介质隔离式压力传感器制造技术

技术编号:14326342 阅读:89 留言:0更新日期:2017-01-01 12:45
一种介质隔离式压力传感器包括压力感测元件和顶盖。压力感测元件包括具有埋置密封腔体的键合晶片衬底。埋置密封腔体的壁形成感测隔膜。一个或更多个感测元件由感测隔膜支撑,以及一个或更多个键合焊盘由键合晶片衬底的上侧支撑。键合焊盘分别定位成邻近感测隔膜并且电连接到一个或更多个感测元件。顶盖可固定至键合晶片衬底的上侧使得顶盖中的孔有助于介质以向下方向穿过至感测隔膜。顶盖也可配置成使键合焊盘与介质隔离。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】相关申请的交叉引用本申请要求于2014年8月提交的国际申请号为PCT/US2014/052604的,题为“MEDIAISOLATED PRESSURE SENSOR”的国家阶段的优先权,其要求2013年9月12日提交的美国专利申请序列号14/024,919,题为“MEDIA ISOLATED PRESSURE SENSOR”的优先权,这两者均整体上通过引用并入本文中。
本申请大体涉及压力传感器,以及更确切地,涉及介质隔离式压力传感器
技术介绍
压力传感器使用在多种多样的应用中,例如包括商业的、机动车辆的、航天的、工业的和医学的应用。压力传感器经常使用压力感测芯片,其使用芯片附接工艺安装到压力传感器封装。压力感测芯片经常配置成通过将压力感测芯片的感测隔膜中由被感测介质所感测的机械应力转换成电输出信号的方式来检测被感测介质的压力。用于高压应用的压力传感器的最常见构型允许将流体压力施加到压力感测芯片的顶侧,同时允许待感测的流体与传感器的电子部件接触。如果流体是惰性气体,则此类构型可以是足够的。然而,在一些应用中,被感测的介质可能是腐蚀性的或传导性的,并且显露至待感测流体会导致对压力传感器芯片的一些部件的损害和/或可导致压力感测芯片中一些电子部件的短路。针对这些应用,可期望使压力传感器芯片的敏感部件与待感测介质隔离。而且,针对更高压力的应用,期望将压力感测芯片安装至压力传感器封装,使得介质所引入的向下的压力不会导致芯片附接失效,而此失效是在将高压应用至传感器背侧时传感器的常见的缺点。允许对感测芯片施加向下的压力以及也能将压力感测芯片的敏感部件与待感测介质隔离开的传感器构造可提供稳健的压力传感器,其能够应用在多种环境中。
技术实现思路
本申请大体涉及压力传感器,以及更确切地,涉及介质隔离式压力传感器。压力传感器示例可包括压力感测元件和顶盖。压力感测元件可包括具有埋置密封腔体的键合(bonded)晶片衬底。埋置密封腔体的壁可形成沿着键合晶片衬底上侧的感测隔膜。一个或更多个感测元件可由键合晶片衬底的感测隔膜所支撑,以及一个或更多个键合焊盘(bond pad)可由键合晶片衬底的上侧所支撑。一个或更多个键合焊盘分别定位成邻近感测隔膜并且电连接到一个或更多个感测元件。顶盖可固定至键合晶片衬底的上侧,使得顶盖中的孔有助于介质穿过至感测隔膜。顶盖也可配置成将压力感测元件的一个或更多个键合焊盘与介质隔离。制造压力传感器的方法可包括获得具有埋置密封腔体的键合晶片衬底,其中,埋置密封腔体的壁形成沿键合晶片衬底的上侧上的感测隔膜。可在键合晶片衬底的感测隔膜上提供一个或更多个感测元件。可以在键合晶片衬底的上侧上提供一个或更多个键合焊盘。一个或更多个键合焊盘可分别定位成邻近感测隔膜并且电连接到感测元件中的一个或更多个。顶盖可固定至键合晶片衬底的上侧。顶盖可包括有助于介质穿过至感测隔膜的孔。顶盖也可配置成使一个或更多个键合焊盘在使用期间与介质隔离。提供前述的
技术实现思路
来帮助理解针对本申请特有的一些创新性特征,且并不旨在是完整的说明。能够通过整体上结合说明书、权利要求书、附图和摘要来获得对本公开的充分理解。附图说明通过结合相应的附图来考虑如下的多种说明性实施例,可更完整地理解本公开,其中:图1是说明性的介质隔离式压力传感器的透视图;图2是图1中所示的压力传感器的分解图;图3是图1中所示的压力传感器的截面图;图4是可使用在图1的压力传感器中的压力感测元件的示意性的顶视图;以及图5是可使用在图1的压力传感器中的顶盖晶片的示意性的顶视图。虽然本公开能够接受多种修改和可替代形式,其特性已经以示例的方式在附图中示出并且将进行详细说明。然而,应该理解到,其并不旨在将本公开的各个方面限于所描述的特定的说明性的实施例。相反地,其旨在覆盖落入本公 开的精神和范围内的所有修改、等效方案和可替代方案。具体实施方式以下说明应该参考附图进行阅读,其中贯穿这几个视图中相同的附图标记指示相同的元件。说明书和附图(其不一定按比例绘制)描述了说明性的实施例,且并不旨在限制本公开的范围。所描述的说明性实施例仅旨在是示例性的。如此处所使用的,术语“流体”不旨在限于液体。而且,术语“流体”旨在包括任何可流动的材料种类,例如但不限于液体和/或气体。图1-3提供用于感测液体或气体的压力的说明性的介质隔离式参考压力传感器10的不同视图。图1是说明性的介质隔离式参考压力传感器10的透视图。图2和图3分别是图1中参考压力传感器10的分解图和截面图。可以预期的是,如此文中所述的,参考压力传感器10可适用于高压应用中。高压应用可以是压力超过250psi的那些应用。虽然此处描述的压力传感器10可提供用于高压应用的更鲁棒的传感器设计,但是仍将通常理解到,此类压力传感器10还可用于低压应用中。说明性的介质隔离式参考压力传感器10可包括附接到顶盖20的压力端口14,该顶盖可联接到压力感测元件,例如压力感测芯片24。在一些情况下,压力感测芯片24可使用具有埋置密封腔体64的键合硅晶片来制造。埋置密封腔体64可根据需要具有真空参考压力或任何其它合适的参考压力。当如此设置时,键合的硅晶片可形成感测隔膜60,其以埋置密封腔体64中的参考压力作为参考。感测隔膜60可响应于介质所施加的压力被施加应力和/或产生形变。此应力和/或形变能够由位于感测隔膜60上或嵌在其中的一个或更多个感测元件80检测到。与所施加的压力相关的输出信号可经由一个或更多个键合焊盘34来提供。顶盖20可键合到压力感测芯片24,使得位于压力感测芯片24的上表面38上的引线键合焊盘(wire bond pad)34与待检测介质隔离。虽然不是必需的,压力传感器10可以如此构造,使得来自待感测介质的压力施加至如所示的压力感测芯片24的上表面38,其可以迫使压力感测芯片24朝向合适的托架26(见图1),例如陶瓷托架、玻璃托架、印刷电路板(PCB)。向压力感测芯片24的上表面38和托架26施加向下的压力可防止或减少压力感测芯片24从托架26移位的可能性,并且可引起压力感测芯片24与托架26之间的芯片键合界面处的拉开作用力很小或没有,这样可提供能够承受更高压力的更鲁棒的传感器。 这在高压应用中是尤其有用的,例如超过250psi的那些应用。如图1-3中所示,压力端口14可限定流体通道42,该流体通道42允许介质(流体或气体)从第一端46至第二端48流入压力传感器10。在许多情况下,流体通道42可引导介质,使得介质接触压力感测芯片24的上侧38,如将在下文更详细说明的。在一些情况下,压力端口14可包括伸长的管状结构52,其限定流体通道42。在一些情况下,伸长的管状结构52可包括弯管,其根据应用具有弯曲的或一些其它构型或形状。无论具有何种构型,流体通道42可引导流体流至压力感测芯片24,使得其接触压力感测芯片24的上表面38。压力端口14可由金属、陶瓷、玻璃、热塑性和/或任何其它合适的材料或材料组合所形成。在一些情况下,压力端口14可以是注塑模制的、热塑性压力端口14,但这并非必需的。在一些情况下,根据所期望的应用,流体通道42的第一端46处的开口包括多种接口选项和/或连接。例如在一种情况下,压力端口14可包括位于第一端46处的本文档来自技高网
...
介质隔离式压力传感器

【技术保护点】
一种介质隔离式压力传感器,其包括:压力感测元件,其包括:键合晶片衬底,其具有埋置密封腔体,其中所述埋置密封腔体的壁形成沿着所述键合晶片衬底的上侧上的感测隔膜;一个或更多个感测元件,其由所述键合晶片衬底的所述感测隔膜支撑;一个或更多个键合焊盘,其由所述键合晶片衬底的上侧支撑,一个或更多个键合焊盘分别定位成邻近所述感测隔膜并且电连接到一个或更多个感测元件中的一个或更多个;以及顶盖,其包括孔,所述顶盖相对于所述键合晶片衬底的上侧固定,使得所述孔有助于介质沿向下方向穿过至所述感测隔膜,所述顶盖能够进一步配置成使所述压力感测元件的所述一个或更多个键合焊盘与所述介质隔离。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.09.12 US 14/0249191.一种介质隔离式压力传感器,其包括:压力感测元件,其包括:键合晶片衬底,其具有埋置密封腔体,其中所述埋置密封腔体的壁形成沿着所述键合晶片衬底的上侧上的感测隔膜;一个或更多个感测元件,其由所述键合晶片衬底的所述感测隔膜支撑;一个或更多个键合焊盘,其由所述键合晶片衬底的上侧支撑,一个或更多个键合焊盘分别定位成邻近所述感测隔膜并且电连接到一个或更多个感测元件中的一个或更多个;以及顶盖,其包括孔,所述顶盖相对于所述键合晶片衬底的上侧固定,使得所述孔有助于介质沿向下方向穿过至所述感测隔膜,所述顶盖能够进一步配置成使所述压力感测元件的所述一个或更多个键合焊盘与所述介质隔离。2.如权利要求1所述的介质隔离式压力传感器,其中,所述键合晶片衬底包括:第一衬底;第二衬底;所述第一衬底键合至所述第二衬底,使得形成在所述第一衬底和/或第二衬底中的凹部产生所述第一衬底与所述第二衬底之间的埋置密封腔体;以及所述第一衬底限定所述感测隔膜,所述感测隔膜形成所述密封腔体的一部分。3.如权利要求1或2中任一项所述的介质隔离式压力传感器,其进一步包括与所述孔流体连通的压力端口,其中,所述压力端口和孔至少部分地限定介质流动路径,...

【专利技术属性】
技术研发人员:R·A·戴维斯C·斯图尔特
申请(专利权)人:霍尼韦尔国际公司
类型:新型
国别省市:美国;US

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1