存储装置寿命的检测方法及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种存储装置寿命的检测方法及电子设备，其中，该方法包括：根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内；若在所述阈值范围内，则提醒用户进行数据备份。本发明专利技术实施例提供的存储装置寿命的检测方法及电子设备，能够对存储装置的寿命做出较准确的评判，降低存储装置的使用风险。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及存储装置检测
，尤其涉及一种存储装置寿命的检测方法及电子设备。
技术介绍
随着科技的发展，手机的容量在不断扩大，由原先功能机的若干MB空间容量，发展到现在的128GB、甚至更大的空间。究其原因，主要是存储器的技术发展，实现了容量的增加，但是在容量增加的同时，为了控制成本，其制造工艺在一定程度上也发生了变化。例如嵌入式多媒体卡eMMC存储器由原来的单层式储存SLC逐渐发展为多层式储存MLC、最终采用了当前逐步流行的三重式储存TLC。在工艺变化的同时，存储器的性能和寿命方面也发生了变化。如SLC的平均擦写次数为10万次；MLC的平均擦写次数为3000-10000次；TLC的平均擦写次数为500次；在经过对应次数的擦写之后，存储器的寿命将会终结。目前，市场上存储器的种类繁多，质量参差不齐，如何获得对存储器寿命的准确评估，对于消费者来说具有重要意义。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种存储装置寿命的检测方法及电子设备，用以对存储装置的寿命做出较准确的评判，降低存储装置的使用风险。本专利技术实施例第一方面提供一种存储装置寿命的检测方法，该方法包括：根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内；若在所述阈值范围内，则提醒用户进行数据备份。本专利技术实施例第二方面提供一种电子设备，该电子设备包括：第一获取模块，用于根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；确定模块，用于确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内；提醒模块，用于当所述寿命百分比在所述阈值范围内时，提醒用户进行数据备份。本专利技术实施例第三方面提供一种电子设备，该电子设备，包括：处理器；用于存储所述处理器的可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为：根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内；若在所述阈值范围内，则提醒用户进行数据备份。本专利技术实施例，通过获取存储装置内存储的寿命百分比，确定寿命百分比与预设阈值范围之间的大小关系，实现了对存储装置寿命的准确评判，降低了存储装置的使用风险。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例一提供的存储装置寿命的检测方法的流程示意图；图2为本专利技术实施例二提供的存储装置寿命的检测方法的流程示意图；图3为本专利技术实施例三提供的电子设备的结构示意图；图4为本专利技术实施例四提供的电子设备的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的说明书和权利要求书的术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤的过程或结构的装置不必限于清楚地列出的那些结构或步骤而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程或装置固有的其它步骤或结构。图1为本专利技术实施例一提供的存储装置寿命的检测方法的流程示意图，该方法可以由一电子设备来执行。如图1所示，本实施例提供的方法包括如下步骤：步骤S101、根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比。本实施例中，存储装置可以是诸如eMMC等具有一定空间容量，具有存储功能的装置。以eMMC存储器为例，由于在eMMC存储器中EXT_CSD寄存器是用于存储存储器的寿命百分比的装置，据此，本示例中可以预设指令向eMMC存储器发送寿命百分比查询请求，以使eMMC存储器在接收到该请求后返回其EXT_CSD寄存器中存储的寿命百分比的值。其中，上述涉及的预设指令为本领域技术人员根据需要预先设定并存储在电子设备中的能够同时被存储器和电子设备识别的指令。该指令的形式和内容本实施例中不做限定。进一步需要说明的是：为了实现对存储装置寿命的监控，本实施例中，存储装置的寿命百分比的获取行为是周期性的，至于周期长度的大小本实施例中不做限定。步骤S102、确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内，若在所述阈值范围内，则提醒用户进行数据备份。本实施例中涉及的阈值范围为本领域技术人员根据需要设定的，该阈值范围用来判断存储装置的寿命是否处于危险状态，例如当存储装置的寿命在阈值范围内时，则判断为存储装置的寿命处于危险状态，该状态下存储装置可能存在数据丢失、崩溃等危险，此时，终端设备应提醒用户进行数据备份，从而避免数据丢失的风险。本专利技术实施例，通过获取存储装置内存储的寿命百分比，确定寿命百分比与预设阈值范围之间的大小关系，实现了对存储装置寿命的准确评判，降低了存储装置的使用风险。图2为本专利技术实施例二提供的存储装置寿命的检测方法的流程示意图，如图2所示，本实施例在图1所示实施例的基础上，包括以下步骤：步骤S201、根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比。步骤S201的执行方式和有益效果已在图1所示实施例中详细叙述，在这里不再赘述。步骤S202、确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内，若在所述阈值范围内，则提醒用户进行数据备份，根据预设的第二时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；若小于所述阈值范围的最小值，则返回步骤S201，若大于所述阈值范围的最大值，则锁定所述存储装置，并在数据备份后解锁。举例来说，假设预设的阈值范围为[80％,95％]，则当存储装置的寿命百分比的值在[80％,95％]的范围内时，提醒用户进行数据备份，当存储装置的寿命百分比的值小于80％时，则不提醒用户，并返回步骤S201。当当存储装置的寿命百分比的值大于95％时，则锁定存储装置，提醒用户进行数据备份，并在完成数据备份后，对存储装置进行解锁。进一步的，考虑到当确定存储装置的寿命百分比的值在预设的阈值范围内时，此时存储装置的寿命已处于不健康的状态，为了更好的对存储装置进行监测，避免存储装置因寿命到期而导致的数据丢失，可选的，本实施例中，在确定存储装置的寿命百分比的值在预设的阈值范围内后，可以将寿命百分比的获取周期由第一时间周期改为第二时间周期，其中第二时间周期小于第一时间周期。从而通过增加检测频率的方式，降低存储装置的使用风险。本专利技术实施例，通过获取存储装置内存储的寿命百分比，确定寿命百分比与预设阈值范围之间的大小关系，实现了对存储装置寿命的准确评判，降低了存储装置的使用风险。图3为本专利技术实施例三提供的电子设备的结构示意图，如图3所示，该电子设备包括以下模块：第一获取模块11，用于根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；确定模块12，用于确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内；提醒模块13，用于当所述寿命百分比在所述阈值范围内时，提醒用户进行数据备份。本实施例提供的电子设备能够执行图1所示实施例的方法，其执行方式和有益效果类似，在这里不再赘述。图4为本专利技术实施例四提供的电子设备的结构示意图，如图4所示本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储装置寿命的检测方法，其特征在于，包括：根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内；若在所述阈值范围内，则提醒用户进行数据备份。

【技术特征摘要】
1.一种存储装置寿命的检测方法，其特征在于，包括：根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内；若在所述阈值范围内，则提醒用户进行数据备份。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：若所述寿命百分比小于所述阈值范围的最小值，则执行所述根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比的步骤。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：若所述寿命百分比大于所述阈值范围的最大值，则锁定所述存储装置，并在数据备份后解锁。4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，若所述寿命百分比在所述阈值范围内，则所述方法还包括：根据预设的第二时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比，并执行所述确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内的步骤。5.一种电子设备，其特征在于，包括：第一获取模块，用于根据预设的第一时间周期，获取所述存储装置的寿命百分比；确定模块，用于确定所述寿命百分比是否在预设的阈值范围内；提醒模块，用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱绪东，
申请(专利权)人：青岛海信移动通信技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37