面板修补方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种面板修补方法及装置，所述方法包括：获取面板的图像信息；将所述面板的图像信息转化为几何模拟图；将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域；获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值；根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。本发明专利技术将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测出缺陷，有效地提高了缺陷检测的效率；在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺陷进行修补，提高了修补的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及面板领域，特别是涉及一种面板修补方法及装置。
技术介绍
通常在面板的生产过程中，通常会采用构图工艺在面板上形成不同的图形，如果这些图形存在缺陷，会导致面板漏光或者其它问题，从而影响面板的显示品质。为此，需要对缺陷图形进行修补。在面板行业中，采用修补设备对存在缺陷的面板产品进行修补是挽救产品良率的有效途径。在实际使用修补设备的过程中，上游设备传递过来的缺陷坐标信息与修补设备的坐标系通常存在一定偏差，常规的修补方案通常是通过作业人员人工检验后才能找到需要实施修补的缺陷，效率较低，而且修补时还需要人工参与修补，修补的准确性低。因此，在面板行业中，修补设备的修补成功率及产能是影响修补效率的关键因素。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种面板修补方法及装置，提高修补效率和修补的准确性。一种面板修补方法，所述方法包括：获取面板的图像信息；将所述面板的图像信息转化为几何模拟图；将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域；获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值；根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。以上所述面板修补方法将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测出缺陷，有效地提高了缺陷检测的效率；在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺陷进行修补，提高了修补的准确性。在其中一个实施例中，将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域的步骤包括：从预存的几何模拟图中检测出与所述转化的几何模拟图相匹配的几何模拟图；获取所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形；获取所述转化的几何模拟图中与所述特征对比图形相对应的对比图形区域；将获取的所述转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。在其中一个实施例中，获取的所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形包括拐角、圆。在其中一个实施例中，所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心包括几何中心点或重力中心点。在其中一个实施例中，获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值的步骤包括：在所述转化的几何模拟图中建立二维坐标系；分别获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建立的所述二维坐标系下的横向和纵向偏移值；根据所述横向和纵向偏移值获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建立的所述二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差；根据所述横向偏移差和纵向偏移差获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值。在其中一个实施例中，根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正包括：根据所述偏移值将所述缺陷区域向所述转化的几何模拟图的中心方向移动。一种面板修补装置，所述装置包括：图像获取模块，用于获取面板的图像信息；转化模块，用于将所述面板的图像信息转化为几何模拟图；拟合模块，用于将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域；偏移获取模块，用于获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值；校正模块，用于根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。以上所述面板修补装置将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测出缺陷，有效地提高了缺陷检测的效率；在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺陷进行修补，提高了修补的准确性。在其中一个实施例中，所述拟合模块包括：检测单元，用于从预存的几何模拟图中检测出与所述转化的几何模拟图相匹配的几何模拟图；图形一单元，用于获取所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形；图形二单元，用于获取所述转化的几何模拟图中与所述特征对比图形相对应的对比图形区域；对比单元，用于将获取的所述转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。在其中一个实施例中，所述偏移获取模块包括：坐标单元，用于在所述转化的几何模拟图中建立二维坐标系；获取一单元，用于分别获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建立的所述二维坐标系下的横向和纵向偏移值；获取二单元，用于根据所述横向和纵向偏移值获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建立的所述二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差；获取三单元，用于根据所述横向偏移差和纵向偏移差获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值。在其中一个实施例中，所述校正模块还用于根据所述偏移值将所述缺陷区域向所述转化的几何模拟图的中心方向移动。附图说明图1为一实施例的面板修补方法的流程示意图；图2为图1中步骤S130的流程示意图；图3为图1中步骤S140的流程示意图；图4为一实施例的面板修补装置的结构示意图；图5为图4中拟合模块130的结构示意图；图6为图4中偏移获取模块140的结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图1所示，一实施例的面板修补方法包括步骤S110至步骤S150。步骤S110，获取面板的图像信息；步骤S120，将面板的图像信息转化为几何模拟图；步骤S130，将转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从转化的几何模拟图中检测出缺陷区域；步骤S140，获取缺陷区域的中心与转化的几何模拟图的中心的偏移值；步骤S150，根据偏移值对缺陷区域进行位置校正。以上面板修补方法将图像转化为几何模拟图，并进行几何模拟图的拟合检测出缺陷，有效地提高了缺陷检测的效率；在检测出缺陷后，计算出偏移值并通过偏移值对缺陷区域进行位置校正，进而实现对缺陷区域的修补，提高了修补的准确性。步骤S110中，通过普通摄像设备可以获取面板的图像信息，如照相机、手机具有照相功能的设备。本实施例中，由于需要通过步骤S120将图像信息转化为几何模拟图，因此，图像信息是完整的信息，即摄像设备在获取图像信息时，面板的整个形状必须在摄像设备成像装置的视野内，包括通过构图工艺在面板上形成的图形，如拐角、圆等特征图形。通过步骤S120可以将图像信息转化为几何模拟图，本实施例中，为符合具体的实际应用，本实施例采用特征模拟的方式进行模拟，具体的，通过对面板上的拐角、圆等特征图形的模拟，可以快速、准确的模拟出对应的几何模拟图。如图2所示，步骤S130包括步骤S131至步骤S134。步骤S131，从预存的几何模拟图中检测出与转化的几何模拟图相匹配的几何模拟图；步骤S132，获取预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形；步骤S133，获取转化的几何模拟图中与特征对比图形相对应的对比图形区域；步骤S134，将获取的转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。在实际面板生产中，通常面板的形状均是定型的，因此，本实施例中，可以将生产中常用的面板的几何模拟图以标准模板进行存储。具体的，在本实施例中，在存储常用面板的几何模拟图时，其包括一些显著的特征对比图形，如拐角、圆等特征本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种面板修补方法，其特征在于，所述方法包括：获取面板的图像信息；将所述面板的图像信息转化为几何模拟图；将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域；获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值；根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。

【技术特征摘要】
1.一种面板修补方法，其特征在于，所述方法包括：获取面板的图像信息；将所述面板的图像信息转化为几何模拟图；将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域；获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值；根据所述偏移值对所述缺陷区域进行位置校正。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述转化的几何模拟图与预存的几何模拟图进行拟合，从所述转化的几何模拟图中检测出缺陷区域的步骤包括：从预存的几何模拟图中检测出与所述转化的几何模拟图相匹配的几何模拟图；获取所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形；获取所述转化的几何模拟图中与所述特征对比图形相对应的对比图形区域；将获取的所述转化的几何模拟图中的对比图形区域与获取的所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形进行对比，检测出存在缺陷的对比图形区域。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，获取的所述预存的相匹配的几何模拟图的特征对比图形包括拐角、圆。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心包括几何中心点或重力中心点。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值的步骤包括：在所述转化的几何模拟图中建立二维坐标系；分别获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建立的所述二维坐标系下的横向和纵向偏移值；根据所述横向和纵向偏移值获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心在建立的所述二维坐标系下的横向偏移差和纵向偏移差；根据所述横向偏移差和纵向偏移差获取所述缺陷区域的中心与所述转化的几何模拟图的中心的偏移值。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述偏移值对所述缺陷...

【专利技术属性】
技术研发人员：施文峰，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32