一种SD卡的数据检测方法及系统及外接SD卡的卡槽技术方案

本发明专利技术提供一种SD卡的数据检测方法及系统及外接SD卡的卡槽，包括：步骤S10利用IO控制器开启外接SD卡处于工作状态；步骤S20获取用户向所述外接SD卡输入预设的工作时钟频率；步骤S40根据用户输入的所述预设的工作时钟频率，向所述外接SD读写预设的容量的数据信息；步骤S50检测所述外接SD卡读写的数据信息一致性；当一致时，执行步骤S60；步骤S60利用所述IO控制器关闭外接SD卡的工作状态。本发明专利技术将原有检测模式进行改变，通过对SD卡卡槽控制接口的创新，模拟对SD卡开启与断开，实现了SD卡采样时序延迟的自动化测试，节省了人力以及时间成本，缩短了产品研发周期。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路检测的
，特别是涉及一种SD卡的数据检测方法及系统及外接SD卡的卡槽。
技术介绍
随着各种多媒体娱乐内容的丰富，消费者对所用的电子产品的储存容量要求越来越高，SD卡作为储存装置已被广泛应用于各种电子设备中，其要么作为产品内置的储存装置；要么作为其扩展储存装置，即在电子产品的本体上设有SD接口，如需电子产品与外部设备互换数据或增加电子产品本身储存容量时，就可以直接将SD卡插入电子产品上的SD卡接口即可。为了保证SD卡工作稳定可靠，生产时，生产厂商一般都要对SD卡采样时序进行测试，目前市场上对SD卡接口测试都是直接利用SD卡插入接品进行测试。这种方式对于研发以及成品阶段都存在不足：首先，不同电子产品其系统的读写频率不同，当接入外接SD卡存在读写数据发生错误的现象；其次，研发以及成品验收阶段，图形在测试卡槽不同插拔，造成SD卡容易磨损或烧毁，增加测试成本；再次，由于SD卡体积很小，测试人员操作很不方便，不易管理。
技术实现思路
本专利技术目的是提供一种SD卡的数据检测方法及系统，其目的是能够实现在研发或者成品阶段对SD卡采样时序延迟的数据信息读写自动化测试，能够节约测试成本、便于管理、安全可靠。本专利技术提供的技术方案如下：一种SD卡的数据检测方法，包括：步骤S10利用IO控制器开启外接SD卡处于工作状态；步骤S20获取用户向所述外接SD卡输入预设的工作时钟频率；步骤S40根据用户输入的所述预设的工作时钟频率，向所述外接SD读写预设的容量的数据信息；步骤S50检测所述外接SD卡读写的数据信息一致性；当一致时，执行步骤S60。步骤S60利用所述IO控制器关闭外接SD卡的工作状态。进一步优选的，所述步骤S40之前还包括：步骤S30根据用户输入的所述预设的工作时钟频率，设置所述外接SD卡读写数据信息的时序延时参数。进一步优选的，所述步骤S50包括：步骤S51从所述外接SD卡中提取写入的预设的字节段内的所述数据信息中样本数据；步骤S52从所述外接SD卡中提取读出的所述预设的字节段内的所述样本数据；步骤S53将所述步骤S51提取写入所述样本数据与所述步骤S52提取读出所述样本数据进行比对；当至少有一个写入和读出对应的字节段所述样本数据比对不一致时，返回执行步骤S30。进一步优选的，当向所述外接SD卡读写数据信息时包括：当向所述外接SD卡读数据信息时，停止向所述外接SD写数据信息；当向所述外接SD卡写数据信息时，停止向所述外接SD读数据信息。进一步优选的，还包括：利用所述IO控制器的GPIO输出的电平控制所述外接SD卡工作状态。一种SD卡的数据检测方法的检测系统，包括：SD卡开启模块，用于利用IO控制器开启外接SD卡处于工作状态；频率获取模块，当所述外接SD卡处于工作状态时，用于获取用户向所述外接SD卡输入预设的工作时钟频率；数据读写模块，根据所述频率获取模块获取的预设的工作时钟频率，用于向所述外接SD读写预设的容量的数据信息；数据检测模块，用于判断所述数据读写模块读写的数据信息是否一致；SD卡关闭模块，当所述数据检测模块检测数据信息一致时，利用所述IO控制器关闭外接SD卡的工作状态。进一步优选的，包括：信息设置模块，分别与所述频率获取模块、所述数据读写模块电连接，用于设置所述外接SD卡读写数据信息的时序延时参数。进一步优选的，所述数据检测模块包括：第一样本数据提取子模块，用于从所述外接SD卡中提取写入的预设的字节段内的所述数据信息中样本数据；第二样本数据提取子模块，用于从所述外接SD卡中提取读出的所述预设的字节段内的所述样本数据；样本数据比对子模块，用于将所述第一样本数据提取子模块提取的样本数据与所述第二样本数据提取子模块提取的所述样本数据进行比对；当所述样本数据比对的结果不一致时，所述信息设置模块再次设置所述时序延时参数。一种外接SD卡的卡槽，包括：外接SD卡设置在专用的外接SD卡卡槽内，在所述卡槽内设置连通触点，与所述外接SD卡电连接的分别为工作始终频率触点，数据读写触点；所述外接SD卡的DET触点与IO控制电连接，用于控制所述外接SD的工作状态。通过本专利技术提供的一种SD卡的数据检测方法及系统及外接SD卡的卡槽，能够带来以下至少一种有益效果：1、本专利技术通过对外接SD工作时钟频率的设置，在此条件下判断SD卡读写数据能力，根据写入的数据与读出的数据判断一致性，以此判断当前待检测的SD卡的工作参数是否匹配正确，实现了SD卡的自动化测试。2、本专利技术中针对SD卡读写的数据信息的检测，是按照设定的在延迟参数范围内对应字节的检测，当至少一个字节对比不一致时，停止在该延迟参数下检测工作，重新设置延迟参数，而延迟参数的设置是按照从小到大的顺序进行的，保障SD卡工作时有最大的延迟性，同时保障数据读写的安全可靠。3、本专利技术将原有检测模式进行改变，通过对SD卡卡槽控制接口的创新，模拟对SD卡开启与断开，实现了SD卡采样时序延迟的自动化测试，节省了人力以及时间成本，缩短了产品研发周期，并且在采用抽象层的封装后，具有很高的安全性，在自动化测试中不会由于无意识错误导致系统崩溃造成软硬件的破坏。附图说明下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种SD卡的数据检测方法及系统及外接SD卡的卡槽的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。图1是本专利技术一种SD卡的数据检测方法的实施例的流程图；图2是本专利技术一种SD卡的数据检测方法的另一实施例的流程图；图3是本专利技术一种SD卡的数据检测方法的另一实施例的流程图；图4是本专利技术一种SD卡的数据检测系统的实施例的结构图；图5是本专利技术一种SD卡的数据检测系统的另一实施例的结构图；图6是本专利技术一种SD卡的数据检测系统的另一实施例的结构图；图7是本专利技术一种SD卡的卡槽的实施例的电路图；图8是本专利技术一种SD卡的卡槽的另一实施例的电路图。具体实施方式为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本专利技术的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本专利技术相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。本专利技术提供一种SD卡的数据检测方法的实施例，参考图1所示；包括：步骤S10利用IO控制器开启外接SD卡处于工作状态；步骤S20获取用户向所述外接SD卡输入预设的工作时钟频率；步骤S40根据用户输入的所述预设的工作时钟频率，向所述外接SD读写预设的容量的数据信息；步骤S50检测所述外接SD卡读写的数据信息一致性；当一致时，执行步骤S60。步骤S60利用所述IO控制器关闭外接SD卡的工作状态。具体的，本实施例中，利用CPU的IO端口的高低电平控制外接SD卡的工作状态，当进入测试模式时，CPU的IO控制发送高电平，设置SD卡的源头工作频率，根据设定的工作频率向SD卡进行数据的读写操作，并设定读写数据的数量向SD本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种SD卡的数据检测方法，其特征在于，包括：步骤S10利用IO控制器开启外接SD卡处于工作状态；步骤S20获取用户向所述外接SD卡输入预设的工作时钟频率；步骤S40根据用户输入的所述预设的工作时钟频率，向所述外接SD读写预设的容量的数据信息；步骤S50检测所述外接SD卡读写的数据信息一致性；当一致时，执行步骤S60；步骤S60利用所述IO控制器关闭外接SD卡的工作状态。

【技术特征摘要】
1.一种SD卡的数据检测方法，其特征在于，包括：步骤S10利用IO控制器开启外接SD卡处于工作状态；步骤S20获取用户向所述外接SD卡输入预设的工作时钟频率；步骤S40根据用户输入的所述预设的工作时钟频率，向所述外接SD读写预设的容量的数据信息；步骤S50检测所述外接SD卡读写的数据信息一致性；当一致时，执行步骤S60；步骤S60利用所述IO控制器关闭外接SD卡的工作状态。2.根据权利要求1所述的SD卡的数据检测方法，其特征在于，所述步骤S40之前还包括：步骤S30根据用户输入的所述预设的工作时钟频率，设置所述外接SD卡读写数据信息的时序延时参数。3.根据权利要求2所述的SD卡的数据检测方法，其特征在于，所述步骤S50包括：步骤S51从所述外接SD卡中提取写入的预设的字节段内的所述数据信息中样本数据；步骤S52从所述外接SD卡中提取读出的所述预设的字节段内的所述样本数据；步骤S53将所述步骤S51提取写入所述样本数据与所述步骤S52提取读出所述样本数据进行比对；当至少有一个写入和读出对应的字节段所述样本数据比对不一致时，返回执行步骤S30。4.根据权利要求3所述的SD卡的数据检测方法，其特征在于，当向所述外接SD卡读写数据信息时包括：当向所述外接SD卡读数据信息时，停止向所述外接SD写数据信息；当向所述外接SD卡写数据信息时，停止向所述外接SD读数据信息。5.根据权利要求1-4任一所述的SD卡的数据检测方法，其特征在于，还包括：利用所述IO控制器的GPIO输出的电平控制所述外接SD卡工作状态。6.一种可执行权利要求1-5任一所述的SD卡的数据检测方法的检测系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：柴灿，孙伟，王大岁，
申请(专利权)人：上海盈方微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31