一种频谱检测方法及系统技术方案
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及信号检测
，更具体的是一种频谱检测方法及系统。
技术介绍
现代无线通信技术的迅猛发展，以及不断增长的业务需求，造成无线通信系统的频谱资源短缺。大量的统计结果都表明：频谱资源短缺一方面是由于频谱资源的物理受限，另一方面是由于频谱资源的利用率过低。所以，提高频谱资源的利用率十分重要。提高频谱资源利用率常用的方法是：频谱检测。频谱检测的目的就是在时域、频域及空域下对信号进行检测，发现频谱空洞并加以利用，提高频谱利用效率。频谱检测是实现认知无线电技术的基础和前提，因为频谱检测的过程实质上就是对无线环境中是否存在可以利用的频谱空洞的检测。例如现有技术中公开了一种基于频域的信号检测方法，这种方法把接收信号进行下变频，变换到一定的中频信号，对中频信号进行采样，用基于快速傅里叶变换的巴特莱特法估计信号的功率谱密度函数，然后选取功率谱密度函数的最大值作为检测统计量，把该值的和与检测门限进行对比，如果小于检测门限，则信道内有发射信号，如果大于检测门限，则信道内无发射信号。这种信号检测方法对信道信息要求过高或者统计量简单，在低信噪比的情况下检测到发射信号的概率较低、检测性能较低。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种频谱检测方法及系统，以实现在低信噪比环境下提高待检测采样信号检测效率，更加准确的感知频谱中是否有可用资源。为达到上述的目的，本专利技术公开了一种频谱检测方法，包括：获取待检测采样信号的功率谱；获取所述功率谱的检测门限，其中，所述检测门限为检测所述待检测采样信号中有无发射信号的门限；获取所述功率谱的检测统计量；比较所述检测门限和所述检测统...
【技术保护点】
一种频谱检测方法，其特征在于，包括：获取待检测采样信号的功率谱；获取所述功率谱的检测门限，其中，所述检测门限为检测所述待检测采样信号中有无发射信号的门限；获取所述功率谱的检测统计量；比较所述检测门限和所述检测统计量，当所述检测统计量大于所述检测门限时，则确定所述待检测采样信号中含有所述发射信号，当所述检测统计量小于或等于所述检测门限时，则确定所述待检测采样信号中不含所述发射信号。
【技术特征摘要】
1.一种频谱检测方法，其特征在于，包括：获取待检测采样信号的功率谱；获取所述功率谱的检测门限，其中，所述检测门限为检测所述待检测采样信号中有无发射信号的门限；获取所述功率谱的检测统计量；比较所述检测门限和所述检测统计量，当所述检测统计量大于所述检测门限时，则确定所述待检测采样信号中含有所述发射信号，当所述检测统计量小于或等于所述检测门限时，则确定所述待检测采样信号中不含所述发射信号。2.根据权利要求1所述的频谱检测方法，其特征在于，所述获取待检测采样信号的功率谱，包括：获取待检测采样信号；获取所述待检测采样信号检测模型；对所述待检测采样信号检测模型进行离散傅里叶快速变换，得到变换结果；从所述变换结果中获取所述待检测采样信号的功率谱。3.根据权利要求2所述的频谱检测方法，其特征在于，所述待检测采样信号检测模型为： H 0 : r ( n ) = w ( n ) H 1 : r ( n ) = s ( n ) + w ( n ) ]]>其中，H0为所述待检测采样信号中不包含所述发射信号的情况，H1为所述待检测采样信号中包含所述发射信号的情况，r(n)为所述待检测采样信号函数，s(n)为所述待检测采样信号中的所述发射信号函数，w(n)为高斯白噪声函数；所述变换结果为： H 0 : R ( k ) = W ( k ) H 1 : R ( k ) = S ( k ) + W ( k ) ]]>其中，R(k)为所述待检测采样信号离散傅里叶快速变换后的函数，S(k)为所述发射信号离散傅里叶快速变换后的函数，W(k)为所述高斯白噪声离散傅里叶快速变换后的函数；所述待检测采样信号的功率谱为： H 0 : P ( k ) = | W ( k ) | 2 / N H 1 : P ( ...
【专利技术属性】
技术研发人员：许文俊，吴翠云，周雪梅，段皓，
申请(专利权)人：北京邮电大学，
类型：发明
国别省市：北京;11
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