半导体器件阵列的参数确定方法和装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路设计领域，并且特别地，涉及一种半导体器件阵列的参数确定方法和装置。
技术介绍
在电路布局(例如，SRAM存储器阵列)中，其主要构成包括晶体管以及诸如电阻器、电容器、电感器的外围器件。在日常应用中，为了确定电路布局的性能，需要确定电路布局中电路器件的参数，例如，需要确定电路布局的电阻值、电容值等。通常情况下，例如，如果需要确定电路布局中的电容值和/或电阻值，需要从整个电路布局中确定关键路径布局，并从关键路径布局中提取电容器和/或电阻器，并且在提取后需要修改网路列表(netlist)将与关键路径无关的器件删除，之后根据网路列表以核对关键路径定时。实际上，除了上述电容器和电阻器之外，当确定某类器件的参数时，都需要进行复杂的电路分析和提取，速度慢且工作量很大。针对相关技术中在确定电路布局中电路器件参数时效率低、工作量大的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
针对相关技术中在确定电路布局中电路器件参数时效率低、工作量大的问题，本专利技术提出一种电路布局中器件参数的确定方法和装置，能够减少确定器件参数的工作量，并且减少所占用的时间。为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种半导体器件阵列的参数确定方法。根据本专利技术的半导体器件阵列的参数确定方法包括：获取对多个规模的阵列的物理参数进行采样后得到的采样结果；对于每个规模的阵列，根据该阵列的采样结果和该阵列的规模确定用于表示该阵列的采样结果与规模之间关系的关系参数；对多个规模的阵列的关系参数进行调整，得到适应多个规模的阵列关系参数作为全局关系参数。并且，该方法可以进一步包括：对于需...
【技术保护点】
一种半导体器件阵列的参数确定方法，其特征在于，包括：获取对多个规模的阵列的物理参数进行采样后得到的采样结果；对于每个规模的阵列，根据该阵列的采样结果和该阵列的规模确定用于表示该阵列的采样结果与规模之间关系的关系参数；对所述多个规模的阵列的关系参数进行调整，得到适应所述多个规模的阵列关系参数作为全局关系参数。
【技术特征摘要】
1.一种半导体器件阵列的参数确定方法，其特征在于，包括：获取对多个规模的阵列的物理参数进行采样后得到的采样结果；对于每个规模的阵列，根据该阵列的采样结果和该阵列的规模确定用于表示该阵列的采样结果与规模之间关系的关系参数；对所述多个规模的阵列的关系参数进行调整，得到适应所述多个规模的阵列关系参数作为全局关系参数。2.根据权利要求1所述的参数确定方法，其特征在于，进一步包括：对于需要确定物理参数的阵列，根据该阵列的规模以及所述全局关系参数，确定该阵列的物理参数。3.根据权利要求1所述的参数确定方法，其特征在于，进一步包括：对于所述多个规模的阵列，根据每个阵列中包含的共性部分和特征部分确定全局单元，其中，所述全局单元用于对所有规模的阵列中的所有单元进行统一表示。4.根据权利要求1所述的参数确定方法，其特征在于，每个阵列的关系参数通过系数矩阵来表示。5.根据权利要求4所述的参数确定方法，其特征在于，通过以下公式来表示每个阵列的采样结果与该阵列的规模之间的关系： r 1 w 1 l 1 p 1 r 2 w 2 l 2 p 2 · · · · · · · · · · · · r n w n l n p n 1 x y xy = c 1 c 2 · · · c n ; ]]>其中，x和y用于表示一阵列的规模，c1至cn为对该阵列采样得到的物理参数，r1至rn、w1至wn、l1至ln、p1至pn为系数矩阵中的元素，其中，对于每个阵列，该阵列的系数矩阵中的元素基于针对该阵列采样得到的物理参数以及该阵列的规模确定得到。6.根据权利要求4所述的参数确定方法，其特征在于，对所述多个规模的阵列的关系参数进行调整包括：...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙霖，陆婷婷，姜炜阳，朱峰，胡志中，黄慕真，
申请(专利权)人：台湾积体电路制造股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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