨道来回移动。当卡片夹具带动IC卡片靠近刷卡机产品在刷卡机感应范围内时，即实现一次测试；而当卡片夹具带动IC卡片远离刷卡机产品在刷卡机感应范围外时，则将刷卡机产品与IC卡片之间断开以用于下一次重新刷卡测试。上述的圆周转动IC卡片刷卡方式的自动刷卡测试装置，或者来回直线移动IC卡片刷卡方式的自动刷卡测试装置，虽然能够实现自动测试刷卡机产品，但是均具有如下缺陷：1、自动刷卡测试装置的结构复杂，制作难度高，成本较高；2、电机在进行长久测试时，易发生电机卡死，计数失灵现象，造成测试不准确；3、测试装置适应性差，在测试不同刷卡机产品时，由于刷卡机产品体积大小不同，如此需要改装装置结构，增加工时。
技术实现思路
基于此，本技术在于克服现有技术的缺陷，提供一种自动刷卡测试装置，它外形结构简单、并能实现长时间刷卡测试。其技术方案如下：一种自动刷卡测试装置，包括：IC卡，所述IC卡包括芯片与线圈，所述芯片与所述线圈之间电性连接；开关模块，所述开关模块设置在所述IC卡中，所述开关模块用于控制所述芯片与所述线圈之间断开或者连通；及控制模块，所述控制模块与所述开关模块电性连接，所述控制模块用于控制所述开关模块断开或导通、并用于记录所述开关模块通断次数。在其中一个实施例中，还包括第一显示模块，所述第一显示模块与所述控制模块相连，所述第一显示模块用于将所述控制模块记录的所述开关模块通断次数进行显示。在其中一个实施例中，所述控制模块包括第一驱动电路，所述第一显示模块为第一数码管，所述第一驱动电路与所述第一数码管相连，所述第一驱动电路用于控制所述第一数码管将所述开关模块通断次数进行显示。在其中一个实施例中，还包括开锁电压获取模块，所述开锁电压获取模块与刷卡机的开锁电压输出端、及所述控制模块相连，所述开锁电压获取模块用于获取所述刷卡机的开锁信号、并将所述开锁信号发送给所述控制模块，所述控制模块用于根据所述开锁信号记录所述刷卡机的开锁次数。在其中一个实施例中，还包括第二显示模块，所述第二显示模块与所述控制模块相连，所述第二显示模块用于将所述控制模块记录的所述刷卡机的开锁次数进行显示。在其中一个实施例中，所述控制模块包括第二驱动电路，所述第二显示模块为第二数码管，所述第二驱动电路与所述第二数码管相连，所述第二驱动电路用于控制所述第二数码管将所述刷卡机开锁次数进行显示。在其中一个实施例中，所述开关模块为继电器，所述芯片通过所述继电器与所述线圈相连。在其中一个实施例中，还包括主控电路板，所述主控电路板设有所述控制模块与所述IC卡，所述主控电路板连接有支撑柱，所述支撑柱的长度可调节。在其中一个实施例中，所述主控电路板设有若干个按键模块，所述按键模块与所述控制模块相连。下面结合上述技术方案对本技术的原理、效果进一步说明：1、上述的自动刷卡测试装置，通过在IC卡的芯片与线圈之间设置有开关模块，并通过控制模块控制开关模块通断，当控制模块控制开关模块导通时，线圈与芯片之间相应连通，刷卡机便能够将感应范围内的IC卡识别，实现刷卡机的一次测试；而当控制模块控制开关模块断开后，线圈与芯片之间相应断开，刷卡机便不能识别感应范围内的IC卡，并在下一次开关模块导通时识别IC卡以进行下一次刷卡测试。另外，控制模块能够将开关模块的通断次数进行记录，开关模块的通断次数为刷卡机的刷卡次数，如此无需人为记录刷卡测试次数。可见，本技术，相对于现有技术中的自动刷卡测试装置，省去了电机等复杂的机械结构，结构极其简单，大小几乎和普通的IC卡大小一样，近似于纯电子电路，并具有对刷卡机老化测试的相同功能，可实现持续长时刷卡测试，能提高测试装置的稳定性，且成本较为低廉。2、自动刷卡测试装置包括第一显示模块。第一显示模块与控制模块相连，第一显示模块用于将记录的开关模块通断次数进行显示。通过第一显示模块将开关模块通断次数进行显示，这样无需人为读取控制模块中记录的开关模块通断次数，测试人员便于快速得知刷卡机的刷卡次数。3、当刷卡机感应到IC卡后，刷卡机的开锁电压输出端将产生开锁电压。开锁电压获取模块获取到刷卡机的开锁电压输出端所输出的开锁电压信号后，便能够得知刷卡机是否刷卡成功。控制模块根据开锁信号记录刷卡机的开锁次数便是刷卡机成功刷卡的次数。将控制模块记录的开关模块通断次数与刷卡机的开锁次数进行比对，便可以得知刷卡机是否有漏刷或者刷卡机因为多次刷卡后系统死机的状况。4、自动刷卡测试装置包括第二显示模块。第二显示模块与控制模块相连，第二显示模块用于将记录的刷卡机的开锁次数进行显示。通过第二显示模块将刷卡机的开锁次数进行显示，这样无需人为读取控制模块中记录的刷卡机的开锁次数，测试人员便于快速得知刷卡机的开锁次数。5、主控电路板设有可调节高度的支撑柱，通过调节支撑柱的高度便能相应改变IC卡相对于刷卡机的感应区的距离。如此，本技术能实现IC卡相对于刷卡机不同距离下的刷卡测试，且在对不同的刷卡机产品进行刷卡测试时，不需要因为刷卡机产品外在形状的问题而对自动刷卡测试装置的结构进行改动。附图说明图1为本技术实施例所述自动刷卡测试装置结构示意图一；图2为本技术实施例所述自动刷卡测试装置结构示意图二；图3为本技术实施例所述自动刷卡测试装置结构示意图三；图4为本技术实施例所述自动刷卡测试装置结构示意图四；图5为本技术实施例所述自动刷卡测试装置结构示意图五；图6为本技术实施例所述自动刷卡测试装置工作状态示意图。附图标记说明：10、IC卡，11、芯片，12、线圈，20、开关模块，30、控制模块，40、第一显示模块，41、第一数码管，50、开锁电压获取模块，60、第二显示模块，61、第二数码管，70、按键模块，80、主控电路板，81、支撑柱，82、第一按键，83、第二按键，84、第三按键，90、刷卡机，91、感应区。具体实施方式下面对本技术的实施例进行详细说明：如图1所示，本技术所述的自动刷卡测试装置，包括IC卡10、开关模块20及控制模块30。所述IC卡10包括芯片11与线圈12，所述芯片11与所述线圈12之间电性连接。当IC卡10靠近刷卡机90(如图6所示)后，刷卡机90的射频读写器向IC卡10发射一组固定频率的电磁波。线圈12感应到该固定频率的电磁波后便产生电压，以驱动芯片11向刷卡机90发送开锁信号。刷卡机90接收到该开锁信号后，便会产生本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动刷卡测试装置，其特征在于，包括：IC卡，所述IC卡包括芯片与线圈，所述芯片与所述线圈之间电性连接；开关模块，所述开关模块设置在所述IC卡中，所述开关模块用于控制所述芯片与所述线圈之间断开或者连通；及控制模块，所述控制模块与所述开关模块电性连接，所述控制模块用于控制所述开关模块断开或导通、并用于记录所述开关模块通断次数。

【技术特征摘要】
1.一种自动刷卡测试装置，其特征在于，包括：IC卡，所述IC卡包括芯片与线圈，所述芯片与所述线圈之间电性连接；开关模块，所述开关模块设置在所述IC卡中，所述开关模块用于控制所述芯片与所述线圈之间断开或者连通；及控制模块，所述控制模块与所述开关模块电性连接，所述控制模块用于控制所述开关模块断开或导通、并用于记录所述开关模块通断次数。2.根据权利要求1所述的自动刷卡测试装置，其特征在于，还包括第一显示模块，所述第一显示模块与所述控制模块相连，所述第一显示模块用于将所述控制模块记录的所述开关模块通断次数进行显示。3.根据权利要求2所述的自动刷卡测试装置，其特征在于，所述控制模块包括第一驱动电路，所述第一显示模块为第一数码管，所述第一驱动电路与所述第一数码管相连，所述第一驱动电路用于控制所述第一数码管将所述开关模块通断次数进行显示。4.根据权利要求1所述的自动刷卡测试装置，其特征在于，还包括开锁电压获取模块，所述开锁电压获取模块与刷卡机的开锁电压输出端、及所述控制模块相连，所述开锁电压获取模块用于获取所述刷卡机的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭海泽，郭彦涛，
申请(专利权)人：广东安居宝数码科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44