发光设备和照明方法技术

技术编号:14104499 阅读:73 留言:0更新日期:2016-12-05 01:09
本发明专利技术涉及一种发光设备(1)和照明方法,设备具有:用于发射至少一个初级光射束(P)的至少一个半导体光源(2);使至少一个初级光射束(P)偏转到发光材料体(4)上的偏转装置(3),该装置(3)能占据多个位置,使至少一个初级光射束(P)偏转到发光材料体(4)上的各所属不同位置上;用于探测由发光材料体(4)发射的光(P,S)的至少一个光探测器(6);和评估装置(7),其设置用于:(a)根据至少一个光探测器(6)生成的至少一个测量信号(M)识别发光材料体(4)的损坏(C);并用于(b)使至少一个测量信号(M)与偏转装置(3)的至少一个所属位置关联。本发明专利技术能特别用于投射设备、如车辆前大灯、舞台聚光灯等。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种发光设备和照明方法,发光设备具有:用于发射至少一个初级光射束的至少一个半导体光源,用于使至少一个初级光射束偏转到发光材料体上的各个所属的不同的位置上的偏转装置,和用于探测由发光材料体发射的光的至少一个光探测器。本专利技术能特别用于投射设备、如车辆前大灯、舞台聚光灯等。
技术介绍
稳定的LARP(“Laser Activated Remote Phosphor,激光激活远程荧光粉”)系统是已知的,其中,波长转变的发光材料大规模地被稳定的蓝色激光束(“初级光”)照射,并且在此过程中该激光束部分地转变为黄色的光(“次级光”)。未转变的蓝色初级光和转变的黄色次级光一起得出白色的混合光。如果发光材料损坏或者甚至是完全从光路中移除,那么初级光就会有很大部分地并且此外相关地(kohaerent)从LARP系统中溢出。为了阻止这样的事情已知的是,安装两个光探测器,它们对于初级光或者次级光敏感,并且能够从其测量信号的强度的关系中指示发光材料的失效。如果确定了失效,那么就能够关断LARP系统(“安全关断”),或者减小初级光的光通量,以维持安全规定(“紧急光运行”)。然而,该方法具有的缺点在于,小的损坏是会很难探测到的,并且对损坏的反应实际上导致了LARP系统的功能性中断。WO 2015/000006A1公开了一种具有至少一个激光源的车辆前大灯,其激光束经由能绕着至少一个轴偏转的微型反射镜偏转到具有光转换荧光粉的发光面,以便在其上扫描地生成发光图像,该发光图像能经由光学系统投射到车道上。在该前大灯中,至少一个图像传感器关于具有光转换荧光粉的发光面如此定位,即,其在微型反射镜的预先确定的偏转位置中检测从发光面出发的次级激光束,并且设置用于发出信号。
技术实现思路
本专利技术的目的在于,至少部分地克服现有技术的缺点,并且特别地提供具有至少一个半导体光源和发光材料体的发光设备,其能够实现对发光材料体的损坏的更好反应。该目的通过一种发光设备实现,其具有:用于发射至少一个初级光射束的至少一个半导体光源,用于使至少一个初级光射束偏转到发光材料体上的各个所属的不同的位置上的偏转装置,用于探测由发光材料体发射的光的至少一个光探测器,和评估装置,其设置用于:(a)根据由至少一个光探测器生成的至少一个测量信号识别发光材料体的损坏;并且(b)使至少一个测量信号与偏转装置上的至少一个位置相关联。该发光设备具有的优点在于,其能够以简单的方式定位发光材料体上的损坏的位置(即能够实现对发光材料体上的缺陷区域的更好的位置解析),并且例如取决于损坏的类型和/或大小地激活合适的行为。特别地,有可能是成本有利的,这是因为实际上未位置解析的光探测以简单的方式与位置信息相关联,以便能够以较高的精度确定发光材料体的损坏的位置。优选地,至少一个半导体光源包括至少一个激光器。该激光器能够是二极管激光器。至少一个半导体光源也能够具有至少一个发光二极管。特别地,半导体光源发送蓝色的初级光,特别是具有例如440nm的波长。初级光射束的直径通常明显小于发光材料体的能被其照亮的面积。偏转装置能够具有至少一个能运动的镜子。至少一个能运动的镜子能够具有至少一个能转动或者能摆动的镜子,然而附加地或者可替换地也能是能移动的。能转动的镜子能够占据多个角度位置形式的位置。至少一个镜子能够为了其运动而步进地或者连续地运动。特别地,至少一个镜子能够是共振运行或运动的镜子,例如MEMS(“Mikro-Elektro-Mechanisches System,微电子机械系统”)或者DMD(“Digital Mirror Device”,数字镜装置)。偏转装置除了至少一个能运动的镜子之外还能够具有另外的光学元件,比如至少一个透镜。一个改进方案在于,至少一个能运动的镜子正好是一个镜子,这能够实现特别简单的结构。特别地,这样的镜子能绕着两个相互垂直的旋转轴偏转或转动,例如绕着x轴和y轴。还有一个改进方案在于,至少一个能运动的镜子包括多个能运动的镜子。它们能够将初级光射束例如沿各个不同的空间方向偏转,例如用于光发射模型的行或纵型结构。因此能够存在每旋转轴各一个能转动的镜子,例如用于x轴的能转动的镜子和下游的用于y轴的能转动的镜子,或者反之亦然。这样的镜子是能特别简单实施的。通过偏转装置,至少一个初级光射束也能够轨迹式地扫过发光材料体,或者在发光材料体上通过初级光射束生成的光斑能够在发光材料体上拉划出一个轨迹。这也能够被称为“扫描的”布置。该轨迹能够例如对应于行或纵型照明或者利萨佐斯图形(Lissajousfigur)。然而在此,初级光射束并不能够持续地接通,而是能够为了生成图像模型也在照明和不照明阶段之间交替。然而,至少一个初级光射束或者至少一个所属的半导体光源也能够接通,以得到发光材料体的均匀照亮。例如,初级光射束能够在照亮发光材料体时借助于闭合的图形(例如利萨佐斯图形)持续地接通。其能够在行或纵型照明中也持续接通直至返回到行或纵开端。与发光材料体的稳定的大规模的照明相比,发光材料体通过至少一个初级光射束的轨迹式的照明能够以简单的方式实现对局部损坏的探测。为了显示所期望的图像模型、即强度模型,在发光材料体上能够特别调制地运行初级光源。一个改进方案在于,发光设备是所谓的“飞点(Fly-Spot)”设备,其使用扫描的方法,并且在此能够通过改变、例如接通和关断和/或强度调制发光材料体上的至少一个初级光射束生成图像模型。一个改进方案在于,发光材料体借助于正好一个初级光射束能照亮或者照亮,这能够实现特别简单的结构。还有一个改进方案在于,发光材料体借助于多个不相交(disjunkt)的初级光射束能照亮或者照亮,这能够实现特别高的光通量。特别地,多个光射束是这样“不相交的”,即它们并不或并不总是在相同的位置射到发光材料体上。多个不相交的初级光射束也能够经由共同的偏转装置或者经由多个偏转装置引导。在此,初级光射束相互平行和/或不平行地取向。发光材料体的能由多个不相交的初级光射束分别照亮的“照明区域”能够是相同的。例如,发光材料体的确定的子区域能够通过多个初级光射束依次地、通常以一定的时间间隔地照亮。还有一个改进方案在于,属于多个不相交的初级光射束的照明区域是不同的。其能够重叠或者不重叠或者本身在局部是不相交的。在要整个面地显示的图像信息的意义上一次性完全照亮发光材料体所需要的持续时间能够被称为“图像建立持续时间”。其能够具有几百赫兹、例如250Hz的重复频率。在行式扫描发光材料体时,行的数量特别地能够到几百、例如300。利用250Hz的图像建立频率在行数为300时得到例如13微秒的每行图像建立时间。发光材料体具有至少一种发光材料,其对此适用于将投射的初级光至少部分地转变或转换为不同波长的次级光。在存在多种发光材料时能够生成波长相互不同的次级光和/或通过不同波长的初级光生成次级光。次级光的波长能够比初级光的波长长(所谓的“下转换”)或者短(所谓的“上转换”)。例如,蓝色的初级光能够借助于发光材料转变为绿色、黄色、橙色或者红色的次级光。在仅部分的波长转变或波长转换中由发光材料体发射由次级光(例如黄色)和未转变的初级光(例如蓝色)的混合物,其能够用作为有效光(例如白色)。发光材料体能够是(平的)发光材本文档来自技高网
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发光设备和照明方法

【技术保护点】
一种发光设备(1;11),其特征在于,所述发光设备具有:用于发射至少一个初级光射束(P)的至少一个半导体光源(2),用于使至少一个所述初级光射束偏转到发光材料体(4)上的各个所属的不同的位置上的偏转装置(3),用于探测由所述发光材料体(4)发射的光的至少一个光探测器(6),和评估装置(7),所述评估装置设置用于:(a)根据由所述至少一个光探测器(6)生成的至少一个测量信号(M)识别所述发光材料体(4)的损坏(C);(b)使至少一个所述测量信号(M)与所述发光材料体(4)上的至少一个位置相关联。

【技术特征摘要】
2015.05.21 DE 102015209340.91.一种发光设备(1;11),其特征在于,所述发光设备具有:用于发射至少一个初级光射束(P)的至少一个半导体光源(2),用于使至少一个所述初级光射束偏转到发光材料体(4)上的各个所属的不同的位置上的偏转装置(3),用于探测由所述发光材料体(4)发射的光的至少一个光探测器(6),和评估装置(7),所述评估装置设置用于:(a)根据由所述至少一个光探测器(6)生成的至少一个测量信号(M)识别所述发光材料体(4)的损坏(C);(b)使至少一个所述测量信号(M)与所述发光材料体(4)上的至少一个位置相关联。2.根据权利要求1所述的发光设备(1;11),其特征在于,步骤(a)和/或步骤(b)之后接着至少一个行为的激活。3.根据权利要求2所述的发光设备(1;11),其特征在于,所述至少一个行为包括执行至少一个所述发光材料体(4)的至少一次测试照明。4.根据权利要求3所述的发光设备,其特征在于,至少一个所述发光材料体(4)能通过至少两个不相交的初级光射束照射,并且所述至少一个行为包括为每个单独的初级光射束执行至少一个所述发光材料体(4)的至少一次测试照明。5.根据权利要求3至4中任一项所述的发光设备(1;11),其特征在于,所述发光设备(1;11)设置为在识别损坏(C)之后执行所述测试照明。6.根据权利要求3至5中任一项所述的发光设备(1;11),其特征在于,所述发光设备(1;11)设置...

【专利技术属性】
技术研发人员:托马斯·库赫勒奥斯卡·沙尔莫泽
申请(专利权)人:欧司朗有限公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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