基于液晶缺陷研究的显微镜电冷热台及其控制方法技术
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及自动化控制
，尤其是涉及一种基于液晶缺陷研究的显微镜电冷热台及其控制方法。
技术介绍
显微镜冷热台是一种放置于显微镜载物台上，能够实现对待观察样品进行精确加热或者制冷的设备，常用于材料、生物等研究领域。目前市场上可见的冷热台大部分只能进行单向加热，且精度普遍不高。还有的冷热台为了追求很宽的加热制冷范围，使用液氮来降温，虽然可实现升/降温，但结构复杂，成本很高。除此以外，冷热台性能单一，只能控制外部温度场的变化，使用过程中如需施加电、磁场等其他场的作用就必须将冷热台取下，重新调整样品，因此无法进行多场耦合作用下样品的观察。在研究液晶微流动的过程中，需要的温度调节范围不大，但需要精确控温，同时大多时候需要观察多场耦合状态下液晶的微流动，而市场上现有冷热台无法满足这些要求。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的是针对现有技术的不足，提供一种基于液晶缺陷研究的显微镜电冷热台及其控制方法，用以实现温度的精确控制，结构简单、操作方便、成本低。为达到上述目的，本专利技术采用以下技术方案：一种基于液晶缺陷研究的显微镜电冷热台，其中，包括电冷热台台体、温度控制...
【技术保护点】
一种基于液晶缺陷研究的显微镜电冷热台，其特征在于：包括电冷热台台体、温度控制器、冷却循环泵、任意波形发生器和电源，所述温度控制器、冷却循环泵、任意波形发生器均与所述电冷热台台体连接；所述电冷热台台体包括上盖、支撑部（201）、半导体制冷片（402）、温度传感器（401）和底座，所述支撑部设置在上盖与底座之间；所述上盖包括圆形底面（103），所述圆形底面（103）的圆周方向设置第一侧壁（101），所述圆形底面（103）中部设置第二侧壁（102）和透光孔（104），所述透光孔（104）的内径小于第二侧壁（102）的内径；所述支撑部（201）为圆环形，所述支撑部（201）上设置有...
【技术特征摘要】
1.一种基于液晶缺陷研究的显微镜电冷热台，其特征在于：包括电冷热台台体、温度控制器、冷却循环泵、任意波形发生器和电源，所述温度控制器、冷却循环泵、任意波形发生器均与所述电冷热台台体连接；所述电冷热台台体包括上盖、支撑部（201）、半导体制冷片（402）、温度传感器（401）和底座，所述支撑部设置在上盖与底座之间；所述上盖包括圆形底面（103），所述圆形底面（103）的圆周方向设置第一侧壁（101），所述圆形底面（103）中部设置第二侧壁（102）和透光孔（104），所述透光孔（104）的内径小于第二侧壁（102）的内径；所述支撑部（201）为圆环形，所述支撑部（201）上设置有线槽（202）；所述底座包括圆形底部，所述圆形底部上设置有中空结构的圆锥台体（305）、观察孔（1）、第三侧壁（301）和第四侧壁（303），所述第三侧壁（301）设置在圆形底部的圆周方向，所述第三侧壁（301）和第四侧壁（303）均为圆筒状，所述第四侧壁（303）的内径小于所述第三侧壁（301），所述底座上设置有进水口（310）、出水口（309）和出线口（306），所述第四侧壁（303）和圆锥台体（305）之间的圆形底部上设置隔板（308），所述第四侧壁（303）和圆锥台体（305）之间形成水槽（307），所述圆锥台体（305）设置在圆形底部的中部，所述观察孔（1）与所述圆锥台体（305）的孔相连通；所述半导体制冷片（402）为圆环形，所述半导体制冷片（402）设置在圆锥台体（305）的上表面（304）上；所述半导体制冷片（402）的外圆周与支撑部（201）的内圆周之间设置密封层，所述支撑部（201）与所述水槽（307）之间密封；所述支撑部（201）的下表面与所述半导体制冷片（402）位于同一水平面。2.根据权利要求1所述的一种基于液晶缺陷研究的显微镜电冷热台，其特征在于：所述电源包括5V/1.5A的第一电源、12V/3A的第二电源和16V/6A的第三电源。3.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：邓鹏辉，董超帝，陈雅福，
申请(专利权)人：河南工业大学，
类型：发明
国别省市：河南;41
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